电路特性测定系统及电路特性测定方法技术方案

本发明专利技术的电路特性测定系统1包括：信号电压发生电路2，对测定对象的被测定电路51依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及基准频率的整数倍的频率；测定电路3，依序测定因对被测定电路51依序施加所述周期电压信号而在被测定电路51中产生的信号的功率；以及传递函数算出部42，使用预先设定的数式、根据由测定电路3测定出的多个功率来算出被测定电路51的传递函数H、H2，所述周期电压信号包含高阶频率分量。所述周期电压信号包含高阶频率分量。所述周期电压信号包含高阶频率分量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电路特性测定系统及电路特性测定方法


[0001]本专利技术涉及一种测定电路的特性的电路特性测定系统及电路特性测定方法。

技术介绍

[0002]一直以来都有测定片上电源节点的电源阻抗的方法(例如参照非专利文献1)。根据非专利文献1，使用电流源而通过灌吸(sink)从电流源向电源节点流通矩形波电流，测定电源节点上的实效功率，根据所述实效功率，可以测定电源节点的电源阻抗。
[0003]现有技术文献
[0004]非专利文献
[0005]非专利文献1：一种片上电源阻抗分析技术，2015年美国电气电子工程师协会第24届亚洲测试研讨会，Masahiro Ishida、Toru Nakura、Akira Matsukawa、Rimon Ikeno和Kunihiro Asada(A Technique for Analyzing On
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chip Power Supply Impedance,2015IEEE 24th Asian Test Symposium,Masahiro Ishida,Toru Nakura,Akira Matsukawa,Rimon Ikeno,and Kunihiro Asada)

技术实现思路

[0006]另外，在非专利文献1中，需要能够流通矩形波电流的电流源电路。然而，进行流通矩形波电流的电流控制的电流源电路的实现并不容易，即便实现，价格也高昂。
[0007]本专利技术的目的在于提供一种无须使用进行流通矩形波电流的电流控制的电流源电路即可测定被测定电路的特性的电路特性测定系统及电路特性测定方法。
[0008]本专利技术的一例的电路特性测定系统包括：信号电压发生电路，对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率；测定电路，依序测定因对所述被测定电路依序施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率；以及传递函数算出部，使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的功率来算出所述被测定电路的传递函数，所述周期电压信号包含高阶频率分量。
[0009]另外，本专利技术的一例的电路特性测定方法包括：信号电压施加工序，对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率；测定工序，分别测定因对所述被测定电路施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率；以及传递函数算出工序，使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的多个功率来算出所述被测定电路的传递函数，所述周期电压信号包含高阶频率分量。
附图说明
[0010]图1为表示使用本专利技术的一实施方式的电路特性测定方法的电路特性测定系统的结构的一例的框图。
[0011]图2为表示电路特性测定系统1的动作的一例的流程图。
[0012]图3为用于说明传递函数的测定有关的电路部分的特性的测定方法的说明图。
[0013]图4为表示从信号电压发生电路2a输出的周期电压信号的一例的波形图。
[0014]图5为表示传递函数的测定有关的电路部分的特性的测定方法的一例的流程图。
[0015]图6为表示使用不同于矩形波的周期电压信号的电路特性测定系统1a的动作的一例的流程图。
[0016]图7为表示对称的波形的周期电压信号的一例的波形图。
[0017]图8为表示使用对称的波形的周期电压信号的电路特性测定系统1b的动作的一例的流程图。
[0018]图9为表示理想的梯形波形的一例的波形图。
具体实施方式
[0019]以下，根据附图对本专利技术的实施方式进行说明。再者，各图中标有同一符号的结构表示为同一结构，省略其说明。图1所示的电路特性测定系统1包括信号电压发生电路2、测定电路3、控制部4、信号输出用的多个探头Po以及信号测定用的多个探头Pi。
[0020]例如一块基板5上形成有多个测定对象的被测定电路51。被测定电路51例如只要是滤波电路、电路基板、传输路径、其他具有电特性的电路即可。各被测定电路51包括端子T1、T2。
[0021]关于多个被测定电路51，可在集合基板形式的一块基板5上汇集多个相同电路，也可在1块基板5上形成互不相同的被测定电路51。另外，多个被测定电路51不限于形成于一块基板5上的例子，也可各自独立。
[0022]信号电压发生电路2根据来自控制部4的控制信号对测定对象的被测定电路51依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及基准频率的m倍(m为整数)的频率。信号电压发生电路2包括振荡电路21和时钟缓冲器22。各周期电压信号是包含各自的基波的频率分量和基波的2以上的整数倍的频率分量即高阶频率分量的信号。
[0023]振荡电路21将与来自控制部4的控制信号相应的频率的周期电压信号输出至时钟缓冲器22。作为振荡电路21，例如可以使用压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator，VCO)。再者，也可对振荡电路21组合分频电路等来扩大频率的变动范围。
[0024]时钟缓冲器22是将从振荡电路21输出的周期电压信号整形为矩形波而分配、输出至多个探头Po的信号输出电路。由此，得以从信号电压发生电路2输出矩形波的周期电压信号。
[0025]在进行测定时，各探头Po接触各被测定电路51的端子T1加以使用，各探头Pi接触各被测定电路51的端子T2加以使用。由此，从时钟缓冲器22分配输出的周期电压信号经由各探头Po施加至各被测定电路51的端子T1，并透过各被测定电路51而输出至端子T2。
[0026]测定电路3依序测定因根据来自控制部4的控制信号对被测定电路51依序施加周期电压信号而在被测定电路51中产生的信号的功率。作为测定电路3，例如可以使用亚德诺半导体(Analog Devices)公司制造的均方根(Root Mean Square，RMS)功率检测器LTC5596、亚德诺半导体公司制造的ADL5904等能够测定RMS功率的各种通用集成电路
(Integrated Circuit，IC)。
[0027]设置从时钟缓冲器22分配输出的周期电压信号的数量也就是与探头Po相同数量的测定电路3及探头Pi。
[0028]各测定电路3经由各探头Pi从各被测定电路51的端子T2获取信号，测定其实效值功率。各测定电路3将表示测定出的实效值功率的信号输出至控制部4。
[0029]通过包括时钟缓冲器22和多个测定电路3，电路特性测定系统1能够并行测定多个被测定电路51的特性。由此，可以缩短测定时间。再者，电路特性测定系统1并非必须包括时钟缓冲器22和多个测定电路3。也可为如下结构：包括向矩形波作波形整形的缓冲电路代替时钟缓冲器22，测定电路3设为一个，逐一测定被测定电路51的特性。
[0030]控制部4例如是包括中央处理器(Central Processing Unit，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电路特性测定系统，包括：信号电压发生电路，对测定对象的被测定电路依序施加多个周期电压信号，所述多个周期电压信号分别具有规定的基准频率以及所述基准频率的整数倍的频率；测定电路，依序测定因对所述被测定电路依序施加所述周期电压信号而在所述被测定电路中产生的信号的功率；以及传递函数算出部，使用预先设定的数式、根据由所述测定电路测定出的功率来算出所述被测定电路的传递函数，所述周期电压信号包含高阶频率分量。2.根据权利要求1所述的电路特性测定系统，其中，所述周期电压信号为矩形波，在将所述基准频率设为f0时，所述多个周期电压信号的频率为所述基准频率f0的奇数倍。3.根据权利要求2所述的电路特性测定系统，其中，在将所述周期电压信号的频率设为f0、3f0、5f0、
···
并将所述周期电压信号的功率设为A的情况下，所述传递函数算出部通过进行由所述数式即下述式(1)所示的运算来算出所述被测定电路的传递函数H2(f0)、H2(3f0)、H2(5f0)、
···
，[数式1][数式1]4.根据权利要求1所述的电路特性测定系统，其中，将作为所述基准频率的频率设为mf0(m＝1)，将所述整数倍的频率设为mf0(m为2以上的整数)，进而包括预先存储基波及其高次谐波的功率A
(mn)m
(n为高次谐波的次数：n＝1、2、3、
···
)的存储部，所述传递函数算出部根据所述存储部中存储的功率A
(mn)m
来进行所述数式即下述式(2)所示的运算，由此算出所述被测定电路的传递函数H2(mf0)(m＝1、2、3、
···
)，所述存储部中存储的功率A
(mn)m
(n＝1、2、3、
···
)是所述频率mf0(m＝1、2、3、
···
)的所述周期电压信号从所述信号电压发生电路在不经由所述被测定电路的情况下施加到...

【专利技术属性】
技术研发人员：名仓彻，鸙野俊寿，山下宗寛，吉泽正充，
申请(专利权)人：日本电产理德股份有限公司野田网印株式会社，
类型：发明
国别省市：