【技术实现步骤摘要】
一种外延片、外延片制备方法以及发光二极管
[0001]本专利技术涉及半导体
,特别涉及一种外延片、外延片制备方法以及发光二极管。
技术介绍
[0002]过去十年中,AlGaN材料因其在紫外光电器件中的巨大应用潜力而备受关注,紫外LED具有光子能量高、波长短、体积小、功耗低、寿命长、环境友好等特点,在高显色指数白光照明、高密度光学数据储存、传感器、平版印刷、空气净化环保等领域具有广泛的应用。
[0003]然而,AlGaN基紫外LED的研制面临的许多的技术困难,如电子本身有效质量较小,具有较高的迁移率,导致电子很多容易通过量子阱而溢出到P层;并且随着Al组分的增加,容易导致外延生长的AlGaN薄膜缺陷密度高、表面不平整等问题,难以获得高晶体质量的AlGaN材料,且高Al组分的AlGaN材料不论是n型掺杂还是p型掺杂,相比GaN材料而言,AlGaN材料都是要困难的多,尤其是p
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AlGaN的掺杂尤为棘手,掺杂剂Mg的活化效率低,导致空穴不足,辐射复合效率降低;另外,AlGaN基紫外LED内量子效率相 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种外延片,包括衬底,其特征在于,还包括依次层叠于所述衬底上的多量子阱层、复合过渡层以及AlGaN电子阻挡层;其中,所述复合过渡层包括依次层叠于所述多量子阱层上的N型掺杂AlGaN子层、无掺杂AlGaN子层以及P型掺杂AlGaN子层,所述N型掺杂AlGaN子层的掺杂剂为Si,且Si掺杂浓度为1*10
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/cm3~1*10
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/cm3,所述N型掺杂AlGaN子层的Si掺杂浓度由靠近所述多量子阱层一端向另一端逐渐降低。2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述P型掺杂AlGaN子层的掺杂剂为Mg,且Mg掺杂浓度为1*10
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/cm3~1*10
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/cm3。3.根据权利要求2所述的外延片,其特征在于,所述P型掺杂AlGaN子层的Mg掺杂浓度由靠近所述无掺杂AlGaN子层一端向另一端逐渐升高。4.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述复合过渡层中Al组分含量与所述AlGaN电子阻挡层中Al组分含量相同。5.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述复合过渡层的厚度为10nm~13nm,其中,所述N型掺杂AlGaN子...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘春杨,胡加辉,吕蒙普,金从龙,
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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