【技术实现步骤摘要】
长波长LED同质外延结构、其制备方法及应用
[0001]本申请涉及一种半导体发光结构,具体涉及一种长波长LED同质外延结构、其制备方法及应用,属于半导体
技术介绍
[0002]目前,Micro
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LED在显示
有许多问题亟待解决,如更小尺寸的Micro
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LED器件对其制备的工艺、设备要求更高,以及实现全彩显示和巨量转移等技术难题。其中,实现全彩显示,特别是高发光效率的GaN基红光Micro
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LED对该
具有重要的意义。
[0003]当前显示使用均为AlInGaP基红光Mini
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LED,虽然发光效率略高,但是当尺寸进一步减小时,表面复合加剧,效率将大幅下降。并且,AlInGaP材料存在脆弱易碎、转移难度大等问题。相比较而言,氮化物半导体LED的表面复合速度低,且同为蓝、绿光的InGaN材料坚实稳定,又因同一材料而降低了转移难度,所以红光GaN基Micro
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LED在该方面具有独特的优势。但是,GaN基红 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种长波长LED同质外延结构,其特征在于,包括:第一导电类型的GaN单晶衬底,缓冲层,设置在所述衬底上,并包含多孔、多晶和非晶结构中的至少一种,弛豫层,设置在所述缓冲层上,应力释放层,设置在所述弛豫层上,多量子阱发光层,包含In组分含量≥25at.%的InGaN量子阱,以及第二导电类型的半导体层,设置在所述多量子阱发光层上。2.根据权利要求1所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述缓冲层包括依次设置在所述衬底上的多孔结构层、第一InGaN层和第一GaN层,所述多孔结构层所含孔洞的孔径为10nm
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100nm、孔隙率为10%
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30%;或者,所述缓冲层包括依次设置在所述衬底上的多晶材料层、第一InGaN层和第一GaN层;或者,所述缓冲层包括依次设置在所述衬底上的非晶材料层、第一InGaN层和第一GaN层。3.根据权利要求2所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述多孔结构层的材质包括SiN;所述多晶材料层、非晶材料层的材质包括GaN、InN或AlN。4.根据权利要求1所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述弛豫层包括第二InGaN层或第一InGaN/GaN超晶格结构,和/或,所述应力释放层包括第三InGaN层或第二InGaN/GaN超晶格结构。5.根据权利要求4所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述第一InGaN/GaN超晶格结构中InGaN层的厚度为GaN层的厚度的5
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10倍,所述第二InGaN/GaN超晶格结构中GaN层的厚度是InGaN层的厚度的10
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50倍。6.根据权利要求1所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述缓冲层的厚度为1nm
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30nm;和/或,所述弛豫层的厚度为50nm
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150nm;和/或,所述应力释放层的厚度为100nm
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200nm。7.根据权利要求1所述的长波长LED同质外延结构,其特征在于,所述第二导电类型的半导体层的材质包括GaN;和/或,所述InGaN量子阱的In组分含量为25at.%
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35at.%。8.权利要求1
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7中任一项所述长波长LED同质外延结构的制备方法,其特征在于,包括:在第一导电...
【专利技术属性】
技术研发人员:王国斌,闫其昂,刘宗亮,
申请(专利权)人:江苏第三代半导体研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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