晶体表面检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种晶体表面检测装置，包括：基座，所述基座的底面为平面，所述基座的侧面设有多个安装槽；多个千分表，所述千分表固定在所述安装槽内，所述千分表的测量头从所述基座的底面伸出，所述千分表的测量杆垂直于所述基座的底面。本实用新型专利技术能够对晶体的表面特征进行检测，提高检测精度和检测效率。提高检测精度和检测效率。提高检测精度和检测效率。

【技术实现步骤摘要】
晶体表面检测装置


[0001]本技术总体涉及测量
，尤其涉及一种晶体表面检测装置。

技术介绍

[0002]生产过程中需要对蓝宝石等晶体的表面特征进行测量，标准的电子千分表测量工具，是测量蓝宝石平面度及平行特征或内/外径的常用“利器”。但遇到测量具有复杂形状(例如曲面)的工件时，如果需要在同一平面内测量多个值，标准的通用量具可能就难以到达准确的测量位置，并且需要针对每个测量点单独进行测量，从而每个工件需要测量多次，使得操作麻烦，检测效率低。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提供一种晶体表面检测装置，以解决现有技术中对晶体表面进行测量时检测精度低和检测效率低的问题。
[0004]根据本技术的一个方面，提出一种晶体表面检测装置，包括：基座，所述基座的底面为平面，所述基座的侧面设有多个安装槽；多个千分表，所述千分表固定在所述安装槽内，所述千分表的测量头从所述基座的底面伸出，所述千分表的测量杆垂直于所述基座的底面。
[0005]根据本技术的一个实施例，所述安装槽包括相互连接的第一槽和第二槽，所述第一槽的宽度大于所述第二槽的宽度，所述千分表的表体设置在所述第一槽内，所述千分表的测量杆设置在所述第二槽内。
[0006]根据本技术的一个实施例，所述千分表通过螺纹紧固件固定在所述安装槽内。
[0007]根据本技术的一个实施例，多个所述千分表沿同一直线排列。
[0008]根据本技术的一个实施例，所述千分表的数量为三个，相邻两个千分表之间的距离为30～45mm。/>[0009]根据本技术的一个实施例，所述测量头从所述底面伸出2～3mm。
[0010]根据本技术的一个实施例，所述基座采用四氟材料。
[0011]根据本技术的一个实施例，所述装置还包括沿竖向延伸的导向件，所述基座连接在所述导向件上，并可沿所述导向件移动。
[0012]根据本技术的一个实施例，所述装置还包括可拆卸地连接至所述基座的保护罩，所述保护罩用于罩设所述基座的底面。
[0013]根据本技术的一个实施例，所述第一槽为圆形槽；和/或所述基座的形状为长方体。
[0014]在根据本技术的实施例的晶体表面检测装置中，多个千分表固定在基座上，千分表的测量头从基座的底面伸出，当将基座放置在晶体表面上时，可以利用多个千分表对晶体表面的多个位置进行检测，基于多个千分表的检测结果可以了解晶体的表面特征，
例如平面度情况、平行特征、弯曲度情况等。本技术可以对多个位置同时进行检测，提高检测效率；并且基座的底面为平面，其为多个千分表的测量头提供统一的伸出平面，有利于测量头到达准确的测量位置，从而提高检测精度。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施案例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0016]图1示出了根据本技术的一个示例性实施例的晶体表面检测装置的示意图；
[0017]图2示出了利用图1的晶体表面检测装置对晶体表面进行检测的示意图。
[0018]在图中：
[0019]1‑
晶体表面检测装置；2
‑
晶体；10
‑
基座；12
‑
安装槽；14
‑
第一槽；16
‑
第二槽；20
‑
千分表。
具体实施方式
[0020]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术实施例进一步详细说明。
[0021]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0022]参考图1，晶体表面检测装置1包括：基座10，基座10的底面为平面，基座10的侧面设有多个安装槽12；多个千分表20，千分表20固定在安装槽12内，千分表20的测量头从基座10的底面伸出，千分表20的测量杆垂直于基座10的底面。
[0023]在根据本技术的实施例的晶体表面检测装置1中，多个千分表20固定在基座10上，千分表20的测量头从基座10的底面伸出，当将基座10放置在晶体表面上时，可以利用多个千分表20对晶体表面的多个位置进行检测，基于多个千分表20的检测结果可以了解晶体的表面特征，例如平面度情况、平行特征、弯曲度情况等。本技术可以对多个位置同时进行检测，提高检测效率；并且基座10的底面为平面，其为多个千分表20的测量头提供统一的伸出平面，特别是对例如曲面形状的工件进行检测时，多个测量头从统一的平面伸出，有利于测量头到达准确的测量位置，从而提高检测精度。
[0024]基座10的形状大致为长方体，即基座10为其上形成多个安装槽12的体块。多个安装槽12开设在基座10的侧面，安装槽12的槽口朝向基座10的侧向，槽口所在平面为竖直面，千分表20竖直地放置在安装槽12内，表盘朝向外侧便于读取测量值，表盘所在平面与基座10的侧面平行或者位于同一平面。
[0025]千分表20包括表体、连接至表体的测量杆以及位于测量杆端部的测量头。千分表20在使用前需要对其进行调零校准。绝对测量用平板做零位基准，比较测量用对比物(量
块)做零位基准。调零位时，先使测头与基准面接触，反复2
‑
3次后检查数值是否仍清零，如有数值则重调。测量时，用手轻轻抬起测杆，将工件放入测头下测量，不可把工件强行推入测头下。需要调整对个千分表20的测量杆轴线垂直于被测平面，对圆柱形工件，测量杆的轴线要垂直于工件的轴线，否则会产生很大的误差并损坏指示表。利用杠杆原理对蓝宝石表面三点进行测试，三点测试的值与规格书一致。在使用千分表时，不要使测量杆突然撞落到工件上，也不可强烈震动、敲打指示表。测量时注意表的测量范围，不要使测头位移超出量程，以免过度伸长弹簧，损坏指示表。不要使测量头跟测量杆做过多无效的运动，否则会加快零件磨损，使表失去应有精度。
[0026]在本技术的实施例中，千分表20的测量头从基座10的底面伸出2～3mm，保证测量头的位移在千分表20允许的量程内。当将基座10放置到晶体表面时，基座10的底面与晶体表面接触，测量头收缩完成测量。
[0027]在一个实施例中，安装槽12包括相互连接的第一槽14和第二槽16，第一槽14的宽度大于第二槽16的宽度，千分表20的表体设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体表面检测装置，包括：基座，所述基座的底面为平面，所述基座的侧面设有多个安装槽；多个千分表，所述千分表固定在所述安装槽内，所述千分表的测量头从所述基座的底面伸出，所述千分表的测量杆垂直于所述基座的底面。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述安装槽包括相互连接的第一槽和第二槽，所述第一槽的宽度大于所述第二槽的宽度，所述千分表的表体设置在所述第一槽内，所述千分表的测量杆设置在所述第二槽内。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述千分表通过螺纹紧固件固定在所述安装槽内。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，多个所述千分表沿同一直线排列。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈桥玉，
申请(专利权)人：甘肃旭晶新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：