一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置及磨削的方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，包括支撑底座、对标组件、桥式测量器、被测组件；支撑底座上部对称设置有放置对标组件或被测组件的V形台；对标组件包括中部的标准盘、中心轴；桥式测量器包括中部的横梁，横梁两端固定有支撑架，支撑架底部设置有与V形台相匹配的V形凹槽，横梁上表面的中部设置至少一个竖直的通孔，通孔内固定嵌插有百分表，百分表的表头置于横梁上部，百分表的测量头置于横梁下部；被测组件包括含有涡轮叶片的涡轮盘、固定组件。使用该装置对被测组件进行精密测量，由此得出需要磨削的加工量，进而实现涡轮盘叶片的精准磨削。本发明专利技术能够实现对涡轮叶片的高精度测量和磨削，结构简单，容易操作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置及磨削的方法


[0001]本专利技术涉及机械加工
，具体是指一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置及磨削的方法。

技术介绍

[0002]在涡轮盘组件当中，安装着一圈涡轮叶片。通常情况下，新的涡轮叶片都比标准要求的涡轮叶片要长，整体的直径较大，这时需要对涡轮叶片先进行测量，根据测量的数据和标准数据比较得出差值，由此得出磨削进给量，这样就可以在外圆磨床磨削加工，使涡轮盘组件的整体直径达到要求。现有对新涡轮叶片的测量均是直接采用游标卡尺进行测量，但是由于涡轮叶片的形状较为特殊，因此使用游标卡尺测量过程中，测量位置完全靠人工肉眼判断，测量过程较为困难，而且游标卡尺由于测量范围和测量精度的原因，对直径较大的涡轮盘较难实现测量，在精度上也很难达到要求，另外，在对涡轮叶片测量过程中，需要使涡轮盘保持竖直状态，否则测量值会有较大误差，使用游标卡尺测量的过程，难免使涡轮盘无法保持竖直状态，导致测量值有较大误差。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种结构简单，操作便捷，能够实现对涡轮叶片的高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，其特征在于，包括支撑底座（1）、对标组件（2）、桥式测量器（3）、以及被测组件（4）；所述支撑底座（1）上部对称设置有放置对标组件（2）或被测组件（4）的V形台（11）；所述对标组件（2）包括中部的标准盘（21），以及贯穿标准盘（21）且与之固定的中心轴（22）；所述桥式测量器（3）包括中部的横梁（31），所述横梁（31）两端固定有支撑架（32），所述支撑架（32）底部设置有与V形台（11）相匹配的V形凹槽，所述横梁（31）上表面的中部设置至少一个竖直的通孔，所述通孔内固定嵌插有百分表（33），所述百分表（33）的表头置于横梁（31）上部，百分表（33）的测量头置于横梁（31）下部；所述被测组件（4）包括含有涡轮叶片的涡轮盘（41），以及固定涡轮盘（41）的固定组件。2.根据权利要求1所述的一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，其特征在于，所述标准盘（21）的外直径分为三段，每段直径对应标准直径尺寸，所述中心轴（22）两端还设置有对其进行固定的顶尖定位孔。3.根据权利要求2所述的一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，其特征在于，所述桥式测量器（3）还包括包覆在百分表（33）下部，且与百分表（33）固定的测量外壳（35），所述测量外壳（35）固定在横梁（31）中部的通孔内，所述测量外壳（35）内部设置有测量杆（34），所述测量杆（34）顶部与百分表下部的测量头接触，测量杆（34）下部延伸出测量外壳（35），所述测量外壳（35）内还设置有使测量杆（34）伸出测量外壳（35）的弹簧（36），使得测量杆（34）能够在测量外壳（35）内上下往复运动。4.根据权利要求3所述的一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，其特征在于，所述桥式测量器（3）的横梁（31）侧边还设置有纵向的通孔，所述横梁（31）内的纵向通孔与横梁（31）内的竖向通孔相交，且横梁（31）内的纵向通孔内嵌插有锁紧轴（37），所述锁紧轴（37）能够对嵌插在横梁（31）竖向通孔内的测量外壳（35）进行固定。5.根据权利要求1~4任一项所述的一种用于涡轮盘叶片组件精密测量的装置，其特征在于，所述被测组件（4）中的固定组件包括嵌插在涡轮盘（41）中部的定位轴（42），所述定位轴（42）从内到外依次嵌套有第一定位套（43）、压紧套（44），定位轴（42）最左端设置有外螺纹，且螺纹连接有锁紧螺母（45），所述锁紧螺母（45）使压紧套（44）压紧第一定位套（43），实现第一定...

【专利技术属性】
技术研发人员：张东，庞昊，庞国强，李时德，李思奕，王一平，彭树超，
申请(专利权)人：四川亚美动力技术有限公司，
类型：发明
国别省市：