【技术实现步骤摘要】
一种多级递增式芯片硬度测试装置
[0001]本专利技术涉及一种硬度测试装置，尤其涉及一种多级递增式芯片硬度测试装置。
技术介绍
[0002]计算机芯片作为计算机的核心部件，计算机芯片相关性能直接决定了计算机的运行状况。
[0003]专利申请CN112763360A，公开了一种多功能芯片硬度测试设备，包括硬度测试装置、清洁装置及除尘装置，其中，硬度测试装置包括驱动件、压痕器及硬度测试仪，所述驱动件驱动压痕器挤压芯片，所述硬度测试仪根据压痕器挤压芯片状况获取芯片硬度；清洁装置用于去除芯片表面产生的压屑，除尘装置用于收集所述清洁装置去除的压屑。上述多功能芯片硬度测试设备，通过硬度测试装置检测芯片硬度后由清洁装置去除芯片上的压屑，除尘装置收集清洁装置去除的压屑，从而完成芯片的硬度检测及清洁。虽然该装置完成芯片的硬度检测及清洁，但是存在夹具对芯片夹不牢，在施加载荷时，芯片容易移动，由此会导致得到的试验结果准确性和可靠性降低。
[0004]基于上述现有技术中存在的缺陷，我们提出一种测试时能够对芯片进行限位，不易移动的多级...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多级递增式芯片硬度测试装置，包括有空心框（1）、检测杆（3）和按钮（31），空心框（1）顶部左后侧固接有按钮（31），检测杆（3）用于对芯片进行检测，其特征在于，第一固定框（2）、套筒（21）、驱动机构（4）和滑动机构（5），空心框（1）上设有用于提供动力的驱动机构（4），驱动机构（4）上设有第一固定框（2），第一固定框（2）下部中间固接有套筒（21），套筒（21）与检测杆（3）滑动连接，空心框（1）上设有用于带动芯片移动的滑动机构（5）。2.根据权利要求1所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，驱动机构（4）包括有转换箱（41）、导管（42）、伸缩活动杆（43）和升降架（44），空心框（1）后部左侧固接有转换箱（41），空心框（1）后部左侧固接有伸缩活动杆（43），伸缩活动杆（43）位于转换箱（41）左侧，伸缩活动杆（43）与转换箱（41）之间连接有导管（42），伸缩活动杆（43）上部固接有升降架（44），升降架（44）与第一固定框（2）固定连接。3.根据权利要求2所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，滑动机构（5）包括有伸缩气缸（51）、滑动杆（52）、限位板（53）和导向板（54），空心框（1）外顶部前后对称固接有导向板（54），前后两侧导向板（54）之间滑动式设有限位板（53），空心框（1）内底部中间前后对称固接有伸缩气缸（51），伸缩气缸（51）的伸缩杆上连接有滑动杆（52），滑动杆（52）与限位板（53）固定连接。4.根据权利要求3所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，还包括有用于记录数值的计数机构（6），计数机构（6）包括有固定架（61）、第二固定框（62）、带齿杆（63）、第一弹簧（64）、圆板（65）、固定杆（66）、铰接杆（67）、柱齿轮（68）、传动组件（69）、转轴（610）、指示针（611）和显示盘（612），第一固定框（2）内前后两侧都固接有固定架（61），前后两侧固定架（61）上部之间固接有第二固定框（62），套筒（21）内中部固接有圆板（65），圆板（65）中部滑动式设有固定杆（66），固定杆（66）与检测杆（3）固定连接，固定杆（66）上绕有第一弹簧（64），第一弹簧（64）一端与检测杆（3）连接，第一弹簧（64）另一端与圆板（65）固定连接，套筒（21）内滑动式设有带齿杆（63），带齿杆（63）与固定杆（66）固定连接，带齿杆（63）与第二固定框（62）滑动连接，第二固定框（...
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