本发明专利技术涉及一种硬度测试装置，尤其涉及一种多级递增式芯片硬度测试装置。需要设计一种能够对芯片进行限位，不易移动的多级递增式芯片硬度测试装置。一种多级递增式芯片硬度测试装置，包括有空心框、第一固定框和驱动机构，空心框顶部左后侧固接有按钮，空心框上设有用于提供动力的驱动机构，驱动机构上设有第一固定框。本发明专利技术芯片放置在限位板上，限位板对芯片进行限位固定，启动伸缩气缸的伸缩杆收缩，限位板向左移动带动芯片向左移动，同时，转换箱运作通过导管带动伸缩活动杆伸缩一次，从而检测杆向下移动与芯片接触进行硬度测试，如此，测试时能够对芯片进行限位，不易移动。不易移动。不易移动。
【技术实现步骤摘要】
一种多级递增式芯片硬度测试装置
[0001]本专利技术涉及一种硬度测试装置，尤其涉及一种多级递增式芯片硬度测试装置。
技术介绍
[0002]计算机芯片作为计算机的核心部件，计算机芯片相关性能直接决定了计算机的运行状况。
[0003]专利申请CN112763360A，公开了一种多功能芯片硬度测试设备，包括硬度测试装置、清洁装置及除尘装置，其中，硬度测试装置包括驱动件、压痕器及硬度测试仪，所述驱动件驱动压痕器挤压芯片，所述硬度测试仪根据压痕器挤压芯片状况获取芯片硬度；清洁装置用于去除芯片表面产生的压屑，除尘装置用于收集所述清洁装置去除的压屑。上述多功能芯片硬度测试设备，通过硬度测试装置检测芯片硬度后由清洁装置去除芯片上的压屑，除尘装置收集清洁装置去除的压屑，从而完成芯片的硬度检测及清洁。虽然该装置完成芯片的硬度检测及清洁，但是存在夹具对芯片夹不牢，在施加载荷时，芯片容易移动，由此会导致得到的试验结果准确性和可靠性降低。
[0004]基于上述现有技术中存在的缺陷，我们提出一种测试时能够对芯片进行限位，不易移动的多级递增式芯片硬度测试装置。
技术实现思路
[0005]为了克服存在夹具对芯片夹不牢，在施加载荷时，芯片容易移动，由此会导致得到的试验结果准确性和可靠性降低的缺点，本专利技术提供一种能够对芯片进行限位，不易移动的多级递增式芯片硬度测试装置。
[0006]本专利技术通过以下技术途径实现：一种多级递增式芯片硬度测试装置，包括有空心框、第一固定框、套筒、检测杆、按钮、驱动机构和滑动机构，空心框顶部左后侧固接有按钮，空心框上设有用于提供动力的驱动机构，驱动机构上设有第一固定框，第一固定框下部中间固接有套筒，套筒内滑动式设有用于对芯片检测的检测杆，空心框上设有用于带动芯片移动的滑动机构。
[0007]进一步的是，驱动机构包括有转换箱、导管、伸缩活动杆和升降架，空心框后部左侧固接有转换箱，空心框后部左侧固接有伸缩活动杆，伸缩活动杆位于转换箱左侧，伸缩活动杆与转换箱之间连接有导管，伸缩活动杆上部固接有升降架，升降架与第一固定框固定连接。
[0008]进一步的是，滑动机构包括有伸缩气缸、滑动杆、限位板和导向板，空心框外顶部前后对称固接有导向板，前后两侧导向板之间滑动式设有限位板，空心框内底部中间前后对称固接有伸缩气缸，伸缩气缸的伸缩杆上连接有滑动杆，滑动杆与限位板固定连接。
[0009]进一步的是，还包括有用于记录数值的计数机构，计数机构包括有固定架、第二固定框、带齿杆、第一弹簧、圆板、固定杆、铰接杆、柱齿轮、传动组件、转轴、指示针和显示盘，第一固定框内前后两侧都固接有固定架，前后两侧固定架上部之间固接有第二固定框，套
筒内中部固接有圆板，圆板中部滑动式设有固定杆，固定杆与检测杆固定连接，固定杆上绕有第一弹簧，第一弹簧一端与检测杆连接，第一弹簧另一端与圆板固定连接，套筒内滑动式设有带齿杆，带齿杆与固定杆固定连接，带齿杆与第二固定框滑动连接，第二固定框后部转动式设有铰接杆，铰接杆中部固接有柱齿轮，柱齿轮与带齿杆啮合，第二固定框右部中间转动式设有转轴，转轴左部与铰接杆右部之间连接有传动组件，传动组件由两个皮带轮和皮带组成，一个皮带轮安装于转轴左部，另一个皮带轮安装于铰接杆右部，皮带绕于两个皮带轮之间，第一固定框右部上侧嵌入式设有计数的显示盘，显示盘与转轴转动连接，转轴右部固接有指示针。
[0010]进一步的是，还包括有用于方便取下芯片的支撑机构，支撑机构包括有伸缩架、第一活塞、排气管、第二活塞、第三弹簧、安装架、支撑板、第二弹簧和导向杆，空心框外顶部左侧前后对称固接有导向杆，前后两侧导向杆之间滑动式设有伸缩架，伸缩架与第一固定框固定连接，导向杆上绕有第三弹簧，第三弹簧一端与伸缩架连接，第三弹簧另一端与空心框固定连接，空心框左部上中侧设有排气管，排气管上部滑动式设有第一活塞，第一活塞与伸缩架固定连接，排气管右部滑动式设有第二活塞，限位板底部中间固接有安装架，安装架左部铰接式设有用于翘起芯片的支撑板，支撑板底部与固定架内底部之间固接有第二弹簧。
[0011]进一步的是，还包括有防尘布、固定块和长板，空心框左部中间连接有用于防尘保护的防尘布，防尘布右部固接有长板，长板右侧面中部固接有固定块，固定块与限位板固定连接。
[0012]进一步的是，还包括有限位环、固定柱和缓冲垫，空心框外底部间隔固接有四个限位环，限位环底部固接有固定柱，固定柱下部套装有用于缓冲的缓冲垫。
[0013]进一步的是，还包括有缓冲垫材质为橡胶。
[0014]与现有技术相比，本专利技术其显著进步在于：1、本专利技术芯片放置在限位板上，限位板对芯片进行限位固定，启动伸缩气缸的伸缩杆收缩，限位板向左移动带动芯片向左移动，同时，转换箱运作通过导管带动伸缩活动杆伸缩一次，从而检测杆向下移动与芯片接触进行硬度测试，如此，测试时能够对芯片进行限位，不易移动。
[0015]2、本专利技术在计数机构的作用下，转轴正转带动指示针正转一定距离，人们即可对指示针正转至显示盘上数据进行观察记录，如此，可方便人们对观察记录压力数值。
[0016]3、本专利技术在缓冲垫的作用下，由于缓冲垫材质为橡胶，具有一定的可塑性，可很好对本装置进行缓冲，如此，可避免检测时产生晃动。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的第一种立体结构示意图。
[0018]图2为本专利技术的第二种立体结构示意图。
[0019]图3为本专利技术的第三种立体结构示意图。
[0020]图4为本专利技术的第一种部分立体结构示意图。
[0021]图5为本专利技术驱动机构的立体结构示意图。
[0022]图6为本专利技术滑动机构的部分立体结构示意图。
[0023]图7为本专利技术计数机构的第一种部分立体结构示意图。
[0024]图8为本专利技术计数机构的第二种部分立体结构示意图。
[0025]图9为本专利技术计数机构的第三种部分立体结构示意图。
[0026]图10为本专利技术支撑机构的部分立体结构示意图。
[0027]图11为本专利技术的第二种部分立体结构示意图。
[0028]附图标记说明：1：空心框，2：第一固定框，21：套筒，3：检测杆，31：按钮，4：驱动机构，41：转换箱，42：导管，43：伸缩活动杆，44：升降架，5：滑动机构，51：伸缩气缸，52：滑动杆，53：限位板，54：导向板，6：计数机构，61：固定架，62：第二固定框，63：带齿杆，64：第一弹簧，65：圆板，66：固定杆，67：铰接杆，68：柱齿轮，69：传动组件，610：转轴，611：指示针，612：显示盘，7：支撑机构，71：伸缩架，72：第一活塞，73：排气管，74：第二活塞，75：第三弹簧，76：安装架，77：支撑板，78：第二弹簧，79：导向杆，8：防尘布，9：固定块，10：长板，11：限位环，12：固定柱，13：缓冲垫。
具体实施方式
[0029]以下结合说明书附图进一步阐述本专利技术、并结合说明书附图给出本专利技术的实施例。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多级递增式芯片硬度测试装置，包括有空心框（1）、检测杆（3）和按钮（31），空心框（1）顶部左后侧固接有按钮（31），检测杆（3）用于对芯片进行检测，其特征在于，第一固定框（2）、套筒（21）、驱动机构（4）和滑动机构（5），空心框（1）上设有用于提供动力的驱动机构（4），驱动机构（4）上设有第一固定框（2），第一固定框（2）下部中间固接有套筒（21），套筒（21）与检测杆（3）滑动连接，空心框（1）上设有用于带动芯片移动的滑动机构（5）。2.根据权利要求1所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，驱动机构（4）包括有转换箱（41）、导管（42）、伸缩活动杆（43）和升降架（44），空心框（1）后部左侧固接有转换箱（41），空心框（1）后部左侧固接有伸缩活动杆（43），伸缩活动杆（43）位于转换箱（41）左侧，伸缩活动杆（43）与转换箱（41）之间连接有导管（42），伸缩活动杆（43）上部固接有升降架（44），升降架（44）与第一固定框（2）固定连接。3.根据权利要求2所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，滑动机构（5）包括有伸缩气缸（51）、滑动杆（52）、限位板（53）和导向板（54），空心框（1）外顶部前后对称固接有导向板（54），前后两侧导向板（54）之间滑动式设有限位板（53），空心框（1）内底部中间前后对称固接有伸缩气缸（51），伸缩气缸（51）的伸缩杆上连接有滑动杆（52），滑动杆（52）与限位板（53）固定连接。4.根据权利要求3所述的一种多级递增式芯片硬度测试装置，其特征在于，还包括有用于记录数值的计数机构（6），计数机构（6）包括有固定架（61）、第二固定框（62）、带齿杆（63）、第一弹簧（64）、圆板（65）、固定杆（66）、铰接杆（67）、柱齿轮（68）、传动组件（69）、转轴（610）、指示针（611）和显示盘（612），第一固定框（2）内前后两侧都固接有固定架（61），前后两侧固定架（61）上部之间固接有第二固定框（62），套筒（21）内中部固接有圆板（65），圆板（65）中部滑动式设有固定杆（66），固定杆（66）与检测杆（3）固定连接，固定杆（66）上绕有第一弹簧（64），第一弹簧（64）一端与检测杆（3）连接，第一弹簧（64）另一端与圆板（65）固定连接，套筒（21）内滑动式设有带齿杆（63），带齿杆（63）与固定杆（66）固定连接，带齿杆（63）与第二固定框（62）滑动连接，第二固定框（...
【专利技术属性】
技术研发人员：邱文彬，
申请(专利权)人：邱文彬，
类型：发明
国别省市：
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