方位识别方法、装置、测试系统及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及测试技术领域，提供了一种方位识别方法、装置、测试系统及存储介质。所述方法包括采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系。采用本申请的方位识别方法，能够自动识别出电子设备的跌落方位，大幅提高生产效率。大幅提高生产效率。大幅提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
方位识别方法、装置、测试系统及存储介质


[0001]本申请涉及测试
，特别是涉及一种方位识别方法、装置、测试系统及存储介质。

技术介绍

[0002]在手机等电子设备的可靠性评估中，跌落测试是一项关键判别指标，其中跌落测试包括定向循环跌落和滚筒随机跌落两种类型。
[0003]由于电子设备跌落之后姿态不可控，目前相关技术通过人工进行方位识别和二次装夹，然而人工参与不仅耗时耗力，还受限于生理疲劳，使得操作失误几率大幅增加，严重影响了生产进度。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述缺陷或不足，提供一种方位识别方法、装置、测试系统及存储介质，能够自动识别方位，提高生产效率。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种方位识别方法，所述方法包括：
[0006]采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；
[0007]计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；
[0008]将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系。
[0009]在一个实施例中，所述参考数据通过如下方式得到：
[0010]选取所述参考面上标定的不同方位作为所述参考方位，分别采集所述电子设备处于所述参考方位时的第二图像信息，并提取所述第二图像信息得到像素矩阵；
[0011]获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，并将所述参考像素占比与所述参考方位建立关联，得到所述映射关系。
[0012]在一个实施例中，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：
[0013]获取所述像素矩阵的长度和宽度；
[0014]遍历所述像素矩阵，确定所述像素矩阵中所述参考面对应的第一像素点数量；
[0015]基于所述长度、所述宽度以及所述第一像素点数量，计算得到所述像素矩阵的所述参考像素占比。
[0016]在一个实施例中，所述方法还包括所述电子设备的正面远离所述参考面时的所述参考像素占比大于所述电子设备的正面靠近所述参考面时的所述参考像素占比。
[0017]在一个实施例中，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：
[0018]获取所述像素矩阵的长度和宽度；
[0019]根据所述长度和所述宽度，确定子像素矩阵各自的分割条件，并对所述像素矩阵进行划分得到所述子像素矩阵；
[0020]分别遍历所述子像素矩阵，确定所述子像素矩阵中所述参考面对应的第二像素点数量；
[0021]基于所述分割条件以及所述第二像素点数量，计算得到各所述子像素矩阵的所述参考像素占比。
[0022]在一个实施例中，所述方法还包括若各所述子像素矩阵的所述参考像素占比相同，则对所述电子设备进行旋转，以使所述参考像素占比不同。
[0023]在一个实施例中，所述分割条件包括将所述像素矩阵均分为四个所述子像素矩阵。
[0024]第二方面，本申请实施例提供了一种方位识别装置，所述装置包括：
[0025]采集模块，配置用于采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；
[0026]计算模块，配置用于计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；
[0027]比较模块，配置用于将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系。
[0028]第三方面，本申请实施例提供了一种测试系统，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现本申请任意实施例所提供的方位识别方法的步骤。
[0029]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本申请任意实施例所提供的方位识别方法的步骤。
[0030]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：
[0031]本申请实施例所提供的方位识别方法、装置、测试系统及存储介质，能够自动分析电子设备跌落在测试系统参考面上的图像信息，并且由于参考面是测试系统所固有的，也就是说在测试过程中参考面始终不变。因此，本申请实施例通过比对该图像信息中参考面对应的目标像素占比与预先采集的参考数据中参考面对应的参考像素占比的接近程度，进而依据该参考数据所包含的映射关系，即可快速确定出电子设备的跌落方位，高效便捷，大幅提高了生产效率。
附图说明
[0032]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0033]图1为本申请实施例提供的一种应用环境示意图；
[0034]图2为本申请实施例提供的一种测试系统的工作流程示意图；
[0035]图3为本申请实施例提供的一种方位识别方法的基本流程示意图；
[0036]图4为本申请实施例提供的一种电子设备的外观示意图；
[0037]图5为本申请实施例提供的一种方位标定示意图；
[0038]图6为本申请实施例提供的一种参考像素占比的计算过程示意图；
[0039]图7为本申请实施例提供的另一种参考像素占比的计算过程示意图；
[0040]图8为本申请实施例提供的一种方位识别装置的结构示意图；
[0041]图9为本申请实施例提供的另一种方位识别装置的结构示意图；
[0042]图10为本申请实施例提供的又一种方位识别装置的结构示意图；
[0043]图11为本申请实施例提供的一种测试系统的结构框图。
具体实施方式
[0044]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0045]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
[0046]此外，术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块。
[0047]本申请提供的方位识别方法，可以应用于如图1所示的测试环境中。该方位识别方法应用于测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方位识别方法，其特征在于，所述方法包括：采集电子设备跌落在测试系统参考面上的第一图像信息；计算所述第一图像信息中所述参考面对应的目标像素占比；将所述目标像素占比和参考数据进行比较，确定所述电子设备的跌落方位，其中所述参考数据包括在预先跌落阶段所述电子设备对应的参考方位与所述参考面对应的参考像素占比的映射关系。2.根据权利要求1所述的方位识别方法，其特征在于，所述参考数据通过如下方式得到：选取所述参考面上标定的不同方位作为所述参考方位，分别采集所述电子设备处于所述参考方位时的第二图像信息，并提取所述第二图像信息得到像素矩阵；获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，并将所述参考像素占比与所述参考方位建立关联，得到所述映射关系。3.根据权利要求2所述的方位识别方法，其特征在于，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：获取所述像素矩阵的长度和宽度；遍历所述像素矩阵，确定所述像素矩阵中所述参考面对应的第一像素点数量；基于所述长度、所述宽度以及所述第一像素点数量，计算得到所述像素矩阵的所述参考像素占比。4.根据权利要求3所述的方位识别方法，其特征在于，所述方法还包括所述电子设备的正面远离所述参考面时的所述参考像素占比大于所述电子设备的正面靠近所述参考面时的所述参考像素占比。5.根据权利要求2所述的方位识别方法，其特征在于，所述获取所述像素矩阵中所述参考面的像素占比作为所述参考像素占比，包括：获取...

【专利技术属性】
技术研发人员：林炜彦，韦林艳，肖乐，
申请(专利权)人：闻泰通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：