一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，涉及GPU芯片研发与测试领域。首先，ATE通过模式选择接口将GPU芯片置于GPU核心全速功能测试模式，然后，ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，再接着，ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器，进一步，ATE通过控制接口启动GPU核心，使其读取测试数据进行计算并将结果写回至GPU芯片的内部测试存储器，最后，ATE通过控制接口查询GPU核心的工作状态，在其工作状态为空闲时，从GPU芯片的内部测试存储器中将测试结果读出并与标准结果进行比对。本发明专利技术具有快速灵活、成本低，可广泛应用于GPU芯片的研发与测试领域。用于GPU芯片的研发与测试领域。用于GPU芯片的研发与测试领域。

【技术实现步骤摘要】
一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法


[0001]本专利技术属于GPU芯片研发与测试领域，特别是一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法。

技术介绍

[0002]随着半导体技术的发展和工艺水平的提高，GPU芯片中GPU核心的规模、复杂度和工作频率也在不断提升。使用更先进的工艺节点，GPU核心能够容纳更多的逻辑电路与存储单元，能够实现更高的运行频率和更复杂的系统功能。上述变化，给GPU核心的量产测试与可测性设计带来挑战。
[0003]传统的基于ATE的量产测试，主要用于保证生产与设计的一致性，即更关注芯片生产制造过程中的物理缺陷。基于固定(Stuck
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At)故障模型的静态测试仍在使用，基于瞬态(Transition)故障模型的全速(At
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Speed)测试已被引入先进工艺节点。此时，全速测试仍主要针对内部逻辑扫描链测试(Scan)、存储器内建自测试(MBIST)、边界扫描测试(Boundary Scan)等结构性测试。
[0004]对于GPU芯片而言，除了上述结构性测试之外，对GPU核本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1：ATE通过模式选择接口使GPU芯片处于GPU核心全速功能测试模式；S2：ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，使其为GPU核心、系统总线、内部测试存储器提供所需的全速测试时钟；S3：ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器；S4：ATE通过控制接口启动GPU核心，使其从GPU芯片的内部测试存储器中读取测试数据进行计算，并将测试结果写回至GPU芯片的内部测试存储器；S5：ATE通过控制接口适时查询GPU核心的工作状态；S6：判断GPU核心的工作状态是否空闲，若为空闲状态，进入步骤S7，若不为空闲状态，跳转至步骤S5；S7：ATE通过数据接口及专用数据通路从GPU芯片的内部测试存储器中读取测试结果，并与标准结果进行比对。2.如权利要求1所述的一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，其特征在于，步骤S2中，全速测试时钟由GPU芯片内部时钟电路产生，ATE仅需向GPU芯片提供低频参考时钟，全速测试时钟的频率与GPU芯片正常工作时的频率相同，全速测试时钟的频率能由ATE配置，以能够满足GPU核心在常规电压、过驱动电压工作条件下的全速功能测试需求，也能够满足不同批次芯片GPU核心的频率性能筛选需求。3.如权利要求2所述的一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，其特征在于，复用正常工作模式下GPU芯片内部PCIe PHY固件存储器与DDR PHY固件存储器用作GPU芯片的内部测试存储器，具体为，在GPU核心全速功能测试模式下，位于离散存储空间的GPU芯片内部PCIe PHY固件存储器与DDR PHY固件存储器被重新映射成内部测试存储器的连续存储空间，用于存储测试数据与测试结果。4.如权利要求3所述的一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，其特征在于，对GPU芯片内部测试存储器进行数据装载与数据读取的数据接口，使用专用非阻塞接口协议，无需握手机制，专用非阻塞接口协议包括的信号和各个信号的作用分别为：(1)t_clk：该信号为GPU芯片的输入信号，为数据接口上其它所有信号提供参考时钟；(2)t_address：该信号为GPU芯片的输入信号，包含32位，能够对最大4GB的内部测试存储器空间进行寻址；(3)t_write：该信号为GPU芯片的输入信号，用于标识测试数据的...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊石，秦泰，秦信刚，程振洪，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：