一种闪存芯片参考电路的微调方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种闪存芯片参考电路的微调方法、装置、设备及存储介质，方案包括：获取闪存芯片的微调挡位历史数据的概率分布信息；设定微调挡位值的第一区间范围，按预定步长将第一区间范围内的微调挡位值离散化，得到第一数量的微调挡位值；基于概率分布信息中的概率值的大小顺序，对此第一数量的微调挡位值中的所有微调挡位值进行排序，得到与此第一数量的数值一致的第二数量的微调挡位值；对于待测试闪存芯片，按序从此第二数量的微调挡位值中选择待设置微调挡位值，基于待设置微调挡位值对待测试闪存芯片进行测试，当测试得到的测量值与预先设定的目标值的差值绝对值小于预定阈值时，将此待设置微调挡位值设定为第一目标微调挡位值。一目标微调挡位值。一目标微调挡位值。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存芯片参考电路的微调方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及非易失性存储器
，尤其涉及一种闪存芯片参考电路的微调方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]闪存是一种长寿命的非易失性的存储器，在断电情况下仍能保持所存储的数据信息，由于其断电时仍能保存数据，闪存通常被用来保存设置信息，如在电脑的极板程序、个人数字助理、数码相机中保存资料等。
[0003]闪存芯片设计包括存储区域和外围控制电路，其中内部电压参考单元控制芯片的电压分配。为了消除工艺参数波动对参考电压的精度影响，电路设计成为微小可调模式，比如闪存芯片在出厂时前需要对其编程状态下的编程电压或在擦除状态下的擦除电压等进行测试与微调，并将微调后的所述编程电压或擦除电压存储于嵌入式闪存的内部存储器中。现有技术一般基于线性扫描法对闪存芯片的微调档位进行测试，这样每次从零开始逐渐递增直到找到目标微调档位值，需要花费较多的测试时间和测试费用。
[0004]因此，有必要提供一种效率高的对闪存芯片的微调档位值进行测试的方法。
专利
技术实现思路

[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片参考电路的微调方法，其特征在于，所述方法包括：获取闪存芯片的微调挡位历史数据的概率分布信息；设定微调挡位值的第一区间范围，按预定步长将所述第一区间范围内的微调挡位值离散化，得到第一数量的微调挡位值；基于所述概率分布信息中的概率值的大小顺序，对所述第一数量的微调挡位值中的所有微调挡位值进行排序，得到与所述第一数量的数值一致的第二数量的微调挡位值；对于待测试闪存芯片，按序从所述第二数量的微调挡位值中选择待设置微调挡位值，基于所述待设置微调挡位值对所述待测试闪存芯片进行测试，当测试得到的测量值与预先设定的目标值的差值绝对值小于预定阈值时，将所述待设置微调挡位值设定为第一目标微调挡位值。2.根据权利要求1所述的闪存芯片参考电路的微调方法，其特征在于，所述预先获取闪存芯片的微调挡位值的概率分布信息，具体包括：预先获取预定数量的闪存芯片，设定与所述第一区间范围一致的第二区间范围；基于所述第二区间范围，按线性扫描法对所述预定数量的闪存芯片的微调档位值进行测试，得到与所述预定数量的数值一致的第二目标微调档位值；分析所述与所述预定数量的数值一致的第二目标微调档位值的统计规律，得到所述预定数量的闪存芯片的实际微调挡位值的概率分布信息。3.根据权利要求2所述的闪存芯片参考电路的微调方法，其特征在于，所述实际微调挡位值的概率分布信息为所述实际微调挡位值的正态分布概率信息。4.根据权利要求2所述的闪存芯片参考电路的微调方法，其特征在于，所述闪存芯片的预定数量范围为1000至20000。5.一种闪存芯片参考电路的微调装置，其特征在于，包括：微调挡位值概率分布获取模块，用于获取闪存芯片的微调挡位历史数据的概率分布信息；微调挡位值离散化模块，用于设定微调挡位值的...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪华友，卜丽飞，徐志超，
申请(专利权)人：唐山捷准芯测信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：