一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法技术方案

本发明专利技术涉及一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法，测试转接系统包括：金手指接口单元，与外部主板连接；测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元电连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号；所述测试转接方法应用上述测试转接系统完成。本发明专利技术采用一个M.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决M.2接口多功能测试的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法


[0001]本专利技术涉及M.2接口测试
，尤其是指一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法。

技术介绍

[0002]M.2接口既可以接入高速的PCI
‑
E(peripheral component interconnect express周边器件高速互联)SSD(Solid State Drive固态硬盘)；也可以接入SATA(Serial Advanced Technology Attachment,串行高级技术附件)SSD两种不同的存储设备，且其结构紧凑、占用空间小等优点因而应用将越来越广泛。
[0003]电脑或服务器主板在出厂前需要对其上设计的M.2接口对上述两种接入设备进行全面的功能测试，但一个M.2接口同时只能插入一个设备，如果要同时测试两个设备，就只能靠人工对接入设备的拔插，这样会造成测试效率低，测试成本高的缺点，如果此时使用机械代替人工进行拔插设备，根据M.2接口的特点，其接入设备的插入方向与水平固定方向成20
°
的角度，用机械来选择不同插入设备插入与拔出，机械的设计复杂，成本高，且主板的测试系统空间有限，很难实现。
[0004]现有技术专利公告号为：CN206931082U、专利名称为：一种多类型结构的M.2设备扩展卡，公开了一种多类型接口的M.2设备扩展卡，包括M.2连接器单元、M.2金手指接口单元，该现有技术的扩展卡可以接插于M.2连接器，接口类型灵活，适用于不同空间要求的系统；
[0005]但是由于M.2的PCI
‑
E通道，理论带宽达到了32Gbps，采用延长线的接入方式或者上述机械继电器简单分时切换高速信号线，都会造成高速信号线波形失真，使测试失败。

技术实现思路

[0006]为此，本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中M.2接口无法同时接入多个测试设备的问题，提供一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统及转接方法，采用一个M.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决M.2接口多功能测试的问题。
[0007]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，包括：
[0008]金手指接口单元，与外部主板连接；
[0009]测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；
[0010]电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；
[0011]系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元电连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号。
[0012]在本专利技术的一个实施例中，所述外部主板通过金手指接口单元中的M.2_SEL线信号的高或低状态识别接入的测试设备。
[0013]在本专利技术的一个实施例中，所述测试设备连接器接口单元包括第一连接器接口和第二连接器接口，所述第一连接器接口定义为SATA接口，在所述SATA接口中插入SATA设备，所述第二连接器接口定义为PCIE接口，在所述PCIE接口中插入PCIE设备。
[0014]在本专利技术的一个实施例中，所述电子开关单元的输入端与金手指接口单元通过高速差分总线连接，所述电子开关单元的输出端通过系统控制单元的控制，分时与SATA接口或PCIE接口连接。
[0015]在本专利技术的一个实施例中，所述电子开关单元为双通道开关MAX4888C。
[0016]在本专利技术的一个实施例中，所述机械开关单元包括连接在测试设备接口单元和金手指接口单元之间的第一控制开关和连接在电子开关单元与金手指接口单元之间的第二控制开关，所述第一控制开关控制金手指接口单元与不同测试设备接入时信号线的切换，所述第二控制开关控制电子开关单元的切换动作。
[0017]在本专利技术的一个实施例中，所述金手指接口单元与所述第一控制开关的之间设置有I2C_SCL、I2C_SDA总线，所述第一控制开关与不同的连接器接口之间设置有I2C_SCL、I2C_SDA分线。
[0018]在本专利技术的一个实施例中，所述电子开关单元与所述第二控制开关之间SEL_NC_NO信号线，通过控制SEL_NC_NO信号线通断控制电子开关单元的切换。
[0019]在本专利技术的一个实施例中，所述第一控制开关和第二控制开关均为双刀双掷型继电器。
[0020]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种针对M.2接口接入设备的测试转接方法，采用上述针对M.2接口接入设备的测试转接系统实现不同测试设备通过同一M.2接口与外部主板的转接切换，包括以下步骤：
[0021]S1、将外部主板与金手指接口单元连接，将不同的测试设备与测试设备接口单元连接；
[0022]S2、通过系统控制单元向电子开关单元和机械开关单元发出控制信号，通过电子开关单元和机械开关单元的同步切换，使外部主板分别与不同的测试设备分时连接。
[0023]本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
[0024]本专利技术所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，在金手指接口单元与测试设备接口单元之间设置电子开关单元和机械开关单元，通过电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换，采用一个M.2接口同时接入多个测试设备，通过电子开关单元和机械开关单元控制分时切换，从而解决M.2接口多功能测试的问题；并且，相比于传统的机械继电器切换技术，通过电子开关切换，更适用于切换高速差分信号，防止高速差分信号波形失真。
附图说明
[0025]为了使本专利技术的内容更容易被清楚的理解，下面根据本专利技术的具体实施例并结合附图，对本专利技术作进一步详细的说明，其中
[0026]图1是本专利技术的针对M.2接口接入设备的测试转接系统的电路原理图；
[0027]图2是本专利技术的针对M.2接口接入设备的测试转接方法的步骤图。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。
[0029]实施例1
[0030]参照图1所示，本专利技术的一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，包括：
[0031]金手指接口单元，与外部主板连接；
[0032]测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；
[0033]电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；
[0034]系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对M.2接口接入设备的测试转接系统，用于连接外部主板与测试设备，其特征在于：包括：金手指接口单元，与外部主板连接；测试设备接口单元，包括多个连接器接口，通过多个连接器接口与多个测试设备连接；电子开关单元和机械开关单元，设置在金手指接口单元与测试设备接口单元之间，通过所述电子开关单元和机械开关单元实现不同测试设备与外部主板的连接和切换；系统控制单元，与电子开关单元和机械开关单元电连接，向所述电子开关单元和机械开关单元发出控制信号。2.根据权利要求1所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系统，其特征在于：所述外部主板通过金手指接口单元中的M.2_SEL线信号的高或低状态识别接入的测试设备。3.根据权利要求1所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系统，其特征在于：所述测试设备连接器接口单元包括第一连接器接口和第二连接器接口，所述第一连接器接口定义为SATA接口，在所述SATA接口中插入SATA设备，所述第二连接器接口定义为PCIE接口，在所述PCIE接口中插入PCIE设备。4.根据权利要求3所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系统，其特征在于：所述电子开关单元的输入端与金手指接口单元通过高速差分总线连接，所述电子开关单元的输出端通过系统控制单元的控制，分时与SATA接口或PCIE接口连接。5.根据权利要求4所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系统，其特征在于：所述电子开关单元为双通道开关MAX4888C。6.根据权利要求1所述的针对M.2接口接入设备的测试转接系...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴峰，陈超，刘智年，
申请(专利权)人：江苏特创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：