一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法技术

本发明专利技术涉及计算机技术领域，特别是涉及一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法和系统，方法包括以下步骤：一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法，其特征在于，包括如下步骤：将待测试的图形芯片接入集成测试系统；对图形芯片进行电测试；初始化图形芯片，使其输出HDMI和VGA信号，并将信号转化为RGB数字信号，并与预期结果进行比对，将图形芯片分选移动至存放位置；系统包括：核心测试板、测试机台、测试主机和机械臂。本发明专利技术将图形芯片的通断性测试和板级功能测试融合在一起，能够更加全面地完成图形芯片的测试，然后通过接口数据比对，降低了芯片板级测试难度，缩短了测试时间，此外测试时不需要挂接硬盘进入操作系统，提高了测试速度。提高了测试速度。提高了测试速度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法


[0001]本专利技术涉及半导体芯片测试领域，特别是涉及一种基于接口数据比对的图形芯片SLT(System Level Test，系统级测试)方法。

技术介绍

[0002]半导体芯片完成设计、流片、封装等加工制造工序后，需要进行多种测试和分选，以筛选芯片是否合格。最基本的图形芯片测试是根据图形芯片的特性设计功能测试板，将图形芯片焊接到测试板，作为显卡与主机相接测试功能，这种测试仅能验证图形芯片的设计功能是否实现，不能作为图形芯片产品的测试方法。
[0003]更进一步的测试方法是设计一款带有芯片夹具的测试板，通过更换夹具内芯片的方式进行测试，避免对产品芯片造成损伤，但仍需使用万用表完成测试板上电前的通断性测试，然后再上电进行芯片的板级功能测试，这种测试方法仍对芯片本身的测试无能为力，且对人工操作依赖较重，不仅效率低，还容易发生错误。
[0004]单独对芯片本身进行相关测试，则需要专用测试机台的支持，目前业界比较成熟的测试机台产品包括爱德万V93000以及泰瑞达的Ultra测试机台，但测试机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)对图形芯片进行电测试，若图形芯片引脚没有出现短路或断路，转到步骤(2)，否则转到步骤(4)；(2)初始化图形芯片，使其输出HDMI和VGA信号，并将信号转化为RGB数字信号，并与预期结果进行比对，判断芯片是否通过信号测试，若比对结果一致，转到步骤(3)，否则转到步骤(4)；(3)将图形芯片分选移动至合格芯片的存放位置；(4)将图形芯片分选移动至不合格芯片的存放位置。2.如权利要求1所述的图形芯片SLT方法，其特征在于，所述步骤(1)中对图形芯片进行电测试包括对图形芯片进行DC/AC电测试和MBIST电测试。3.如权利要求1所述的图形芯片SLT方法，其特征在于，所述图形芯片的所有移动操作都由柔性机械臂完成。4.一种基于接口数据比对的图形芯片SLT系统，其特征在于，包括：核心测试板、测试机台、测试主机和机械臂；所述核心测试板用于固定并读取芯片，输出测试的信号反馈和比对结果；所述测试主机通过PCIE接口连接核心测试板，测试主机用于根...

【专利技术属性】
技术研发人员：王炜，陈攀，丁振青，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：