一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法及系统，包括以下步骤：获取当前运行参数，形成当前运行数据集；获取当前阻值变化率、前剩余寿命以及当前良品率；设定阻值变化率阈值，剩余寿命阈值以及良品率阈值；比较当前阻值变化率与设定的阻值变化率阈值，若当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行正常；反之，则基板玻璃铂金通道运行不正常，则更新设定的良品率阈值和剩余寿命阈值，调节运行参数；重复上述步骤，直至符合规定要求。本方法方案合理，有效解决基板玻璃铂金通道运行状态的在线监测问题，跟踪判断铂金通道的运行状态，延长玻璃铂金通道使用寿命。使用寿命。使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法及系统


[0001]本专利技术属于基板玻璃制造领域，涉及一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法及系统。

技术介绍

[0002]铂金通道是液晶玻璃基板生产中的核心装备，对产品质量起着至关重要的作用。从工艺上讲，它是玻璃液传输的通道，负责将池炉中的玻璃液传送到成型工序，而在此过程中，它还承担着澄清、均化、温度控制、流量控制等工艺职能。
[0003]由于铂金通道长时间玻璃液高温环境下运行，受内部玻璃液的冲刷以及外部高温下的挥发，铂金通道壁厚不断减薄，直至损坏。然而铂金通道外围有耐火材料包覆且铂金通道减薄损坏的过程缓慢，无法直接监测到其运行状态和剩余运行寿命，严重影响产线的使用寿命和制约产线工艺调整。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法及系统，有效解决基板玻璃铂金通道运行状态的在线监测问题，跟踪判断铂金通道的运行状态，计算铂金通道剩余寿命，为产线工艺调整和线体整体寿命的延长提供依据。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0006]一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，包括以下步骤：
[0007]S1：获取铂金通道的当前运行周期内的运行参数，形成铂金通道的当前运行周期内的运行数据集；
[0008]S2：根据铂金通道的当前运行数据集，计算并获取铂金通道的当前阻值变化率、前剩余寿命以及当前良品率；
[0009]S3：设定铂金通道的阻值变化率阈值，剩余寿命阈值以及良品率阈值；并将铂金通道的当前阻值变化率与设定的阻值变化率阈值比较，若当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行正常；若当前阻值变化率大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行不正常；
[0010]S4：若基板玻璃铂金通道运行不正常，更新设定的良品率阈值和剩余寿命阈值，得到新的良品率阈值和新的剩余寿命阈值，并调节铂金通道的运行参数；
[0011]S5：重复步骤S1
‑
S4，得到新的当前阻值变化率，新的当前产品良率以及新的剩余寿命，直至新的当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，且新的当前产品良率不小于新的产品良率阈值，且新的剩余寿命不小于新的剩余寿命阈值，完成基板玻璃铂金通道运行监测控制过程。
[0012]优选的，所述当前运行周期内的运行参数包括当前运行周期开始时间铂金通道的运行电流I
n
‑1、运行功率P
n
‑1、运行温度T
n
‑1和产品良率Y
n
‑1，以及当前运行周期结束时间铂金通道的运行电流I
n
、运行功率P
n
、运行温度T
n
和产品良率Y
n
；并形成当前运行周期内的运行
数据集{(I
n
‑1，P
n
‑1，T
n
‑1，Y
n
‑1)，(I
n
，P
n
，T
n
，Y
n
)}
[0013]优选的，所述铂金通道的当前阻值变化率通过式(1)获得：
[0014][0015]其中，t
n
为当前运行周期。
[0016]优选的，所述铂金通道的当前剩余寿命通过式(2)获得：
[0017][0018]其中，
[0019]ρ为极限电流参数；
[0020]π为圆周率；
[0021]h为基板玻璃铂金通道初始壁厚；
[0022]r为基板玻璃铂金通道内径；
[0023]v0为基板玻璃铂金通道损耗速度。
[0024]优选的，所述基板玻璃铂金通道损耗速度通过式(3)获得：
[0025][0026]其中，
[0027]k1、k2、b为计算常数；
[0028]e为自然指数；
[0029]T
aae
为当前运行周期开始时间铂金通道的运行温度T
n
‑1与当前运行周期结束时间铂金通道的运行温度T
n
的平均值。
[0030]优选的，所述当前良品率为当前运行周期开始时间铂金通道的产品良率Y
n
‑1，与当前运行周期结束时间铂金通道的产品良率Y
n
的平均值。
[0031]优选的，所述步骤S4中，调节铂金通道运行参数中的电流参数和温度参数。
[0032]一种基板玻璃铂金通道运行监测控制系统，包括：
[0033]数据采集单元，用于获取铂金通道的当前运行周期内的运行参数，并形成铂金通道的当前运行周期内的运行数据集；
[0034]数据处理单元，用于根据铂金通道的当前运行数据集，计算并获取铂金通道的当前阻值变化率、前剩余寿命以及当前良品率；
[0035]运行状态判断单元，用于设定铂金通道的阻值变化率阈值，剩余寿命阈值以及良品率阈值；并将铂金通道的当前阻值变化率，当前剩余寿命以及当前良品率分别与设定的阻值变化率阈值，剩余寿命阈值以及良品率阈值进行比较；
[0036]若当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行正常；若当前阻值变化率大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行不正常；
[0037]反馈调节单元，用于当基板玻璃铂金通道运行不正常时，更新设定的良品率阈值和剩余寿命阈值，得到新的良品率阈值和新的剩余寿命阈值，调节铂金通道的运行参数，并进入下一个循环监测控制过程，得到新的当前阻值变化率，新的当前产品良率以及新的剩余寿命，直至新的当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，且新的当前产品良率不
小于新的产品良率阈值，且新的剩余寿命不小于新的剩余寿命阈值，完成基板玻璃铂金通道运行监测控制过程。
[0038]一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述方法的步骤。
[0039]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述方法的步骤。
[0040]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：
[0041]一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，通过采集铂金通道运行的参数，并对其进行分析计算，得到铂金通道的当前阻值变化率、前剩余寿命以及当前良品率；将当前阻值变化率与设定的阻值变化率阈值进行比较，判断基板玻璃铂金通道运行是否正常，如果不正常，更新良品率阈值和剩余寿命阈值，综合考虑人工调节通道电流参数I和温度参数T，对铂金通道的运行进行调控，实现基板玻璃铂金通道运行稳定和延长铂金通道使用寿命。该方法设计合理，有效解决基板玻璃铂金通道运行状态的在线监测问题，跟踪判断铂金通道的运行状态，计算铂金通道剩余寿命，为产线工艺调整和线体整体寿命的延长提供依据。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取铂金通道的当前运行周期内的运行参数，形成铂金通道的当前运行周期内的运行数据集；S2：根据铂金通道的当前运行数据集，计算并获取铂金通道的当前阻值变化率、前剩余寿命以及当前良品率；S3：设定铂金通道的阻值变化率阈值，剩余寿命阈值以及良品率阈值；并将铂金通道的当前阻值变化率与设定的阻值变化率阈值比较，若当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行正常；若当前阻值变化率大于设定的阻值变化率阈值，则基板玻璃铂金通道运行不正常；S4：若基板玻璃铂金通道运行不正常，更新设定的良品率阈值和剩余寿命阈值，得到新的良品率阈值和新的剩余寿命阈值，并调节铂金通道的运行参数；S5：重复步骤S1
‑
S4，得到新的当前阻值变化率，新的当前产品良率以及新的剩余寿命，直至新的当前阻值变化率不大于设定的阻值变化率阈值，且新的当前产品良率不小于新的产品良率阈值，且新的剩余寿命不小于新的剩余寿命阈值，完成基板玻璃铂金通道运行监测控制过程。2.根据权利要求1所述的一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，其特征在于，所述当前运行周期内的运行参数包括当前运行周期开始时间铂金通道的运行电流I
n
‑1、运行功率P
n
‑1、运行温度T
n
‑1和产品良率Y
n
‑1，以及当前运行周期结束时间铂金通道的运行电流I
n
、运行功率P
n
、运行温度T
n
和产品良率Y
n
；并形成当前运行周期内的运行数据集{(I
n
‑1，P
n
‑1，T
n
‑1，Y
n
‑1)，(I
n
，P
n
，T
n
，Y
n
)}。3.根据权利要求2所述的一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，其特征在于，所述铂金通道的当前阻值变化率通过式(1)获得：其中，t
n
为当前运行周期。4.根据权利要求2所述的一种基板玻璃铂金通道运行监测控制方法，其特征在于，所述铂金通道的当前剩余寿命通过式(2)获得：其中，ρ为极限电流参数；π为圆周率；h为基板玻璃铂金通道初始壁厚；r为基板玻璃铂金通道内径；v0为基板玻璃铂金...

【专利技术属性】
技术研发人员：王答成，俞超，王梦龙，杨威，张峰，焦一凡，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：