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光电耦合漏电保护装置制造方法及图纸

技术编号:3337218 阅读:199 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种光电耦合漏电保护装置,由光电耦合器、双向可控硅、继电器及外围二极管、电阻组成继电器控制电路,继电器的常闭触头分别接电源的输入端和输出端之间,双向可控硅的一端与光电耦合器的输出端连接,另一端接继电器控制端,二极管D2、D3并联后与光电耦合器的检测端串联,光电耦合器的感应线通过稳压二极管接电器的外壳。采用光电耦合技术瞬间激通保护电路,可与地线并用,结构简单,移动性强,干侧电压达20~30V,电流强度为0.01/mA,动作时间0.2S,使用温度-30~80℃,即有极强的抗震性能,可广泛的应用于各种家用电器和机电设备。(*该技术在2012年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术公开一种光电耦合漏电保护装置,涉及电器漏电保护装置

技术介绍
现有的家用电器、仪器一般没有漏电保护装置,经常采用外壳接地或外壳与三相插头的地线连接方法实现漏电保护。上述方法对于非专业人员的自行安装很难达到真正的接地,并且许多家庭不具有三相插座,因此,家用电器、仪器在使用过程中常常出现不安全的隐患。
技术实现思路
本技术公开一种光电耦合漏电保护装置,克服了现有电器简单外壳接地实现漏电保护方法的缺欠。本技术的技术解决方案如下由光电耦合器、双向可控硅、继电器及外围二极管、电阻组成继电器控制电路,继电器的常闭触头分别接电源的输入端和输出端之间,双向可控硅的一端与光电耦合器的输出端连接,另一端接继电器控制端,二极管D2、D3并联后与光电耦合器的检测端串联,光电耦合器的感应线通过稳压二极管接电器的外壳。本装置在使用时感应线接在电器的外壳,当外壳漏电带有电压信号时,激通稳压二级管,通过光电耦合器及电阻降压,经二极管D2、D3回至零线或进入地线;同时,光电耦合器的另一端电路导通,经电阻R2过来的电流流过光电耦合器,激发可控硅VTH使继电器线圈L1导通,继电器触头KJ1、KJ2断开,电器电源被切断,达到漏电保护作用,K为测试开关,可检测该系统工作情况。本技术的积极效果在于采用光电耦合技术瞬间激通保护电路,可与地线并用,结构简单,移动性强,干侧电压达20~30V,电流强度为0.01/mA,动作时间0.2S,使用温度-30~80℃,即有极强的抗震性能,可广泛的应用于各种家用电器和机电设备。附图说明;图1为本技术电路原理图。W~光电耦合器、J~继电器、JK1、JK2~常闭触头、VTH~可控硅二极管、D1、D2、D3~二极管、R1、R2、R3~电阻、K~测试开关。具体实施方式结合图1所示,由光电耦合器W、可控硅VTH、继电器J及二极管D1、D2、D3、电阻R1、R2构成本漏电保护装置,其中,光电耦合器W的输入端1通过二极管D1接电器的外壳,输入端2经电阻R1接地,同时经二极管D2、D3构成漏电保护装置并接电源输出端,继电器J的常闭触点KJ1、KJ2接电源输入端和输出端之间,光电耦合器W的输出端4与可控硅VTH的输入端串联接继电器J的控制端,线圈L1为继电器J的铁芯线圈,输出端3与电阻3、测试开关K连接构成测试电路。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电耦合漏电保护装置,其特征在于:由光电耦合器、双向可控硅、继电器及外围二极管、电阻组成继电器控制电路,继电器的常闭触头分别接电源的输入端和输出端之间,双向可控硅的一端与光电耦合器的输出端连接,另一端接继电器控制端,二极管D2、D3并联后与光电耦合器的检测端串联,光电耦合器的感应线通过稳压二极管接电器的外壳。

【技术特征摘要】
1.一种光电耦合漏电保护装置,其特征在于由光电耦合器、双向可控硅、继电器及外围二极管、电阻组成继电器控制电路,继电器的常闭触头分别接电源的输入端和输出端之间,双向可控硅的一端与光电耦合器的输出端连接,另一端接...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱纯芳孙连福姜作辉
申请(专利权)人:朱纯芳
类型:实用新型
国别省市:82[中国|长春]

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