显示面板Mura补偿方法、系统、电子装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示面板Mura补偿方法，所述显示面板Mura补偿方法包括：采集所述显示面板的显示图像，根据所述显示图像得到显示面板的面板参数；去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域；根据所述面板参数计算所述显示面板的Gamma值，并确定所述显示面板的Gamma曲线；根据所述Gamma曲线得到所述显示面板各区域的亮度值；根据所述显示面板各区域的亮度值得到面板显示的理想二次区域；根据所述二次曲面计算补偿参数，并基于所述补偿参数对所述显示面板进行补偿。本发明专利技术还提供显示面板Mura补偿系统、电子装置和存储介质。本发明专利技术可以提高并改善显示面板的显示效果。高并改善显示面板的显示效果。高并改善显示面板的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
显示面板Mura补偿方法、系统、电子装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及一种显示
，尤其涉及一种显示面板Mura补偿方法、系统、电子装置及存储介质。

技术介绍

[0002]目前在平面显示面板生产过程中，由于制造工艺或元器件电气特性等原因经常会在显示时会出现画面显示不均匀(Mura)的现象。为了弥补这种不足，提升画面质量，在制程中通常对面板进行参数补偿，这就是De
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Mura。De
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Mura技术的基本原理是，让面板显示灰阶画面，用电容耦合器件拍摄屏幕，获取面板中各像素点的亮度值，然后调整Mura区域的像素点的灰度值或电压，使过暗的区域变亮、过亮的区域变暗，达到均匀的显示效果。

技术实现思路

[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种显示面板Mura补偿方法、系统、电子装置及存储介质，可以提高并改善显示面板的显示效果。
[0004]本申请的第一方面提供一种显示面板Mura补偿方法，所述显示面板Mura补偿方法包括：采集所述显示面板的显示图像，根据所述显示图像得到显示面板的面板参数，其中，所述面板参数包括显示图像中各像素点的灰度值和亮度值；去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域；根据所述面板参数计算所述显示面板的Gamma值，并确定所述显示面板的Gamma曲线；根据所述Gamma曲线得到所述显示面板各区域的亮度值；根据所述显示面板各区域的亮度值得到面板显示的理想二次曲面；根据所述二次曲面计算补偿参数，并基于所述补偿参数对所述显示面板进行补偿。r/>[0005]本申请的第二方面提供一种显示面板Mura补偿系统，所述显示面板Mura补偿系统包括：采集模块，用于采集所述显示面板的显示图像，根据所述显示图像得到显示面板的面板参数，其中，所述面板参数包括显示图像中各像素点的灰度值和亮度值；处理模块，用于去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域；计算模块，用于根据所述面板参数计算所述显示面板的Gamma值，并确定所述显示面板的Gamma曲线；所述处理模块，还用于根据所述Gamma曲线得到所述显示面板各区域的亮度值；所述处理模块，还用于根据所述显示面板各区域的亮度值得到面板显示的理想二次曲面；所述计算模块，还用于根据所述二次曲面计算补偿参数，并基于所述补偿参数对所述显示面板进行补偿。
[0006]本申请的第三方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有至少一个指令，所述至少一个指令被处理器执行时实现所述显示面板Mura补偿方法。
[0007]本申请的第四方面提供一种电子装置，所述电子装置包括存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有至少一个指令，所述至少一个指令被所述至少一个处理器执行时实现所述显示面板Mura补偿方法。
[0008]相较于现有技术，所述显示面板Mura补偿方法、系统、电子装置及存储介质，可以根据采集的面板参数资料，求出完美二次曲面作为理想目标曲面；通过亮度补偿的方式去
矫正平面/曲面显示面板的整体显示亮度，提高并改善显示面板的显示效果。
附图说明
[0009]图1是本专利技术较佳实施例的电子装置的架构图。
[0010]图2是本专利技术较佳实施例的显示面板Mura补偿系统的功能模块图。
[0011]图3是本专利技术较佳实施例的显示面板Mura补偿方法的流程图。
[0012]主要元件符号说明
[0013]电子装置1显示面板10存储器11处理器12补偿系统100采集模块101处理模块102计算模块103
[0014]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0015]为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0016]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0017]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。
[0018]参阅图1所示，为本专利技术较佳实施例提供的电子装置的架构图。
[0019]本实施例中，电子装置1包括互相之间电气连接的显示面板10、存储器11、至少一个处理器12。
[0020]本领域技术人员应该了解，图1示出的电子装置1的结构并不构成本专利技术实施例的限定，所述电子装置1还可以包括比图1更多或更少的其他硬件或者软件，或者不同的部件布置。
[0021]需要说明的是，所述电子装置1仅为举例，其他现有的或今后可能出现的电子装置如可适应于本专利技术，也应包含在本专利技术的保护范围以内，并以引用方式包含于此。
[0022]在本实施例中，所述显示面板10可以为有机发光二极管(Organic Light Emitting Display，OLED)显示面板或者量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)。
[0023]在一些实施例中，所述存储器11可以用于存储计算机程序的程序代码和各种数
据。例如，所述存储器11可以用于存储安装在所述电子装置1中的显示面板Mura补偿系统100(便于说明，下文中简写为“补偿系统100”)，并在电子装置1的运行过程中实现高速、自动地完成程序或数据的存取。所述存储器11可以是包括只读存储器(Read
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Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable Read
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Only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read
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Only Memory，EPROM)、一次可编程只读存储器(One
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time Programmable Read
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Only Memory，OTPROM)、电子擦除式可复写只读存储器(Electrically
‑
Erasable Programmable Read
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Only Memory，EEPROM)、只读光盘(Compact Disc Read
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Only Memory，CD
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ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者任何其他能够用于携带或存储数据的非易失性的计算机可读的存储介质。
[0024]在一些实施例中，所述至少一个处理器12可以由集成电路组成。例如，可以由单个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，包括一个或者本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板Mura补偿方法，其特征在于，该方法包括：采集所述显示面板的显示图像，根据所述显示图像得到显示面板的面板参数，其中，所述面板参数包括显示图像中各像素点的灰度值和亮度值；去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域；根据所述面板参数计算所述显示面板的Gamma值，并确定所述显示面板的Gamma曲线；根据所述Gamma曲线得到所述显示面板各区域的亮度值；根据所述显示面板各区域的亮度值得到面板显示的理想二次曲面；根据所述二次曲面计算补偿参数，并基于所述补偿参数对所述显示面板进行补偿。2.如权利要求1所述的显示面板Mura补偿方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述面板参数确认所述显示面板上是否存在异物。3.如权利要求2所述的显示面板Mura补偿方法，其特征在于，确认所述显示面板上是否存在异物的方法包括：侦测所述显示图像中的每一子像素的灰度值；比较每一子像素的灰度值与该子像素相邻的至少两个子像素的灰度值；判断该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰度值的差异是否达到预设阈值；若该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰度值的差异达到所述预设阈值，确定所述显示面板上存在异物；或若该子像素与其相邻的至少两个子像素之间的灰度值的差异没有达到所述预设阈值，确定所述显示面板上不存在异物。4.如权利要求1所述的显示面板Mura补偿方法，其特征在于，所述去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域包括：基于边缘检测算法得到所述显示图像中异物的边缘，得到异物图像；通过最小外接矩形算法对所述异物图像进行扫描，获得异物矩形图；去除所述异物矩形图中的像素点，得到空白区域；及通过线性内插法对所述空白区域进行补偿。5.如权利要求4所述的显示面板Mura补偿方法，其特征在于，在所述去除所述显示图像中的异物区域并填补去除的区域之前，所述方法还包括：利用图像处理技术对所述显示图像进行滤波，其中对所述显示图像进行滤波的方法包括中值滤波、均值滤波、高斯滤波、双边滤波中的任意一种。6.如权利要求1所述的显示面板Mura补偿方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：张燕妮，张辉，
申请(专利权)人：鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：