【技术实现步骤摘要】
一种基于MEMS工艺的新型微带环行器及其加工方法
[0001]本专利技术涉及一种环行器及其加工方法,尤其涉及一种基于MEMS工艺的新型微带环行器及其加工方法。
技术介绍
[0002]环行器是微波工程中一类重要的基础性器件,其广泛应用于民用通讯、微波测量、雷达、通信、电子对抗、航空航天等各种民用、军用设备中,在设备中主要用来实现天线收发共用,级间隔离等问题。当前基于硅基MEMS技术的微带环行器因为具有承载功率大、旋磁区域可控、加工精度高、一致性好、稳定性高、易于集成、便于调试等优点,在一些使用场景里逐渐开始替代铁氧体基微带环行器,在当代相控阵雷达、电子对抗等军事领域应用中具有十分重要的地位。
[0003]随着电子元器件小型化、集成化的发展,对微波磁性元器件也提出了同样的需求。传统的加工工艺已经不能满足微带环行器的发展,因此基于MEMS技术的硅基微带环行器应运而生。
[0004]一般意义上基于MEMS技术的硅基微带环行器主要通过上下两片硅基片组合的方式制作而成,其中安装旋磁铁氧体基片的铁氧体槽是通过硅片通孔刻蚀和 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于MEMS工艺的新型微带环行器,包括从上到下依次设置的永磁体、介质基板、铁底板,其特征在于:所述介质基板包括水平设置的硅晶圆,所述硅晶圆上表面设有一聚酰亚胺薄膜;聚酰亚胺薄膜上表面设有一上Cr/Au双层膜,上Cr/Au双层膜上蚀刻有上表面电路,上表面电路上设有一上镀Au层,所述上镀Au层通过陶瓷基片与永磁体粘接;硅晶圆下表面设有一下Cr/Au双层膜,且下Cr/Au双层膜上蚀刻有下表面电路,硅晶圆中部还蚀刻有一铁氧体槽,所述铁氧体槽两端分别贯穿硅晶圆和下Cr/Au双层膜,且下表面电路下方还设有一下镀Au层,所述铁氧体槽内嵌套有旋磁铁氧体,所述旋磁铁氧体外壁与铁氧体槽内壁匹配贴合、底部与下镀Au层下表面平齐。2.根据权利要求1所述的一种基于MEMS工艺的新型微带环行器,其特征在于:上Cr/Au双层膜和下Cr/Au双层膜结构相同,包括一Cr膜和一Au膜,所述Cr膜靠近硅晶圆,且Cr膜厚度为25
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35nm,Au膜厚度为190
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210nm;所述上镀Au层和下镀Au层厚度相同,均大于4um。3.根据权利要求1所述的一种基于MEMS工艺的新型微带环行器,其特征在于:所述聚酰亚胺薄膜中含有陶瓷成份,厚度为22
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27um。4.根据权利要求1所述的一种基于MEMS工艺的新型微带环行器的加工方法,其特征在于:包括以下步骤;(1)选取一电阻率为5000
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10000Ω.cm的高阻硅片制成的硅晶圆,确定其正面和反面,并清洗;(2)对硅晶圆进行氧等离子处理,处理时间为180s;(3)真空环境下,在硅晶圆正面贴一厚度为20
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30um的聚酰亚胺薄膜,得到半成品A1,所述薄膜为聚酰亚胺光刻胶,且聚酰亚胺光刻胶内含有陶瓷成分;(4)将半成品A1正面泛曝光处理,再在真空环境下退火处理;(5)镀膜:在半成品A1的正面和反面,分别沉积Cr/Au双层膜,得到半成品A2,其中正面的为上Cr/Au双层膜,反面的为下Cr/Au双层膜;(6)上表面电路制作,包括步骤(61)
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(63);(61)将半成品A2放入HMDS烘箱做预处理,处理温度为120℃,在其正面涂正胶,厚度为3.3
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4um,再进行曝光、显影和热板烘烤,得到半成品A3,其中曝光时光源为405nm,曝光量为200MJ;(62)在半...
【专利技术属性】
技术研发人员:李晓宇,高春燕,田珺宏,胡艺缤,张志红,
申请(专利权)人:西南应用磁学研究所中国电子科技集团公司第九研究所,
类型:发明
国别省市:
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