一种芯片stop电流测试的系统及其方法技术方案

本发明专利技术揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。本发明专利技术极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。提高了芯片量产的测试效率。提高了芯片量产的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片stop电流测试的系统及其方法


[0001]本专利技术属于芯片领域，特别涉及一种芯片stop电流测试的系统及其方法。

技术介绍

[0002]芯片的测试是芯片生产中一个重要的环节，用于区分工厂生产的芯片中的良品和不良品，做好芯片的测试是芯片行业的必需要求。
[0003]芯片的stop模式指的是芯片的掉电模式，可以让芯片在不需要工作时的功耗变得极低，从而减少电能的消耗。在便携式移动设备中，芯片的功耗直接决定了设备的待机时长，是设备的重要参数之一。
[0004]stop电流测试是测试芯片中的一个重要指标，通过测试stop电流可以看芯片是否进入了stop模式。现有技术中，主要通过芯片的flash来事先下载测试指令并在测试后擦除flash以实现stop电流测试，这降低了stop电流测试的效率且综合成本较高。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提出一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：
[0006]指令灌入模块，用于连接芯片的3TAG口；
[0007]并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；
[0008]其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。
[0009]优选的，
[0010]在配置完芯片中的寄存器后，自动关闭debug请求，芯片直接进入stop模式。
[0011]优选的，
[0012]所述系统免除测试时利用flash下载指令。
[0013]优选的，
[0014]所述系统免除测试后对flash擦除。
[0015]优选的，
[0016]所述指令灌入模块的工作时间，远远小于下载指令到flash并擦除flash的时间。
[0017]此外，本专利技术还揭示了一种芯片stop电流测试的方法，所述方法包括如下步骤：
[0018]S100、将指令灌入模块连接芯片的JTAG口；
[0019]S200、当芯片进入debug模式后，指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；
[0020]其中，所述方法免除对芯片中flash的利用。
[0021]优选的，
[0022]所述步骤S200之后还包括如下步骤：
[0023]S300、在配置完芯片中的寄存器后，自动关闭debug请求，芯片直接进入stop模式。
[0024]优选的，
[0025]所述方法免除测试时利用flash下载指令。
[0026]优选的，
[0027]所述方法免除测试后对flash擦除。
[0028]优选的，
[0029]所述指令灌入模块的工作时间，远远小于下载指令到flash并擦除flash的时间。
[0030]本专利技术具备如下技术效果：
[0031]通过上述方案，本专利技术极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0033]图1是本专利技术的一个实施例中的系统示意图。
具体实施方式
[0034]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图1，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0035]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0037]在本专利技术的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0038]此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0039]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术的实施例中的特征可以相互结合。
[0040]参见图1，在一个实施例中，本专利技术揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：
[0041]指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；
[0042]并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；
[0043]其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。
[0044]对于上述实施例，其免除了对芯片中flash的利用，而是仅仅使用芯片的JTAG口和芯片中的CPU即可实现测试，测试的关键在于：直接通过JTAG口将指令一次性的灌入芯片中的CPU。本专利技术极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。
[0045]在另一个实施例中，
[0046]在配置完芯片中的寄存器后，自动关闭debug请求，芯片直接进入stop模式。
[0047]在另一个实施例中，
[0048]所述系统免除测试时利用flash下载指令。
[0049]在另一个实施例中，
[0050]所述系统免除测试后对flash擦除。
[0051]在另一个实施例中，
[0052]所述指令灌入模块的工作时间，远远小于下载指令到flash并擦除flash的时间。
[0053]此外，在一个实施例中，本专利技术还揭示了一种芯片stop电流测试的方法，所述方法包括如下步骤：
[0054]S100、将指令灌入模块连接芯片的JTAG口；
[0055]S200、当芯片进入debug模式后，指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；
[0056]其中，所述方法免除对芯片中flash的利用。
[0057]在另一个实施例中，
[0058]所述步骤S200之后还包括如下步骤：
[0059]S300、在配置完芯片中的寄存器后，自动关闭debug请求，芯片直接进入stop模式。
[0060]在另一个实施例中，
[0061]所述方法免除测试时利用flash下载指令。
[0062]在另一个实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。2.如权利要求1所述的系统，其中，优选的，在配置完芯片中的寄存器后，自动关闭debug请求，芯片直接进入stop模式。3.如权利要求1所述的系统，其中，所述系统免除测试时利用flash下载指令。4.如权利要求2所述的系统，其中，所述系统免除测试后对flash擦除。5.如权利要求1所述的系统，其中，所述指令灌入模块的工作时间，远远小于下载指令到flash并擦除flash的时间。6.一种芯片stop电流测试的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：张兵，印俊明，兰海鑫，
申请(专利权)人：上海芯圣电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：