片上系统诊断方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种片上系统诊断方法和装置，该方法包括：通过信号选择单元选择芯片内部待测试模块的数据和信号，使用选择镜像的方式将信号传输至采样单元；根据信号选择状态，利用采样单元对待测试模块产生的信号进行实时采样和抓取，并将采样结果传输至输出单元；在输出单元将采样结果按照预定义数据格式进行封装，然后将采样结果输出到片外；利用片外工具接收并存储所输出的采样结果，按照预定义数据格式对采样结果进行解析，以实现芯片待测试模块的调试分析。本发明专利技术解决了传统芯片诊断方法存在的局限性，提高了产品化芯片的现场故障定位分析和海量数据流场景下的故障定位分析能力，增强了监控信号数量的扩展性。增强了监控信号数量的扩展性。增强了监控信号数量的扩展性。

【技术实现步骤摘要】
片上系统诊断方法和装置


[0001]本专利技术属于芯片开发领域，特别涉及一种片上系统诊断方法和装置。

技术介绍

[0002]伴随芯片开发技术和制造工艺的不断演进，集成电路片上系统的功能模块数量持续增加，规模也越来越大，复杂度也随之升高。因此，必须在设计芯片前期通过芯片的诊断来快速有效地定位及分析芯片发生的异常问题。一旦芯片制造出来，若存在内部模块通过现有调试手段无法定位解决的异常问题，那么可能会造成整个芯片的运行失败。
[0003]现有技术中典型的片上系统如图1所示，通常采用I/O端口输出监控信号和示波器分析的诊断方法，将芯片内部的关键信号通过选择后控制输出到I/O，利用外部设备进行观测分析，以监测片上系统内部模块的特定信号状态，判断当前模块的运行状态是否达到预期设计。具体而言，在芯片设计阶段，系统内部各个功能模块设计人员挑选指示模块运行状态的关键信号，输送至片内的信号选择单元；信号选择单元依据运行时刻软件的实时配置，动态选择特定模块的相应信号，输出到I/O单元；I/O单元将信号选择单元选择的特定信号输出到芯片的管脚，提供外围监测的可行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种片上系统诊断方法，其特征在于，包括：S101、通过信号选择单元选择芯片内部待测试模块的数据和信号，使用选择镜像的方式将信号传输至采样单元；S102、根据信号选择状态，利用所述采样单元对所述待测试模块产生的信号进行实时采样和抓取，并将采样结果传输至输出单元；S103、在所述输出单元将所述采样结果按照预定义数据格式进行封装，然后将所述采样结果输出到片外；S104、利用片外工具接收并存储所输出的采样结果，按照所述预定义数据格式对所述采样结果进行解析，以实现所述芯片待测试模块的调试分析。2.根据权利要求1所述的片上系统诊断方法，其特征在于，所述预定义数据格式包括类型字段，用于指定与当前数据包的来源所对应的芯片模块。3.根据权利要求1所述的片上系统诊断方法，其特征在于，在所述按照预定义数据格式对所述采样结果进行解析之后，进一步包括：将解析后的数据发送到可视化界面进行显示。4.根据权利要求1所述的片上系统诊断方法，其特征在于，所述将所述采样结果输出到片外，进一步包括：通过所述片上系统的通用协议接口将所述采样结果输出到片外。5.根据权利要求4所述的片上系统诊断方法，其特征在于：所述通用协议接口包括U...

【专利技术属性】
技术研发人员：田建军，刁永翔，宫晓渊，
申请(专利权)人：无锡众星微系统技术有限公司，
类型：发明
国别省市：