本发明专利技术实施例提供了一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：控制待检测设备第i次上电，其中，待检测设备上连接有多个外设，i大于或等于1；读取待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，第i个日志文件集合中包括多个外设的日志文件；根据第i个日志文件集合对多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。通过本发明专利技术，解决了相关技术中存储设备外设的可靠性测试效率较低的问题，进而达到了提高存储设备外设的可靠性测试效率的效果。测试效率的效果。测试效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置
[0001]本专利技术实施例涉及通信领域，具体而言，涉及一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置。
技术介绍
[0002]相关领域中，通过对设备的整机上下电操作，可以测试设备的可靠性。即，可以通过对待检测设备进行多次上下电的操作，校验待检测设备是否正常。在待检测设备是存储设备的情况下，通过对存储设备的上下电操作还可以检测存储设备外设的可靠性。
[0003]现有技术中，在对待检测设备上下电操作时，是通过人工查看后台管理界面的日志信息，确认待检测设备的外设是否正常，但是这样需要在设备完全启动之后，才可以在后台界面的日志信息中查看待检测设备外设的状态，平均循环一次上下电操作需要5
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6分钟，导致设备外设的可靠性测试效率较低。此外，现有技术中的上下电测试只能实现简单的上下电压力测试，无法对测试过程中的问题进行记录和跟踪。
[0004]针对相关技术中存在的上述问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例提供了一种可靠性的校验方法、装置、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中存储设备外设的可靠性测试效率较低的问题。
[0006]根据本专利技术的一个实施例，提供了一种可靠性校验的方法，包括：控制待检测设备第i次上电，其中，所述待检测设备上连接有多个外设，所述i大于或等于1；读取所述待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，所述第i个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。
[0007]可选地，在所述得到第i次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备保持所述第i次上电；或者，在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电。
[0008]可选地，在所述控制所述待检测设备下电之后，所述方法还包括：控制所述待检测设备第i+1次上电，并读取所述待检测设备发送的第i+1个日志文件集合，其中，所述第i+1个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i+1个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i+1次校验结果。
[0009]可选地，在所述得到第i+1次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i+1个日志文件集合中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电；或者，在所述i+1等于N的情况下，控制所述待检测设备下电，其中，所述N是控制所述待检测设备上电的最高次数，N大于1。
[0010]可选地，所述方法还包括：在所述多个外设中的目标外设出现所述校验错误的情
况下，将与所述目标外设对应的目标计数值加一。
[0011]可选地，所述根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，包括：对所述第i个日志文件集合中的每个日志文件执行以下操作，在执行以下操作时，每个日志文件为当前日志文件：将所述当前日志文件与对应的预设日志文件进行匹配；在所述当前日志文件与所述对应的预设日志文件匹配的情况下，将所述当前日志文件对应的外设确定为校验成功的外设；在当前日志文件与所述对应的预设日志文件不匹配的情况下，将所述当前日志文件对应的外设确定为校验错误的外设。
[0012]根据本专利技术的另一个实施例，提供了一种可靠性校验的系统，包括：待检测设备，所述待检测设备与多个外设连接，用于获取所述多个外设的日志文件；工装板，用于控制待检测设备第i次上电，并读取待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，所述第i个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。
[0013]根据本专利技术的另一个实施例，提供了一种可靠性校验的装置，包括：控制模块，用于控制待检测设备第i次上电，其中，所述待检测设备上连接有多个外设，所述i大于或等于1；读取模块，用于读取所述待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，所述第i个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；校验模块，用于根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。
[0014]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项中所述的方法的步骤。
[0015]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
[0016]通过本专利技术，通过控制连接有多个外设的待检测设备的第i次上电，读取待检测设备发送的包括多个外设日志文件的第i个日志文件集合，根据第i个日志文件集合对待检测设备连接的多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。由此实现了根据外设日志文件对待检测设备外设的可靠性循环检测的目的，达到了根据日志文件集合对存储设备外设的可靠性进行自动化校验的效果，进而可以解决现有技术中人工校验存储设备外设的可靠性效率较低的问题。
附图说明
[0017]图1是根据本专利技术实施例的一种可靠性校验的方法的移动终端硬件结构框图；
[0018]图2是根据本专利技术实施例的可靠性校验的方法流程图；
[0019]图3是根据本专利技术实施例的一种可选地可靠性校验的方法流程图；
[0020]图4是根据本专利技术实施例的另一种可选地可靠性校验的方法流程图；
[0021]图5是根据本专利技术实施例的可靠性校验的系统结构框图；
[0022]图6是根据本专利技术实施例的可靠性校验的装置的结构框图。
具体实施方式
[0023]下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术的实施例。
[0024]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0025]本申请实施例中所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。以运行在移动终端上为例，图1是本专利技术实施例的一种可靠性校验的方法的移动终端的硬件结构框图。如图1所示，移动终端可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器104，其中，上述移动终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述移动终端的结构造成限定。例如，移动终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。
[0026]存储器104可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本专利技术实施例中的可靠性校验的方法对应的计算机程序，处理器102通过运行存本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可靠性校验的方法，其特征在于，包括：控制待检测设备第i次上电，其中，所述待检测设备上连接有多个外设，所述i大于或等于1；读取所述待检测设备发送的第i个日志文件集合，其中，所述第i个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i次校验结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到第i次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备保持所述第i次上电；或者，在所述第i次校验结果中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述控制所述待检测设备下电之后，所述方法还包括：控制所述待检测设备第i+1次上电，并读取所述待检测设备发送的第i+1个日志文件集合，其中，所述第i+1个日志文件集合中包括所述多个外设的日志文件；根据所述第i+1个日志文件集合对所述多个外设的可靠性进行校验，得到第i+1次校验结果。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述得到第i+1次校验结果之后，所述方法还包括：在所述第i+1个日志文件集合中包括至少一个外设出现校验错误的情况下，控制所述待检测设备下电；或者，在所述i+1等于N的情况下，控制所述待检测设备下电，其中，所述N是控制所述待检测设备上电的最高次数，N大于1。5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述多个外设中的目标外设出现所述校验错误的情况下，将与所述目标外设对应的目标计数值加一。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第i...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴志豪，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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