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本发明揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。本...
该专利属于上海芯圣电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯圣电子股份有限公司授权不得商用。

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