一种矿浆分析仪的冷却系统技术方案

本申请属于矿浆分析仪技术领域，提供一种矿浆分析仪的冷却系统，矿浆分析仪包括X荧光探头，冷却系统包括水箱和用于对水箱内部的循环水进行降温的制冷装置，X荧光探头包括外壳体、内壳体和X射线管组件，X射线管组件设置在内壳体内部，内壳体设置在外壳体内部，外壳体内侧壁与内壳体外侧壁之间形成有过水间隙，外壳体上还设有进水口和出水口，所述进水口、出水口和间隙相互连通；所述外壳体的进水口与所述水箱之间连接有第一出水管路，所述外壳体的出水口与所述水箱之间连接有第一回水管路。本申请X荧光探头的外壳体与内壳体之间通有冷却循环水对X荧光探头进行冷却，能够保护X荧光探头，防止X荧光探头内的X射线管组件因温度过高而损坏。而损坏。而损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种矿浆分析仪的冷却系统


[0001]本申请属于矿浆分析仪
，特指一种矿浆分析仪的冷却系统。

技术介绍

[0002]矿浆分析仪基于波长色散X射线荧光(WDXRF)分析方法，用X射线激发矿浆元素，配合独特的元素分光镜和放大电路，测量获取矿浆中各种元素的含量，是一种用于精确可靠测量矿浆元素含量品位的荧光分析设备。矿浆分析仪由4大部分组成：样品取样设备、探头X射线执行柜、探头控制装置和分析仪管理站。其中，探头X射线执行柜内装有X射线管。
[0003]在某个样品被测量之前,分析仪管理站发出指令,样品取样设备就开始截取样品,样品通过自流管流到取样厂房内的多路器，多路器内配有气缸,其作用是将指定的样品送入指定样品槽，样品从样品槽再进入测量样品盒,在测量样品盒内由X射线管对样品进行辐射和测量元素含量，分析仪管理站根据被测量元素强度来分析计算出样品的品位。
[0004]其中，X射线管供电由高压发生器提供，电压为50KV,电流4mA,功率为 200W，X射线管组件温度过高容易损坏。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种矿浆分析仪的冷却系统，所述矿浆分析仪包括X荧光探头，其特征在于，所述冷却系统包括水箱和用于对所述水箱的储水进行降温的制冷装置，所述X荧光探头包括外壳体、内壳体和X射线管组件，所述X射线管组件设置在所述内壳体的内部，所述内壳体设置在所述外壳体的内部，所述外壳体的内侧壁与所述内壳体的外侧壁之间形成有过水间隙，所述外壳体上还开设有进水口和出水口，所述进水口、所述出水口以及所述过水间隙相互连通；所述外壳体的进水口与所述水箱之间连接有第一出水管路，所述外壳体的出水口与所述水箱之间连接有第一回水管路。2.根据权利要求1所述矿浆分析仪的冷却系统，其特征在于，所述制冷装置包括冷水机以及与所述水箱相连接的第二出水管路、第二回水管路，所述冷水机的进水口通过所述第二出水管路与所述水箱相连接，冷水机的出水口通过所述第二回水管路与所述水箱相连接。3.根据权利要求2所述矿浆分析仪的冷却系统，其特征在于，所述第二回水管路靠近所述水箱的一端设有第一支管和第二支管，所述第一支管的一端与所述第二回水管路相连接，所述第一支管的另一端与所述第一回水管路相连接；所述第二支管的一端与所述第二回水管路相连，所述第二支管的另一端与所述水箱相连接；所述第二出水管路和/或所述第二回水管路上设有第一水泵。4.根据权利要求3所述矿浆分析仪的冷却系统，其特征在于，所述第一支管上设有用于控制所述第一支管启闭的第一电动温控阀，所述第一电动温控阀上设有第一温度传感器，所述第一温度传感器内置于所述第一回水管路。5.根据权利要求2所述矿...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑伦，彭早生，卢智峰，王建安，周艳飞，陈忠玉，杨成，李大胜，潘炜，姚宇，黄健，陈有文，邹孝胜，
申请(专利权)人：深圳市中金岭南有色金属股份有限公司凡口铅锌矿，
类型：新型
国别省市：