一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统，先对待测试样品进行测试，得到原始谱图，然后根据原始谱图计算待测试样品中各元素的浓度预估值，最后以浓度预估值作为基本参数法的浓度初始值，基于基本参数法进行迭代计算，得到待测试样品中各元素的浓度实际值，进而对基本参数法进行优化，为基本参数法提供更加准确的浓度初始值，在基于基本参数法进行迭代计算时所用计算时间大大减少，提高计算效率，且能解决基体效应中吸收增强效应所带来的负面影响的问题，更加精确可靠的提取待测试样品中各个元素的净强度，从而快速、精确的获得元素定量分析结果。精确的获得元素定量分析结果。精确的获得元素定量分析结果。

【技术实现步骤摘要】
一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统


[0001]本专利技术涉及元素定量分析
，特别是涉及一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统。

技术介绍

[0002]全元素X射线荧光光谱仪在进行光谱分析时，一般是依据元素特征线强度与其在样品中的含量成线性关系来进行元素定量测量，但由于吸收增强效应的存在，导致特征线强度被提高，而自身的特征线强度被降低，使得元素含量与元素荧光谱线的净强度之间呈现非常复杂的非线性关系，X射线谱线会有不同程度的展宽，谱线重叠不可避免。基本参数法能在一定程度上校正基体效应，且已经成为了XRF分析方法中的主流分析方法，但基本参数法计算参数众多且需要多次迭代反算元素含量，计算量巨大，计算时间过长，因此如何优化基本参数法，以缩短计算时间，快速进行元素定量分析是亟需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统，对基本参数法进行优化，快速进行元素定量分析。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：<br/>[0005]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法，其特征在于，所述分析方法包括：对待测试样品进行测试，得到原始谱图；所述原始谱图为所述待测试样品中各元素的荧光强度分布图；根据所述原始谱图计算所述待测试样品中各元素的浓度预估值；以所述浓度预估值作为基本参数法的浓度初始值，基于所述基本参数法进行迭代计算，得到所述待测试样品中各元素的浓度实际值。2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述待测试样品包括熔融片系统、氧化物系统和元素系统。3.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，在根据所述原始谱图计算所述待测试样品中各元素的浓度预估值之前，所述分析方法还包括：对所述原始谱图进行平滑处理和背景扣除处理，得到目标谱图，并以所述目标谱图作为新的原始谱图。4.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述根据所述原始谱图计算所述待测试样品中各元素的浓度预估值具体包括：根据所述原始谱图确定所述待测试样品中各元素的实测荧光强度；根据所述各元素的实测荧光强度计算每一所述元素对应的基体效应因子；对于每一所述元素，根据所述元素的实测荧光强度和所述基体效应因子计算所述元素对应的浓度预估值，得到所述待测试样品中各元素的浓度预估值。5.根据权利要求4所述的分析方法，其特征在于，所述根据所述各元素的实测荧光强度计算每一所述元素对应的基体效应因子具体包括：F
i
＝1+∑α
ij
R
j
+∑∑β
ijk
R
j
R
k
；其中，F
i
为i元素对应的基体效应因子；α
ij
表示由于吸收差别，j元素对i元素的X荧光的吸收和增强的综合效应；R
j
为元素j的实测荧光强度；β
ijk
表示k元素通过j元素对i元素产生的荧光效应；R
k
为元素k的实测荧光强度。6.根据权利要求4所述的分析方法，其特征在于，所述根据所述元素的实测荧光强度...

【专利技术属性】
技术研发人员：张琦，忻向军，史云，秦玉文，田清华，田凤，吴福根，王拥军，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：