一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置制造方法及图纸

一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，涉及冷却装置领域。该X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置包括顶面设有容纳槽的底座及一侧与底座侧部铰接的盖板，容纳槽内设有散热板，盖板转动时开闭容纳槽，盖板靠近容纳槽的一侧表面设有至少一个散热风扇，容纳槽内设有温度传感器，底座的一端外壁设有用于显示温度传感器检测温度的显示屏。本实施例提供的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置能够快速冷却玻璃熔片，并避免玻璃熔片受到外部污染。染。染。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置


[0001]本申请涉及冷却装置领域，具体而言，涉及一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置。

技术介绍

[0002]X射线荧光光谱分析中常将样品熔解在熔化的熔剂中形成易于分析的玻璃熔片化合物，但是由于形成的玻璃熔片的自然冷却时间较长，而且在自然冷却过程中玻璃熔片容易被污染，影响X射线荧光光谱分析的效率和准确性。
[0003]因此，需要一种能够快速冷却玻璃熔片并避免受到外部污染的装置。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，其能够快速冷却玻璃熔片，并避免玻璃熔片受到外部污染。
[0005]本申请的实施例是这样实现的：
[0006]本申请实施例提供一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，其包括顶面设有容纳槽的底座及一侧与底座侧部铰接的盖板，容纳槽内设有散热板，盖板转动时开闭容纳槽，盖板靠近容纳槽的一侧表面设有至少一个散热风扇，容纳槽内设有温度传感器，底座的一端外壁设有用于显示温度传感器检测温度的显示屏。
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，其特征在于，其包括顶面设有容纳槽的底座及一侧与所述底座侧部铰接的盖板，所述容纳槽内设有散热板，所述盖板转动时开闭所述容纳槽，所述盖板靠近所述容纳槽的一侧表面设有至少一个散热风扇，所述容纳槽内设有温度传感器，所述底座的一端外壁设有用于显示所述温度传感器检测温度的显示屏。2.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，其特征在于，所述底座的底面凹陷形成散热槽，所述底座还开设有至少一个连通所述容纳槽和所述散热槽的散热孔。3.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，其特征在于，所述散热槽的至少一端连通所述底座的端面。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：许超，陈宁娜，
申请(专利权)人：中冶武汉冶金建筑研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：