一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法及装置制造方法及图纸

技术编号:33295547 阅读:76 留言:0更新日期:2022-05-01 00:23
本发明专利技术公开了一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法及装置,该方法包括:获取电子注参数,根据所述电子注参数计算PPM结构的基础参数;初始化PPM结构,根据所述PPM结构的基础参数对所述PPM结构进行PPM结构的结构参数初始化,得到PPM初始结构;根据PPM初始结构的极靴,由极靴材料确定极靴材料的最大磁场;根据所述PPM初始结构及所述极靴材料的最大磁场,采用考虑极靴影响的有限长PPM快速计算方法对所述PPM初始结构进行逆分析,得到满足要求的PPM最终结构。本发明专利技术计算非常快速,无需再通过电磁仿真软件正向设计,不再需要大量的仿真计算,因此节省了大量的时间成本,同时也减少了大量的人为操作。少了大量的人为操作。少了大量的人为操作。

【技术实现步骤摘要】
一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法及装置


[0001]本专利技术涉及周期永磁聚焦系统PPM
,具体涉及一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法及装置。

技术介绍

[0002]PPM(周期永磁聚焦系统)的优点在于体积小、质量轻,其体积和质量只有均匀永磁系统或螺旋管聚焦系统的1/5甚至更小;此外,PPM不会消耗功率,采用PPM结构更节省功率,还能方便地实现包装式结构,因而得到了广泛的应用。
[0003]在太赫兹频段,由于频率很高使得电子光学系统结构中的关键尺寸很小,电子传输通道窄。高频率器件中的电子枪通常要求有高电流密度、大面积压缩比,因此要想得到脉动小和层流性好的电子注,对磁聚焦系统的设计要求也更加苛刻。此外,传统的PPM结构分析优化多为直接通过CST等仿真软件建模仿真优化,正向分析出符合指标要求的PPM结构,然而需要调整优化的结构参数和设计指标较多,耗费的时间也较长。因此PPM结构的分析及仿真计算耗费了大量时间和精力,为电子光学系统的仿真设计带来了很大困扰,严重阻碍了电子光学系统的发展。

技术实现思路

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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法,其特征在于,该方法包括:获取电子注参数,根据所述电子注参数计算PPM结构的基础参数;初始化PPM结构,根据所述PPM结构的基础参数对所述PPM结构进行PPM结构的结构参数初始化,得到PPM初始结构;根据PPM初始结构的极靴,由极靴材料确定极靴材料的最大磁场;根据所述PPM初始结构及所述极靴材料的最大磁场,采用考虑极靴影响的有限长PPM快速计算方法对所述PPM初始结构进行逆分析,得到满足要求的PPM最终结构。2.根据权利要求1所述的一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法,其特征在于,所述PPM结构的基础参数包括均匀磁场峰值、PPM结构单周期长度的范围和周期数目。3.根据权利要求2所述的一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法,其特征在于,所述周期数目N是通过高频结构长度得到;所述均匀磁场峰值的计算表达式为:B0=δB
0b0b
式中,B0为均匀磁场峰值;δ为行波管的系数;B
0b
为理想磁场值;B
b
为布里渊磁场;I为电子枪区域射出的电子注的电流,V为电子枪区域射出的电子注的电压,r
b
为电子注半径;所述PPM结构单周期长度的范围的计算表达式为:式中,L为PPM结构单周期长度。4.根据权利要求2所述的一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法,其特征在于,所述PPM结构的结构参数包括横向参数、轴向参数和剩磁;所述横向参数包括极靴头内半径、极靴头外半径、极靴高度、磁环内半径和磁环外半径;所述轴向参数包括磁环厚度,极靴厚度,极靴间隙;所述极靴头内半径是由高频结构确定;所述极靴头外半径、极靴高度、磁环内半径和磁环外半径均是由所述极靴头内半径来确定;所述磁环厚度、极靴厚度均是根据所述周期来确定;所述极靴间隙等于使得中间磁场峰值B

peak取到最大值时的极靴间隙值;所述剩磁是预设给定。5.根据权利要求1所述的一种基于等效电流源模型的PPM结构逆分析方法,其特征在于,所述考虑极靴影响的有限长PPM快速计算方法对所述PPM初始结构进行逆分析的具体步骤为:步骤A,计算PPM结构的最大磁场,并将所述PPM结构的最大磁场与所述极靴材料的最大磁场进行比较:若所述PPM结构的最大磁场小于等于预设系数乘以所述极靴材料的最大磁场,则执行步骤B;若所述PPM结构的最大磁场大于预设系数乘以所述极靴材料的最大磁场,
则通过减小所述PPM结构的最大磁场进行修正;步骤B,通过迭代算法计算出等效磁环内径,并把等效磁环内径代入不考虑极靴影响的有限长PPM快速计算方法中,得到考虑极靴影响的有限长PPM等效电流源模型;步骤C,采用所述考虑极靴影响的有限长PPM等效电流源模型计算当前PPM结构各个磁场峰值P1,P2,

,P
i
,

,P
N
;步骤D,计算差值ΔP
i
=P
i

D

【专利技术属性】
技术研发人员:苏子轩徐进何红宾李鸿儒岳玲娜殷海荣赵国庆王文祥魏彦玉
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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