一种半导体测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测量设备，涉及半导体技术领域，半导体测量设备，包括测量台和支撑柱，支撑柱固定于测量台左端中部，且支撑柱顶部垂直向上固定有立板；测量台上表面开有两条对角分布的转槽，且转槽内均转动连接有螺纹杆，螺纹杆外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套，且螺纹套顶部焊接有直角夹板，直角夹板内壁均贴合有软垫；立板靠内的一侧开有侧口，且侧口内底部安装有电推杆，侧口内活动嵌入有向右侧延伸的活动杆，且活动杆外壁前后侧均开有滚槽；本实用新型专利技术有益效果为：便于根据不同尺寸的半导体进行调整固定，提高半导体在测量时的固定性，避免松动，同时有效提高了测量结果的准确性。量结果的准确性。量结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测量设备


[0001]本技术涉及半导体
，特别是涉及一种半导体测量设备。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，现有的半导体测量设备，再对不同尺寸大小的半导体进行测量时，设备难以根据尺寸的不同做出对应的固定松紧度，导致尺寸偏小的半导体测量时，固定性比较差，进而影响了测量的准确性。

技术实现思路

[0003]本技术提供了一种半导体测量设备以解决上述
技术介绍
提出的测量设备难以根据不同尺寸的半导体进行固定，导致检测结果容易出现偏差的问题。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种半导体测量设备，包括测量台和支撑柱，所述支撑柱固定于测量台左端中部，且所述支撑柱顶部垂直向上固定有立板；
[0006]所述测量台上表面开有两条对角分布的转槽，且所述转槽内均转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套，且所述螺纹本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体测量设备，包括测量台（1）和支撑柱（2），所述支撑柱（2）固定于测量台（1）左端中部，且所述支撑柱（2）顶部垂直向上固定有立板（201），其特征在于：所述测量台（1）上表面开有两条对角分布的转槽（101），且所述转槽（101）内均转动连接有螺纹杆（102），所述螺纹杆（102）外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套（103），且所述螺纹套（103）顶部焊接有直角夹板（104），所述直角夹板（104）内壁均贴合有软垫（105）；所述立板（201）靠内的一侧开有侧口（202），且所述侧口（202）内底部安装有电推杆（203），所述侧口（202）内活动嵌入有向右侧延伸的活动杆（204），且所述活动杆（204）外壁前后侧均开有滚槽（206），所述滚槽（206）内均滚动连接有若干颗滚珠（207）；所述活动杆（204）外部活动套入有活动块（3），且所述活动块（3）侧面中部开有通孔（302），所述活动块（3）顶部螺纹贯穿有螺纹轴（303），且所述螺纹轴（303）末端贯穿至通孔（302）内部上方，所述螺纹轴（303）末端固定有弧形卡片（304）。2.根据权利要求1所述的一种半导体测量设备，其特征在于：所述测量台（1）外壁左后角和外壁右前角均固定有支板（106），且所述支板（106）上方均安装有电动...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱跃柯，
申请(专利权)人：朱跃柯，
类型：新型
国别省市：