一种光栅尺检测组件制造技术

本实用新型专利技术涉及一种光栅尺检测组件，包括：水平位移装置(11)，承载在所述水平位移装置(11)上的竖直位移装置(12)，安装在所述竖直位移装置(12)上的位移传感器(13)，以及设置在所述竖直位移装置(12)上的光栅尺组件(14)；所述水平位移装置(11)用于驱动所述竖直位移装置(12)在水平方向线性往复移动；所述竖直位移装置(12)用于驱动所述位移传感器(13)在竖直方向线性往复移动；所述光栅尺组件(14)用于输出所述竖直位移装置(12)的移动位置。本实用新型专利技术的检测组件能够用于大型结构件的精确测量，不仅结构简单，且使用方便且精度高。此外，本实用新型专利技术的检测速度快且效率高。用新型的检测速度快且效率高。用新型的检测速度快且效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种光栅尺检测组件


[0001]本技术涉及机械领域，尤其涉及一种光栅尺检测组件。

技术介绍

[0002]高速悬浮电磁铁装配对尺寸要求较为严格，而箱梁的加工尺寸是保证装配尺寸的重要基础和前提。但是，高速电磁铁箱梁长度均超过3米，大部分公差要求在0.1
‑
0.2mm区间，而且某些关键尺寸是空间距离，无法直接测量，对箱梁来料检验带来了新的难度。
[0003]此外，由于高速电磁铁箱梁是铆接了端板和托臂支撑等结构的组合式箱梁，属于一个结构较为复杂的装配体，进而对其各结构、部件等进行测量的难度进一步加大。而且，在现有技术中也不具有一种能够针对上述高速电磁铁箱梁进行测量的检测组件。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种光栅尺检测组件。
[0005]为实现上述技术目的，本技术提供一种光栅尺检测组件，包括：水平位移装置，承载在所述水平位移装置上的竖直位移装置，安装在所述竖直位移装置上的位移传感器，以及设置在所述竖直位移装置上的光栅尺组件；
[0006]所述水平位移装置用于驱动所述竖直位移装置在水平方向线性往复移动；
[0007]所述竖直位移装置用于驱动所述位移传感器在竖直方向线性往复移动；
[0008]所述光栅尺组件用于输出所述竖直位移装置的移动位置。
[0009]根据本技术的一个方面，所述水平位移装置包括：水平导轨单元，设置在所述水平导轨单元上的水平移动块，水平驱动结构；
[0010]所述竖直位移装置竖直的支承在所述水平移动块上；r/>[0011]所述水平驱动结构设置在所述水平移动块上，并与所述水平导轨单元传动连接。
[0012]根据本技术的一个方面，所述竖直位移装置包括：竖直导轨单元，设置在所述竖直导轨单元上的竖直移动块，竖直驱动结构；
[0013]所述竖直驱动结构支承在所述竖直导轨单元上，并与所述竖直移动块传动连接，用于驱动所述竖直移动块沿所述竖直导轨单元线性往复移动。
[0014]根据本技术的一个方面，所述光栅尺组件包括：光栅尺头和光栅尺；
[0015]所述光栅尺安装在所述竖直导轨单元的一侧，且所述光栅尺的相对两端分别与所述竖直导轨单元上设置的光栅尺安装座相互固定连接；
[0016]所述光栅尺与所述竖直移动块处于所述竖直导轨单元的同一侧；
[0017]所述光栅尺的长度方向与所述竖直导轨单元的延伸方向相平行；
[0018]所述光栅尺头安装在所述竖直移动块上，且所述光栅尺头与所述光栅尺相对设置，用于读取所述光栅尺上的刻度信息。
[0019]根据本技术的一个方面，所述位移传感器采用水平连接结构与所述竖直移动块相连接；
[0020]所述水平连接结构分别与所述水平位移装置和所述竖直位移装置相垂直的设置；
[0021]所述水平连接结构一端与所述竖直移动块固定连接，另一端与所述位移传感器相连接；
[0022]所述位移传感器和所述光栅尺组件在所述竖直导轨单元的相对两侧分别布置。
[0023]根据本技术的一个方面，所述水平连接结构为长条状的板状体；或者，
[0024]所述水平连接结构为可驱动所述位移传感器线性往复移动的线性驱动结构。
[0025]根据本技术的一个方面，所述水平连接结构远离所述竖直移动块的一端可选择的设置用于调整所述位移传感器姿态的旋转电机；
[0026]所述旋转电机的旋转轴与所述水平连接结构的长度方向相平行；
[0027]所述位移传感器安装在所述旋转轴上；
[0028]所述水平驱动结构为齿轮齿条结构；
[0029]所述竖直驱动结构为丝杆螺母结构。
[0030]根据本技术的一个方面，还包括：控制单元；
[0031]所述控制单元分别与所述水平位移装置、所述竖直位移装置相连接，用于控制所述水平位移装置、所述竖直位移装置的移动速度和移动位置；以及，所述控制单元分别与所述位移传感器和所述光栅尺组件相连接，用于采集所述位移传感器和所述光栅尺组件输出的电信号。
[0032]根据本技术的一个方面，所述水平位移装置的行程大于或等于4.5m；
[0033]所述竖直位移装置的行程大于或等于0.5m；
[0034]所述光栅尺检测组件的测量精度大于或等于0.1mm。
[0035]根据本技术的一个方面，所述位移传感器为激光位移传感器；
[0036]所述光栅尺组件的栅距为0.02mm，分辨率为5μm，最大移动速度为60m/min。
[0037]根据本技术的一种方案，本技术的检测组件能够用于大型结构件的精确测量，不仅结构简单，且使用方便且精度高。此外，本技术的检测速度快且效率高。
[0038]根据本技术的一种方案，本技术的操作简单，测量过程中无需精密调校工作即可达到较高的测量精度，而且可自定义测量区间，实用性高。
[0039]根据本技术的一种方案，本技术的拆装方便，能够满足各种基座的安装设置，只需将水平位移装置安装固定即可使用，非常适用于复杂环境下对工件的测量。
[0040]根据本技术的一种方案，本技术可自动运行，可有效减少人为因素带来的系统误差，简化操作过程，提高检测效率。
附图说明
[0041]图1是示意性表示根据本技术的一种实施方式的光栅尺检测组件的结构图；
[0042]图2是示意性表示根据本技术的一种实施方式的竖直位移装置的结构图。
具体实施方式
[0043]为了更清楚地说明本技术实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以
根据这些附图获得其他的附图。
[0044]在针对本技术的实施方式进行描述时，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”所表达的方位或位置关系是基于相关附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本技术的限制。
[0045]下面结合附图和具体实施方式对本技术作详细地描述，实施方式不能在此一一赘述，但本技术的实施方式并不因此限定于以下实施方式。
[0046]结合图1和图2所示，根据本技术的一种实施方式，本技术的一种光栅尺检测组件，包括：水平位移装置11，承载在水平位移装置11上的竖直位移装置12，安装在竖直位移装置12上的位移传感器13，以及设置在竖直位移装置12上的光栅尺组件14。在本实施方式中，水平位移装置11用于驱动竖直位移装置12在水平方向线性往复移动；竖直位移装置12用于驱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光栅尺检测组件，其特征在于，包括：水平位移装置(11)，承载在所述水平位移装置(11)上的竖直位移装置(12)，安装在所述竖直位移装置(12)上的位移传感器(13)，以及设置在所述竖直位移装置(12)上的光栅尺组件(14)；所述水平位移装置(11)用于驱动所述竖直位移装置(12)在水平方向线性往复移动；所述竖直位移装置(12)用于驱动所述位移传感器(13)在竖直方向线性往复移动；所述光栅尺组件(14)用于输出所述竖直位移装置(12)的移动位置。2.根据权利要求1所述的光栅尺检测组件，其特征在于，所述水平位移装置(11)包括：水平导轨单元(111)，设置在所述水平导轨单元(111)上的水平移动块(112)，水平驱动结构(113)；所述竖直位移装置(12)竖直的支承在所述水平移动块(112)上；所述水平驱动结构(113)设置在所述水平移动块(112)上，并与所述水平导轨单元(111)传动连接。3.根据权利要求2所述的光栅尺检测组件，其特征在于，所述竖直位移装置(12)包括：竖直导轨单元(121)，设置在所述竖直导轨单元(121)上的竖直移动块(122)，竖直驱动结构(123)；所述竖直驱动结构(123)支承在所述竖直导轨单元(121)上，并与所述竖直移动块(122)传动连接，用于驱动所述竖直移动块(122)沿所述竖直导轨单元(121)线性往复移动。4.根据权利要求3所述的光栅尺检测组件，其特征在于，所述光栅尺组件(14)包括：光栅尺头(141)和光栅尺(142)；所述光栅尺(142)安装在所述竖直导轨单元(121)的一侧，且所述光栅尺(142)的相对两端分别与所述竖直导轨单元(121)上设置的光栅尺安装座(1211)相互固定连接；所述光栅尺(142)与所述竖直移动块(122)处于所述竖直导轨单元(121)的同一侧；所述光栅尺(142)的长度方向与所述竖直导轨单元(121)的延伸方向相平行；所述光栅尺头(141)安装在所述竖直移动块(122)上，且所述光栅尺头(141)与所述光栅尺(142)相对设置，用于读取所述光栅尺(142)上的刻度信息。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：年佳，许新祥，黄梦凡，晏伟，
申请(专利权)人：湖南凌翔磁浮科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：