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本实用新型公开了一种半导体测量设备，涉及半导体技术领域，半导体测量设备，包括测量台和支撑柱，支撑柱固定于测量台左端中部，且支撑柱顶部垂直向上固定有立板；测量台上表面开有两条对角分布的转槽，且转槽内均转动连接有螺纹杆，螺纹杆外部均套入有与其螺...
该专利属于朱跃柯所有，仅供学习研究参考，未经过朱跃柯授权不得商用。

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