一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，包括：在金属基底上制备固态电解质薄膜，在金属基底上留出空白空间作为测试电极，在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极；或在非金属基底上制备底层金属薄膜，在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜，底层金属薄膜留出空白空间作为测试电极，于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极。利用电化学工作站分别以电解质薄膜的上下层金属作为电极与对电极，采用交流阻抗A.C Impedance的测试方法，得到Z

【技术实现步骤摘要】
一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法


[0001]本专利技术属于薄膜性能测试领域，涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法。
技术背景
[0002]固态电解质是一种固体离子导体电解质，在锂离子电池和电致变色领域有者广泛的应用。锂离子电池领域所用到的固态电解质膜通常较厚，采用金属构件作为电极。而在电致变色领域所用到的固态电解质一般以薄膜为主，厚度通常在几百纳米，但也不超过微米的级别，这个级别厚度的薄膜是难以单独取下测试的。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的就是为了解决现有的固态电解质薄膜难以测试离子电导率的缺陷，提供的一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法。
[0004]一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，其特征在于包括以下步骤：1）采用金属或非金属基底；2）对于金属基底，首先于金属基底上制备固态电解质薄膜，并在金属基底上留出无镀膜空白边，以作为测试电极，其次在固态电解质薄膜上再次制备顶层金属薄膜，作为外接的测试对电极；或者对于非金属基底，首先在非金属基底上制备底层金属薄膜，其次在底层金属薄膜上制备固态电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，其特征在于包括以下步骤：1）采用金属或非金属基底；2）对于金属基底，首先于金属基底上制备固态电解质薄膜，并在金属基底上留出无镀膜空白边，以作为测试电极，其次在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜，作为外接的测试对电极；或者对于非金属基底，首先在非金属基底上制备底层金属薄膜，其次在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜，使底层金属薄膜留出无镀膜空白边作为测试电极，最后于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜，顶部金属薄膜作为测试对电极，形成底层金属薄膜
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固态电解质薄膜
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顶层金属薄膜的三明治夹层结构；3）利用电化学工作站，分别以电解质薄膜的测试电极和测试对电极，采用交流阻抗A.C I...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤永康，沈洪雪，甘治平，李刚，
申请(专利权)人：中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：