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本发明涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，包括：在金属基底上制备固态电解质薄膜，在金属基底上留出空白空间作为测试电极，在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极；或在非金属基底上制备底层金属薄膜，在底层金属薄膜上制备固态电解质...
该专利属于中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司授权不得商用。

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