本发明专利技术公开了一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其通过一主控端计算机及远程控制软件，使包含一样品处理及/或样品分析装置的受控端系统中的受控端控制装置在该远程控制系统的的主控端控制装置操作时可被同步操作，并进而通过被同步操作的该受控端控制装置使该样品处理及/或样品分析装置进行后续的样品处理及/或样品分析作业。样品处理及/或样品分析作业。样品处理及/或样品分析作业。
【技术实现步骤摘要】
一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法
[0001]本专利技术是关于一种样品处理及/或样品分析的方法，且特别是关于一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法。
技术介绍
[0002]样品处理及/或样品分析用的装置，包括电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(SEM/EDS)、3D激光共焦轮廓仪(3D Laser confocal profile)或X-射线光电子能谱仪(X-ray photoelectron spectroscopy；XPS)等，均为精密的材料分析仪器，价格昂贵且仪器配备高阶计算机及专用的控制卡及专用键盘，故操作人员需受专业训练才能操作此精密的样品处理及/或样品分析用的装置，且必须在现场操作，将样品放入样品处理及/或样品分析用的装置后，然后才能执行后续的样品处理及拍摄影像分析等作业。此种操作模式不利于提供跨厂区或甚至跨国企业服务。
[0003]有鉴于此，一种可改善上述缺点的远程控制样品处理及/或样品分析的方法乃目前业界所殷切期盼。
技术实现思路
[0004]本专利技术的一特征是公开了一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其步骤包括：提供一受控端系统，该受控端系统包括：一样品处理及/或样品分析装置；一受控端主计算机，该受控端主计算机与该样品处理及/或样品分析装置通讯连接；一受控端控制装置，该受控端控制装置包括一受控端专用键盘、一受控端一般键盘及一受控端鼠标，且该受控端控制装置与该受控端主计算机通讯连接，用以控制该样品处理及/或样品分析装置的操作；及一受控端屏幕，该受控端屏幕与该受控端主计算机通讯连接，且该受控端屏幕乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果；提供一远程控制系统，该远程控制系统包括：一主控端计算机，且该主控端计算机内有安装一远程控制软件；一主控端控制装置，该主控端控制装置包括一主控端专用键盘、一主控端一般键盘及一主控端鼠标，且该主控端控制装置与该主控端计算机通讯连接，且该主控端控制装置与该受控端系统中的该受控端控制装置的构造与功能均相同；及一主控端屏幕，该主控端屏幕与该主控端计算机通讯连接；使该远程控制系统与该受控端系统通过宽带网络建立联机，并使该远程控制系统通过该远程控制软件控制该受控端系统，此时该主控端屏幕画面与该受控端屏幕同步呈现；提供一待处理及/或待分析的样品，并将该待处理及/或待分析的样品放入该受控端系统中的该样品处理及/或样品分析装置内；以及通过该主控端计算机及该远程控制软件，使该受控端系统中的该受控端控制装置在该远程控制系统的该主控端控制装置操作时被同步操作，并进而通过被同步操作的该受控端控制装置使该样品处理及/或样品分析装置进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
[0005]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该样品处理及/或样品分析装置为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪
(SEM/EDS)、3D激光共焦轮廓仪(3D Laser confocal profile)或X-射线光电子能谱仪(X-ray photoelectron spectroscopy；XPS)。
[0006]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该电子束显微镜为扫描式电子显微镜(SEM)、穿透式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(SEM/EDS)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(TEM/EDS)。
[0007]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该离子束显微镜为聚焦离子束显微镜(FIB)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(PFIB)。
[0008]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该双粒子束显微镜为双束聚焦离子束显微镜(Dual Beam FIB)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(Dual Beam FIB/EDS)。
[0009]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该受控端专用键盘包括扫描模式选择钮、样品位置调整钮、扫描影像对比调控钮、影像明亮调控钮、影像倍率调控钮、焦距调控钮、像差调整钮、及影像位置调整钮。
[0010]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该主控端专用键盘包括扫描模式选择钮、样品位置调整钮、扫描影像对比调控钮、影像明亮调控钮、影像倍率调控钮、焦距调控钮、像差调整钮、及影像位置调整钮。
[0011]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该受控端系统更包括一受控端辅助装置，该受控端辅助装置包括一辅助计算机及一辅助输入/输出装置，该辅助计算机与该受控端主计算机通讯连接，且该辅助计算机输入/输出装置与该辅助计算机通讯连接，藉由该受控端辅助装置使自该受控端主计算机所获得的相关样品的分析数据可进一步被备份、处理或传递。
[0012]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该辅助输入/输出装置为一辅助键盘、及/或一储存设备、及/或一辅助鼠标。
[0013]前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，该远程控制软件例如为但不限于TeamViewer、Chrome Remote Desktop、Splashtop、Microsoft Remote Desktop、TightVNC、Radmin、USB Over Ethernet、DAEMON Tools USB、USB Network Gate、Mikogo、AnyDesk、Wayk Now。
[0014]前述的的任一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其中该远程控制系统中的该主控端计算机内所安装的该远程控制软件有二套，在该远程控制系统与该受控端系统通过宽带网络建立网络联机后，其中一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置中的该主控端专用键盘可远程控制该受控端控制装置中的该受控端专用键盘，而另一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置中的该主控端一般键盘及该主控端鼠标可远程控制该受控端控制装置中的该受控端一般专用键盘及该受控端鼠标。
附图说明
[0015]图1所绘示的是根据本专利技术实施例一所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
[0016]图2所绘示的是根据本专利技术实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
[0017]图3所绘示的是根据本专利技术实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析
的方法示意图。
[0018]图4所绘示的是根据本专利技术实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
[0019]其中，附图中符号的简单说明如下：
[0020]100
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受控端系统
[0021]110
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样品处理及/或样品分析装置
[0022]130
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端主计算机
[0023]150
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端控制装置
[0024]151...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其特征在于，包括下列步骤：提供一受控端系统，该受控端系统包括：一样品处理及/或样品分析装置；一受控端主计算机，该受控端主计算机与该样品处理及/或样品分析装置通讯连接；一受控端控制装置，该受控端控制装置包括一受控端专用键盘、一受控端一般键盘及一受控端鼠标，且该受控端控制装置与该受控端主计算机通讯连接，用以控制该样品处理及/或样品分析装置的操作；及一受控端屏幕，该受控端屏幕与该受控端主计算机通讯连接，且该受控端屏幕乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果；提供一远程控制系统，该远程控制系统包括：一主控端计算机，且该主控端计算机内有安装一远程控制软件；一主控端控制装置，该主控端控制装置包括一主控端专用键盘、一主控端一般键盘及一主控端鼠标，且该主控端控制装置与该主控端计算机通讯连接，且该主控端控制装置与该受控端系统中的该受控端控制装置的构造与功能均相同；及一主控端屏幕，该主控端屏幕与该主控端计算机通讯连接；使该远程控制系统与该受控端系统通过宽带网络建立联机，并使该远程控制系统通过该远程控制软件控制该受控端系统，此时该主控端屏幕画面与该受控端屏幕同步呈现；提供一待处理及/或待分析的样品，并将该待处理及/或待分析的样品放入该受控端系统中的该样品处理及/或样品分析装置内；以及通过该主控端计算机及该远程控制软件，使该受控端系统中的该受控端控制装置在该远程控制系统的该主控端控制装置操作时被同步操作，并进而通过被同步操作的该受控端控制装置使该样品处理及/或样品分析装置进行后续的样品处理及/或样品分析作业。2.如权利要求1所述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其特征在于，前述样品处理及/或样品分析装置为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪SEM/EDS、3D雷射共焦轮廓仪3D Laser confocal profile或X-射线光电子能谱仪X-ray photoelectron spectroscopy。3.如权利要求2所述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其特征在于，前述电子束显微镜为扫描式电子显微镜SEM、穿透式电子显微镜TEM、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪SEM/EDS或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪TEM/EDS。4.如权利要求2所述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法，其特征在于，前述离子束显微镜为聚焦离子束显微镜F...
【专利技术属性】
技术研发人员：柳纪纶，王德凯，廖兴盛，
申请(专利权)人：汎铨科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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