显示面板电性的侦测方法及侦测设备技术

本申请实施例提供的显示面板电性的侦测方法及侦测设备，通过多次对显示面板的像素侦测，且对每次侦测获取的侦测数据进行比较，从而能够使获取的目标侦测数据受到的干扰最小，获取到最准确的目标侦测数据。获取到最准确的目标侦测数据。获取到最准确的目标侦测数据。

【技术实现步骤摘要】
显示面板电性的侦测方法及侦测设备


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板电性的侦测方法及侦测设备。

技术介绍

[0002]有机自发光显示器件与液晶显示器件相比，具有更高的对比度、更鲜艳的颜色、轻薄的模组以及可随意弯曲的特性。因此，目前有机自发光显示器件已经得到了广泛的应用。而有机自发光显示器件只所以能够拥有上述特性，是因为有机发光显示面板中具备成千上万个有机发光器件。
[0003]其中，为了控制好有机发光显示面板中成千上万个有机发光器件，通常采用电压控制薄膜晶体管的电流来实现有机发光器件的驱动。而这种驱动方式对于薄膜晶体管的稳定性以及均一性都有很高的要求，并且与液晶器件不同，只要像素发光，有机发光二极管的电流就要持续流过驱动晶体管，而不仅仅是一个开关的角色，这种持续的电压输出对于薄膜晶体管的稳定性来说，是一个巨大的挑战。因此，实际的工艺一般很难保持驱动晶体管的均一性以及稳定性，驱动晶体管的电性变化会直接体现在显示效果上，因此，必须要通过一种方式对驱动晶体管的电性进行感测和补偿。
[0004]目前通常是通过侦测晶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的电性侦测方法，其特征在于，包括：对所述显示面板中的各个像素进行侦测，以获取各个所述像素的侦测数据，所述侦测数据包括所述像素对应的驱动晶体管的阈值电压及迁移率；基于各个所述像素的侦测数据判断各个所述像素中的异常像素的数量是否大于第一预设阈值；若所述异常像素的数量不小于第一预设阈值，则判断对各个所述像素进行侦测的次数是否不小于第二预设阈值；若对各个所述像素进行侦测的次数不小于第二预设阈值，则根据所述异常像素周围的像素对应的侦测数据获取所述异常像素的目标侦测数据。2.根据权利要求1所述的显示面板电性的侦测方法，其特征在于，所述基于各个所述像素的侦测数据判断各个所述像素中的异常像素的数量是否大于第一预设阈值的具体步骤包括：获取所述像素以及所述异常像素的数量；判断所述异常像素占所述像素的比例是否大于临界值；若所述异常像素占所述像素的比例大于临界值，则各个所述像素中的异常像素的数量大于第一预设阈值。3.根据权利要求2所述的显示面板电性的侦测方法，其特征在于，所述临界值为5％。4.根据权利要求1所述的显示面板电性的侦测方法，其特征在于，在所述基于各个所述像素的侦测数据判断各个所述像素中的异常像素的数量是否大于第一预设阈值的步骤之后还包括：若所述异常像素的数量小于第一预设阈值，则各个所述像素的侦测数据为各个所述像素的目标侦测数据。5.根据权利要求1所述的显示面板电性的侦测方法，其特征在于，在所述若所述异常像素的数量不小于第一预设阈值，则判断对各个所述像素进行侦测的次数是否不小于第二预设阈值的步骤之后还包括：若...

【专利技术属性】
技术研发人员：高磊，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：