像素感测电路和集成电路制造技术

本公开涉及像素感测电路，其中仅在像素感测电路的通道中所选择的特定通道上进行测试，并且可以减少像素感测电路的总测试时间和用于测试的数据吞吐量。于测试的数据吞吐量。于测试的数据吞吐量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】像素感测电路和集成电路


[0001]本公开涉及用于测试像素感测电路的技术。

技术介绍

[0002]显示装置可以包括用于驱动布置在面板上的像素的源极驱动器。
[0003]源极驱动器根据图像数据来确定数据电压，并通过向像素供给数据电压来控制各个像素的亮度。
[0004]另一方面，即使将相同的数据电压供给至像素，各个像素的亮度也可以根据像素的特性而不同。例如，各个像素包括驱动晶体管，并且当驱动晶体管的阈值电压改变时，即使将相同的数据电压供给至像素，该像素的亮度也可能改变。如果源极驱动器不考虑像素的特性变化，则被驱动的像素具有不期望的亮度和劣化的图像质量。屏幕上的污迹是图像质量差的示例。
[0005]为了改善差的图像质量，显示装置可以包括用于感测像素的特性的像素感测电路。
[0006]像素感测电路可以通过连接到各个像素的感测线来接收每个像素的模拟信号。然后，像素感测电路将模拟信号转换成像素感测数据，并将其传输到时序控制器，并且时序控制器通过像素感测数据来掌握每个像素的特性。另外，时序控制器通过反映各个像素的特性来补偿图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种集成电路，包括：像素感测电路，用于感测布置在面板上的像素的特性；以及通道选择电路，用于生成通道选择信号，其中，所述像素感测电路包括要被测试以用于感测的多个通道电路，接收所述通道选择信号以在所述多个通道电路中选择至少一个代表性通道电路，并且对所述代表性通道电路进行测试。2.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述代表性通道电路接收包括测试电流的模拟信号，转换通过所述测试的测试电流，并输出包括测试数据的数字信号。3.根据权利要求2所述的集成电路，其中，所述代表性通道电路对所述测试电流进行积分以生成积分电压，并且转换所述积分电压以生成所述测试数据。4.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述像素感测电路包括用于控制所述测试电流的供给的开关电路，以及所述开关电路将所述测试电流传输到所述代表性通道电路，并且阻止所述测试电流到其余的通道电路。5.根据权利要求4所述的集成电路，其中，所述开关电路包括分别连接到所述多个通道电路的多个开关，以及所述多个开关通过开放和闭合来控制所述测试电流向相应的通道电路的供给。6.根据权利要求5所述的集成电路，其中，所述通道选择电路将所述通道选择信号传输到所述开关电路，以开放或闭合所述多个开关中的各个开关。7.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述多个通道电路中的各个通道电路包括放大器，以及所述通道选择电路控制放大器的驱动以选择代表性通道电路。8.根据权利要求7所述的集成电路，其中，所述通道选择电路导通通道电路的放大器以选择该通道电路作为代表性通道电路，以及关断通道电路的放大器以不选择该通道电路。9.根据权利要求8所述的集...

【专利技术属性】
技术研发人员：池承桓，权用重，洪昊成，尹祯培，
申请(专利权)人：LX半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：