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本公开涉及像素感测电路，其中仅在像素感测电路的通道中所选择的特定通道上进行测试，并且可以减少像素感测电路的总测试时间和用于测试的数据吞吐量。于测试的数据吞吐量。于测试的数据吞吐量。
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该专利属于LX半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过LX半导体科技有限公司授权不得商用。

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