一种驱动芯片测试电路及系统技术方案

技术编号:33069107 阅读:7 留言:0更新日期:2022-04-15 10:01
本申请公开了一种驱动芯片测试电路及系统,用以提高测试效率。本申请实施例提供的驱动芯片测试电路包括:控制模块,程控电压模块,以及信号转换模块;控制模块分别通过控制接口和测试接口与程控电压模块和信号转换模块连接,用于产生控制信号和测试信号;程控电压模块与信号转换模块的电压输入接口连接,用于根据控制信号产生不同幅值的预设电压;信号转换模块与待测驱动芯片通信连接,用于根据预设电压对测试信号的电压幅值进行转换,并向待测驱动芯片输出以对待测驱动芯片进行检测。动芯片输出以对待测驱动芯片进行检测。动芯片输出以对待测驱动芯片进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种驱动芯片测试电路及系统


[0001]本申请涉及液晶显示检测
,尤其涉及一种驱动芯片测试电路及系统。

技术介绍

[0002]液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,已广泛应用于数码产品领域。液晶显示模组(liquid crystal module,LCM)作为液晶显示器的重要部件,一般通过驱动芯片(Integrated Circuit Chip,IC)的驱动来显示图像。为了保证显示产品的性能和稳定性,往往需要对驱动IC进行验证测试,例如测试不同驱动电压下驱动IC的稳定性。
[0003]然而,现有的驱动IC测试系统由于受到测试系统微控制单元通信信号幅值的限制,通常只能针对单一同种电压规格的同类驱动芯片进行测试,使用范围窄,即1.8V测试系统只能测试IC在1.8V驱动电压下的稳定性,而无法直接测试其在其他不同电压下的稳定性,因此在对其他不同电压下IC稳定性进行测试时,通常需要更换新的测试系统,额外增加生产成本或者对原有的测试系统增加电平转换芯片进行幅值转换,但每次需要人工手动修改参考电压,从而导致测试效率低,通用性不强。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种驱动芯片测试电路及系统,用以提高测试效率。
[0005]本申请实施例提供的一种驱动芯片测试电路,驱动芯片测试电路包括:控制模块,程控电压模块,以及信号转换模块;
[0006]控制模块分别通过控制接口和测试接口与程控电压模块和信号转换模块连接,用于产生控制信号和测试信号;
[0007]程控电压模块与信号转换模块的电压输入接口连接,用于根据控制信号产生不同幅值的预设电压;
[0008]信号转换模块与待测驱动芯片通信连接,用于根据预设电压对测试信号的电压幅值进行转换,并向待测驱动芯片输出以对待测驱动芯片进行检测。
[0009]可选地,控制模块包括单片机;单片机具有多个测试接口以及内置数模转换模块的控制接口。
[0010]可选地,控制接口包括:第一控制接口和第二控制接口;
[0011]第一控制接口用于:产生第一控制信号;
[0012]第二控制接口用于:产生第二控制信号。
[0013]可选地,程控电压模块包括:第一电压模块和第二电压模块;
[0014]第一电压模块与第一控制接口连接,用于根据第一控制信号产生所第一预设电压;
[0015]第二电压模块与第二控制接口连接,用于根据第二控制信号产生所第二预设电压。
[0016]可选地,第一电压模块包括:第一乘法器,以及第一电压跟随器;
[0017]第二电压模块包括:第二乘法器,以及第二电压跟随器;
[0018]第一乘法器的输入端用于接收第一控制信号,第一乘法器用于根据第一控制信号产生第一预设电压,第一乘法器的输出端与第一电压跟随器的输入端电连接;第一电压跟随器的输出端用于输出第一预设电压;
[0019]第二乘法器的输入端用于接收第二控制信号,第二乘法器用于根据第二控制信号产生第二预设电压,第二乘法器的输出端与第二电压跟随器的输入端电连接;第二电压跟随器的输出端用于输出第二预设电压;第一预设电压和第二预设电压不相等。
[0020]可选地,第一乘法器包括:第一运算放大器,第一电阻,第二电阻,以及第三电阻;
[0021]第二乘法器包括:第二运算放大器,第四电阻,第五电阻,以及第六电阻;
[0022]第一运算放大器的正相输入端与第三电阻的一端电连接,第一运算放大器的反相输入端与第一电阻的一端以及第二电阻的一端电连接;第一运算放大器的输出端与第一电压跟随器的输入端以及第二电阻的另一端电连接;
[0023]第一电阻的另一端接地;
[0024]第三电阻的另一端用于接收第一控制信号;
[0025]第二运算放大器的正相输入端与第六电阻的一端电连接,第二运算放大器的反相输入端与第四电阻的一端以及第五电阻的一端电连接;第二运算放大器的输出端与第二电压跟随器的输入端以及第五电阻的另一端电连接;
[0026]第四电阻的另一端接地;
[0027]第六电阻的另一端用于接收第二控制信号。
[0028]可选地,第一电压跟随器包括:第三运算放大器;
[0029]第三运算放大器的正相输入端与第一乘法器的输出端电连接,第三运算放大器的反相输入端与第三运算放大器的输出端电连接;第三运算放大器的输出端用于输出第一预设电压;
[0030]第二电压跟随器包括:第四运算放大器;
[0031]第四运算放大器的正相输入端与第二乘法器的输出端电连接,第四运算放大器的反相输入端与第四运算放大器的输出端电连接;第四运算放大器的输出端用于输出第二预设电压。
[0032]可选地,信号转换模块包括:多通道双向电平转换芯片;
[0033]多通道双向电平转换芯片包括:用于接收第一预设电压的第一电压输入接口,用于接收第二预设电压的第二电压输入接口以及分别与控制模块测试接口和待测驱动芯片对应相连的多个测试信号传输接口;
[0034]多通道双向电平转换芯片具体用于:根据第一预设电压和第二预设电压,将第一预设电压和第二预设电压的电压幅值进行相互转换,以实现控制模块测试信号的传输和待测驱动芯片测试结果的反馈。
[0035]可选地,驱动芯片测试电路还包括:上位机,上位机与所述控制模块连接;
[0036]上位机用于:设置电压参数,设置测试参数、存储待测驱动芯片的读写次数,以及读取测试结果。
[0037]本申请提供了一种驱动芯片测试系统,包括本申请提供的驱动芯片测试电路。
[0038]本申请实施例提供的驱动芯片测试电路及系统,控制模块产生控制信号,程控电压模块根据控制信号产生预设电压,从而可以使得信号转换模块根据预设电压对测试信号的电压幅值进行转换。这样,本申请实施例提供的驱动芯片测试电路只需要输入与预设电压对应的预设电压参数,便可以通过控制模块以及程控电压模块产生相应的预设电压,无需手动修改信号转换模块电压输入接口输入的电压,可以简化测试操作和测试流程,节省测试时间,提高测试效率。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1为本申请实施例提供的一种驱动芯片测试电路的结构示意图;
[0041]图2为本申请实施例提供的另一种驱动芯片测试电路的结构示意图;
[0042]图3为本申请实施例提供的又一种驱动芯片测试电路的结构示意图;
[0043]图4为本申请实施例提供的一种驱动芯片测试电路对驱动芯片进行测试的流程示意图;
[0044]图5为本申请实施例提供的一种驱动芯片测试系统示意图。
具体本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种驱动芯片测试电路,其特征在于,所述驱动芯片测试电路包括:控制模块,程控电压模块,以及信号转换模块;所述控制模块分别通过控制接口和测试接口与所述程控电压模块和所述信号转换模块连接,用于产生控制信号和测试信号;所述程控电压模块与所述信号转换模块的电压输入接口连接,用于根据所述控制信号产生不同幅值的预设电压;所述信号转换模块与待测驱动芯片通信连接,用于根据所述预设电压对所述测试信号的电压幅值进行转换,并向待测驱动芯片输出以对待测驱动芯片进行检测。2.根据权利要求1所述的驱动芯片测试电路,其特征在于,所述控制模块包括单片机,所述单片机具有多个测试接口以及内置数模转换模块的控制接口。3.根据权利要求2所述的驱动芯片测试电路,其特征在于,所述控制接口包括:第一控制接口和第二控制接口;所述第一控制接口用于:产生第一控制信号;所述第二控制接口用于:产生第二控制信号。4.根据权利要求3所述的驱动芯片测试电路,其特征在于,所述程控电压模块包括:第一电压模块和第二电压模块;所述第一电压模块与所述第一控制接口连接,用于根据所述第一控制信号产生所第一预设电压;所述第二电压模块与所述第二控制接口连接,用于根据所述第二控制信号产生所第二预设电压。5.根据权利要求4所述的驱动芯片测试电路,其特征在于,所述第一电压模块包括:第一乘法器,以及第一电压跟随器;所述第二电压模块包括:第二乘法器,以及第二电压跟随器;所述第一乘法器的输入端用于接收所述第一控制信号,所述第一乘法器用于根据所述第一控制信号产生第一预设电压,所述第一乘法器的输出端与所述第一电压跟随器的输入端电连接;所述第一电压跟随器的输出端用于输出所述第一预设电压;所述第二乘法器的输入端用于接收所述第二控制信号,所述第二乘法器用于根据所述第二控制信号产生第二预设电压,所述第二乘法器的输出端与所述第二电压跟随器的输入端电连接;所述第二电压跟随器的输出端用于输出所述第二预设电压;所述第一预设电压和所述第二预设电压不相等。6.根据权利要求5所述的驱动芯片测试电路,其特征在于,所述第一乘法器包括:第一运算放大器,第一电阻,第二电阻,以及第三电阻;所述第二乘法器包括:第二运算放大器,第四电阻,第五电阻,以及第六电阻;所述第一运算放大器的正相输入...

【专利技术属性】
技术研发人员:乔向洋吴洋
申请(专利权)人:河南省华锐光电产业有限公司
类型:新型
国别省市:

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