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本申请公开了一种驱动芯片测试电路及系统，用以提高测试效率。本申请实施例提供的驱动芯片测试电路包括：控制模块，程控电压模块，以及信号转换模块；控制模块分别通过控制接口和测试接口与程控电压模块和信号转换模块连接，用于产生控制信号和测试信号；程控...
该专利属于河南省华锐光电产业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过河南省华锐光电产业有限公司授权不得商用。

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