显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质技术方案

本公开涉及显示面板视觉检测技术领域，特别涉及了一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质，包括获取显示面板的发光工作频率；对发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制采集模块在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同；对视频信息进行分析，获取检测结果信息。通过采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的显示面板视频信息中的频闪现象，从而在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象作出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，提高显示面板的产品质量。面板的产品质量。面板的产品质量。

【技术实现步骤摘要】
显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及显示面板视觉检测
，特别是涉及一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前通常采用常规的AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)检测方案，来实现针对OLED(Organic Light
‑
Emitting Diode，有机发光半导体)显示面板的低灰阶(如32灰阶)抖动检测。
[0003]常规的面板AOI检测采用大面阵相机和小面阵相机的组合来采集被测产品的检测物图像，采用的是单张取图模式。然而，利用面阵相机直接对被测产品录制视频，存在频闪干扰的问题，难以提取视频信息中的抖动特征。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对直接对被测产品录制视频会存在频闪干扰的问题，提供一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。
[0005]一种显示面板工业检测方法，包括获取显示面板的发光工作频率；对所述发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。
[0006]在其中一个实施例中，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。
[0007]在其中一个实施例中，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。
[0008]一种显示面板工业检测系统，包括检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。
[0009]在其中一个实施例中，所述信号处理模块包括放大单元，用于对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。
[0010]在其中一个实施例中，所述采集模块包括摄像模块，用于根据信号处理后的所述
发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；所述摄像模块包括：外部触发端口，与所述信号处理模块相连接，用于获取信号处理后的所述发光工作频率；数据处理单元，与所述外部触发端口相连接，用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率，还用于将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟；探测端口，与所述显示面板相连接，用于接收所述显示面板发出的触发信号。
[0011]在其中一个实施例中，所述采集模块的快门时间小于所述显示面板的发光工作频率。
[0012]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。
[0013]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。
[0014]一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项实施例所述的显示面板工业检测方法的步骤。
[0015]上述显示面板工业检测方法，通过获取显示面板的发光工作频率，并将发光工作频率作为采集模块的工作时钟，可以使显示面板的信号时钟与采集模块内部的时钟一致。同时，将显示面板的时钟信号作为采集模块的触发信号，采集模块在接收到触发信号后，实时采集显示面板的视频信息，进而对采集到的视频信息进行分析，获取针对显示面板的检测结果。利用本公开提供的显示面板工业检测方法，采用简单的采集模块即可实现对显示面板的视觉检测。通过采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的显示面板视频信息中的频闪现象，从而在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象作出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，并提高显示面板的产品质量。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测方法的方法流程示意图；
[0018]图2为本公开其中一个实施例中根据发光工作频率设定采集模块工作时钟的方法流程示意图；
[0019]图3为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测系统的结构示意图；
[0020]图4为本公开其中一个实施例中放大单元的电路结构示意图；
[0021]图5为本公开其中一个实施例中采集模块的电路结构示意图；
[0022]图6为本公开其中一个实施例中显示面板工业检测装置的示意框图；
[0023]图7为本公开其中一个实施例中计算机设备的内部结构示意图。
具体实施方式
[0024]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的优选实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反的，提供这些实施方式的目的是为了对本专利技术的公开内容理解得更加透彻全面。
[0025]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0026]目前通常采用常规的AOI检测方案，来实现针对OLED显示面板的低灰阶(如32灰阶)抖动检测。现有的面板AOI检测采用大面阵相机和小面阵相机的组合来采集被测产品的检测物图像，在图像采集中采用的是单张取图模式。然而，利用单张取图模式对显示面板的画面抖动进行采集时，根本不能采集到足够的图像数据。而且，如果直接对被测产品录制视频，则会存在频闪干扰的问题，难以提取到视频信息中的抖动特征。另外，OLED的驱动IC(Integrated Circ本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板工业检测方法，其特征在于，包括：获取显示面板的发光工作频率；对所述发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。2.根据权利要求1所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括：通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。3.根据权利要求1或2所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括：对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。4.一种显示面板工业检测系统，其特征在于，包括：检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。5.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述信号处理模块包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔塔生，熊星，李小虎，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：