显示面板、显示装置、电子设备和裂纹检测方法制造方法及图纸

本申请提供一种显示面板、显示装置、电子设备和裂纹检测方法。显示装置包括显示面板和裂纹检测电路。显示面板包括第一检测线、第二检测线和裂纹检测电路。第一检测线的两端和第二检测线的两端分别连接在裂纹检测电路上，第一检测线与第二检测线的方块电阻相同且走线长度和/或走线线宽不同，使得第一检测线和第二检测线的理论电学参数不同；通过裂纹检测电路分别对第一检测线和第二检测线施加电信号，检测第一检测线的第一电学参数和第二检测线的第二电学参数，进而根据第一电学参数和第二电学参数的比值与第一检测线理论电学参数和第二检测线理论电学参数的比值进行比较，进而消除工艺波动造成的干扰，提高了裂纹检测的精确度。确度。确度。

【技术实现步骤摘要】
显示面板、显示装置、电子设备和裂纹检测方法


[0001]本申请涉及显示面板
，特别是涉及一种显示面板、电子设备和裂纹检测方法。

技术介绍

[0002]有机发光半导体(Organic Electroluminescence Display，OLED)产品，在柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)上生成各膜层，由于柔性电路板自身特性导致面板易存在裂纹的问题，及时检出具有裂纹的面板，可以节省后续物料的损耗。
[0003]目前，对于OLED产品的裂纹检测，在与驱动芯片(Integrated Circuit，IC)固定后，采用模组(Modifications，MOD)检测。当使用MOD检测时，一般通过金属走线，使金属走线绕待检测基板一圈或呈Z形走线绕待检测基板一周，金属走线的两端分别接入IC的2个测试焊盘，通过IC输入检测信号，检测金属走线的电阻，从而判断待检测基板周边是否存在裂纹。然而，当走线过长时检测容易出现误判。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种显示面板、显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，具有显示区和非显示区，所述显示面板还包括：第一检测线，设置在所述非显示区中，且围绕所述显示区走线；第二检测线，设置在所述非显示区中；其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的膜层、材料和厚度均相同，且走线长度和/或走线线宽不同。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽相同；所述第一检测线的走线长度大于或等于3倍的所述第二检测线的走线长度。3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线长度相同；所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽不同。4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线均围绕所述显示区一圈走线。5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二检测线设置于所述第一检测线靠近所述显示区的一侧。6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：驱动组件，位于所述非显示区；所述第二检测线位于被所述驱动组件覆盖的部分所述非显示区。7.一种显示装置，其特征在于，包括：如权利要求1
‑
6任意一项所述的显示面板；裂纹检测电路，分别连接所述第一检测线的第一端和第二端，且分别连接所述第二检测线的第三端和第四端；所述裂纹检测电路用于分别对所述第一检测线和所述第二检测线施加电信号，获取所述第一检测线的第一电学参数和所述第二检测线的第二电学参数，以及根据所述第一电学参数和所述第二电学参数判断所述显示面板是否存在裂纹。8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线的走线长度为L1，所述第二检测线的走线长度为L2；所述第一检测线的第一电学参数为第一电阻R1，所述第二检测线的第二电学参数为第二电阻R2；所述裂纹检测电路用于将所述第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将R1与R2的比值与L1与L2的比值进行比较；其中，响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值等于L1与L2的比值，则确定所述显示面板不存在裂纹；响应于所述第一电阻R1未处于所述第一检测线的理论电阻范围内，和/或R1与R2的比值不等于L1与L2的比值，则确定所述显示面板存在裂纹。9.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线的走线线宽为W1，所述第二检测线的走线线宽为W2，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽波动幅度为2X；所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围为大于等于(W2‑
X)/(W1+X)且小于等于(W2+X)/(W1‑
X)；所述裂纹检测电路用于将所述第一检测线的第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将所述第一检测线的第一电阻R1与所述第二检测线的第二电阻R2的比值与所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围进行比较；其中，响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值处于所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围内，则确...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁斌，李荣荣，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：