一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法技术

本发明专利技术提供一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，所述方法的步骤包括：S6，选择所述环体上两个对称的所述第一孔进行加工，并记录为数值D，所述数值D小于所述数值γ，测量计算两个所述第一孔的孔中心距并记录为数值E，根据所述数值δ调整所述数值E，将所述S6中的两个所述第一孔再进行加工，并记录为数值F，所述数值F等于所述数值B，测量其中一个所述第一孔与所述环体内侧壁之间的弦长值，并记录为数值G，所述数值G等于所述数值C。本发明专利技术可以对回转类零件准确测量出该中心距并进行公差控制，保证了回转类零件所有孔系位置度合格，操作简单并且中心距公差控制精确。操作简单并且中心距公差控制精确。操作简单并且中心距公差控制精确。

【技术实现步骤摘要】
一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法


[0001]本专利技术属于零件加工
，具体涉及一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法。

技术介绍

[0002]回转类零件直径通常较大，以图1为例，该零件直径达Φ2000mm，上面有30个圆周均布的Φ80H7孔，孔中心距Φ1820mm，其位置度要求控制在Φ0.05mm。检查该零件孔系位置度的方法一般是在加工完工后使用三坐标检查，但在加工过程中检测位置度难度非常大，从位置度误差计算方法里可以看出影响位置度有两个因素：角度误差；中心距误差，所以在加工过程中要保证位置度就要从两个影响因素着手解决。
[0003]1、角度误差的保证，采用5米车铣复合加工中心进行分度加工，加工前对该机床工作台分度精度进行激光检测，并加工1件规格小于Φ1000mm的工件进三坐标检查其角度误差，验证机床的分度误差能满足工件分度精度，将验证，该机床工作台分度精度满足加工要求。
[0004]2、中心距误差，由于5米车铣机床自身的精度误差，采用编程方式无法对中心距保证，需要人为测量控制中心距。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，可以对回转类零件准确测量出该中心距并进行公差控制，保证了回转类零件所有孔系位置度合格，操作简单并且中心距公差控制精确。
[0006]本专利技术提供一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，所述回转类零件包括环体，所述环体的上端沿着所述环体的周向方向均布设有数个第一孔，所述环体的外径的合格值记录为数值α，所述环体的内径的合格值记录为数值β，所述第一孔的孔径的合格值记录为数值γ，两个对称的所述第一孔之间的孔中心距的合格值记录为数值δ；所述方法的步骤包括：
[0007]S1，将一中心距误差控制检具送三坐标进行恒温检测，所述中心距误差控制检具呈条形状，所述中心距误差控制检具的上端设有凹槽，所述述中心距误差控制检具的左右两侧对称设有第二孔，两个所述第二孔位于所述凹槽的左右两侧；；
[0008]S2，使用第一测量件测量所述凹槽的长度，并记录为数值A；
[0009]S3，使用第二测量件测量所述第二孔的孔径，并记录为数值B；
[0010]S4，使用第三测量件测量所述凹槽与所述第二孔之间的最小距离，并记录为数值C；
[0011]S5，根据所述数值A加工出与所述数值A相同大小的所述环体的内径数值β；
[0012]S6，选择所述环体上两个对称的所述第一孔进行加工，并记录为数值D，所述数值D小于所述数值γ，测量计算两个所述第一孔的孔中心距并记录为数值E，根据所述数值δ调
整所述数值E，将所述S6中的两个所述第一孔再进行加工，并记录为数值F，所述数值F等于所述数值B，测量其中一个所述第一孔与所述环体内侧壁之间的弦长值，并记录为数值G，所述数值G等于所述数值C。
[0013]在上述技术方案中，本专利技术还可以做如下改进。
[0014]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述方法的步骤还包括，S7，将所述S6中的两个所述第一孔再进行加工，并记录为数值H，所述数值H等于数值γ。
[0015]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述方法的步骤还包括，S8，将从所述S7步骤加工出的所述回转类零件进三坐标测量位置度，测量合格。
[0016]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述方法的步骤还包括，S9，将余下的所述第一孔依照所述步骤S6至所述步骤S7加工，并依照所述步骤S8进三坐标测量位置度，测量合格。
[0017]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述第一测量件选用内径千分尺。
[0018]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述第二测量件选用内径千分表。
[0019]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述第三测量件选用外径千分尺。
[0020]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述步骤S1中，所述中心距误差控制检具的恒温检测项目包括，所述凹槽的长度检测、所述第二孔的孔径检测以及两个所述第二孔之间的孔中心距的检测。
[0021]优选的技术方案，其附加技术特征在于：所述步骤S2至所述步骤S4均在常温下进行。
[0022]优选的技术方案，其附加技术特征在于：两个对称的所述第一孔之间的孔中心距的误差控制在
±
0.01。
[0023]本专利技术的有益效果为：本专利技术可以保证回转类零件的所有孔系位置度合格，并控制两个对称的第一孔的中心距，在5米车铣复合加工中心上加工的过程中，准确测量出两个对称的第一孔的中心距并进行公差控制，本方法操作简单，操作简单并且中心距公差控制精确。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
[0025]图1是本专利技术实施例的回转类零件的结构示意图。
[0026]图2是本专利技术实施例的回转类零件的剖视图。
[0027]图3是本专利技术实施例的中心距误差控制检具的结构示意图。
[0028]图4是本专利技术实施例的中心距误差控制检具的剖视图。
[0029]图5是本专利技术实施例的第一测量件和第二测量件对中心距误差控制检具的测量示意图。
[0030]图6是本专利技术实施例的第三测量件对中心距误差控制检具的测量示意图。
[0031]图中，各个标记的表示含义如下：
[0032]1、回转类零件；11、环体；12、第一孔；2、中心距误差控制检具；21、凹槽；22、第二
孔；3、第一测量件；4、第二测量件；5、第三测量件。
具体实施方式
[0033]为能进一步了解本专利技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举以下实施例，并详细说明如下：
[0034]请参阅图1和图6，本实施例提供一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，所述回转类零件1包括环体11，所述环体11的上端沿着所述环体11的周向方向均布设有30个第一孔12，所述环体11的外径的合格值记录为Φ2000，所述环体11的内径的合格值记录为Φ1600，所述第一孔12的孔径的合格值记录为Φ80H7，两个对称的所述第一孔12之间的孔中心距的合格值记录为Φ1820
±
0.01；所述方法的步骤包括：
[0035]S1，将一中心距误差控制检具2送三坐标进行恒温检测，所述中心距误差控制检具2呈条形状，所述中心距误差控制检具2的上端设有凹槽21，所述述中心距误差控制检具2的左右两侧对称设有第二孔22，两个所述第二孔22位于所述凹槽21的左右两侧；
[0036]S2，使用第一测量件3测量所述凹槽21的长度，并记录为数值A，此时数值A为Φ1600；
[0037]S3，使用第二测量件4测量所述第二孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，所述回转类零件包括环体，所述环体的上端沿着所述环体的周向方向均布设有数个第一孔，所述环体的外径的合格值记录为数值α，所述环体的内径的合格值记录为数值β，所述第一孔的孔径的合格值记录为数值γ，两个对称的所述第一孔之间的孔中心距的合格值记录为数值δ；其特征在于：所述方法的步骤包括：S1，将一中心距误差控制检具送三坐标进行恒温检测，所述中心距误差控制检具呈条形状，所述中心距误差控制检具的上端设有凹槽，所述述中心距误差控制检具的左右两侧对称设有第二孔，两个所述第二孔位于所述凹槽的左右两侧；S2，使用第一测量件测量所述凹槽的长度，并记录为数值A；S3，使用第二测量件测量所述第二孔的孔径，并记录为数值B；S4，使用第三测量件测量所述凹槽与所述第二孔之间的最小距离，并记录为数值C；S5，根据所述数值A加工出与所述数值A相同大小的所述环体的内径数值β；S6，选择所述环体上两个对称的所述第一孔进行加工，并记录为数值D，所述数值D小于所述数值γ，测量计算两个所述第一孔的孔中心距并记录为数值E，根据所述数值δ调整所述数值E，将所述S6中的两个所述第一孔再进行加工，并记录为数值F，所述数值F等于所述数值B，测量其中一个所述第一孔与所述环体内侧壁之间的弦长值，并记录为数值G，所述数值G等于所述数值C。2.根据权利要求1所述的一种回转类零件孔系位置度在加工过程中的保证方法，其特征在于：所述方法的步骤还包括，S7，将所述S6中的两个所述第一孔再进行加工，并记录...

【专利技术属性】
技术研发人员：余金，高槐，梅镇，
申请(专利权)人：重庆机床集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：