显示基板及显示装置制造方法及图纸

本公开提供了一种显示基板及显示装置，属于显示技术领域。该显示基板包括多个测试电路组，每个测试电路组包括多个测试电路，且每个测试电路分别与一条数据信号线和一条数据线引线耦接，该数据线引线与数据线耦接，数据线再与像素耦接。每个测试电路能够通过数据线引线将数据信号线提供的数据信号传输至数据线，以点亮像素。由于每个测试电路中与数据线引线耦接的导电膜层的电阻值与数据线引线的长度负相关，因此可以实现对不同长度的数据线引线的电阻值的有效补偿，使得各条数据线引线上的电阻值接近。进而，可以使得传输至各条数据线的数据信号的均一性较好，多个像素的发光亮度均一性较好。由此，即可以确保点灯测试的精度较好。较好。较好。

【技术实现步骤摘要】
显示基板及显示装置


[0001]本公开涉及显示
，特别涉及一种显示基板及显示装置。

技术介绍

[0002]有机发光二极管(organic light
‑
emitting diode，OLED)显示基板因其功耗低、响应速度快和视角宽等优点被广泛应用于各类显示装置中。
[0003]目前，为确保OLED显示基板的出厂良率较好，在OLED显示基板出厂前，均会对OLED显示基板中的多个像素进行点灯测试，以验证该多个像素能否正常发光。基于此，OLED显示基板中一般会设置面板测试(cell test，CT)电路，该CT电路通过多条数据线引线与多条数据线耦接，该多条数据线与多个像素耦接。该CT电路用于通过多条数据线引线向多条数据线传输数据信号，该多条数据线用于将接收到的数据信号进一步传输至多个像素，以点亮该多个像素。
[0004]但是，受排布方式影响，各条数据线引线的长度不一，即各条数据线引线上的电阻值存在差异。如此，导致传输至各条数据线的数据信号均一性较差，进而导致多个像素的发光亮度均一性较差，影响点灯测试的测试精度。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括：衬底，具有显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；多个像素，位于所述显示区；多条数据线，位于所述显示区且与所述多个像素耦接，并用于向所述多个像素提供数据信号；多条数据线引线，位于所述非显示区且与所述多条数据线耦接；至少一条开关控制线、多条数据信号线和多个测试电路组，位于所述非显示区，每个所述测试电路组包括多个测试电路，每个所述测试电路具有多层导电膜层，且通过所述多层导电膜层与一条所述开关控制线、一条所述数据信号线和一条所述数据线引线耦接，并用于响应于所述开关控制线提供的开关控制信号，将来自所述数据信号线的数据信号经所述数据线引线传输至所述数据线；其中，每个所述测试电路包括的多层导电膜层中，耦接所述数据线引线的目标导电膜层的电阻值与所述数据线引线的长度负相关。2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的长度与所述数据线引线的长度负相关。3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的宽度与所述数据线引线的长度正相关。4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，所述目标导电膜层在所述衬底上的正投影的最大宽度与所述数据线引线的长度正相关。5.根据权利要求1至4任一所述的显示基板，其特征在于，所述多层导电膜层包括：位于所述衬底一侧的有源层、第一栅金属层和第一源漏金属层；所述有源层与所述第一源漏金属层耦接，所述第一源漏金属层还分别与所述数据信号线和所述数据线引线耦接，所述第一栅金属层与所述开关控制线耦接；所述目标导电膜层包括：通过所述第一源漏金属层与所述数据线引线耦接的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李吉东，汪锐，郑海，曾超，温为舒，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：