【技术实现步骤摘要】
数据写入方法、存储设备和存储介质
[0001]本专利技术涉及物料加工处理
,尤其涉及一种数据写入方法、存储设备和计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]在电子信息技术高度发展的今天,计算机闪存设备NAND被应用于许多场景。例如,eMMC(Embedded Multi Media Card,嵌入式多媒体卡)本质就是将NAND与主控IC集成封装在一起,得到的产品。
[0003]NAND根据每个存储单元(cell)内存储的比特个数的不同,其存储单元可以分为SLC(Single
‑
Level Cell,单极存储单元)、MLC(Multi
‑
Level Cell,多级存储单元)和TLC(Triple
‑
Level Cell,三能级存储单元)三类。而NAND的单个存储单元存储的比特位越多,读写性能会越差。
[0004]在TLC NAND中,读取扰动(read disturb)对处于erase state的存储单元的Vth存在比较严重的影响,这样导致NAND容 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数据写入方法,其特征在于,应用于存储设备,所述存储设备包括主控单元,闪存控制器和NAND,所述数据写入方法包括以下步骤:主控单元获取待写入数据;通过预设的可逆编码算法确定所述待写入数据对应的编码结果;将所述编码结果发送至所述闪存控制器,使所述闪存控制器基于所述编码结果调整所述NAND的目标页内各个存储单元的电压阈值,其中,调整后的所述目标页内,所述电压阈值处于第一状态的所述存储单元的数量小于所述电压阈值处于第二状态的所述存储单元的数量,所述第二状态对应的所述电压阈值大于所述第一状态对应的电压阈值。2.如权利要求1所述的数据写入方法,其特征在于,所述存储单元为多级存储单元MLC或者三级存储单元TLC。3.如权利要求2所述的数据写入方法,其特征在于,当所述存储单元为所述TLC时,所述电压阈值包括依次增大的第一阈值、第二阈值、第三阈值、第四阈值、第五阈值、第六阈值、第七阈值和第八阈值;所述第一状态对应的所述电压阈值为所述第一阈值或者所述第二阈值,所述第二状态对应的所述电压阈值为第三阈值、第四阈值、第五阈值、第六阈值、第七阈值或者第八阈值。4.如权利要求1所述的数据写入方法,其特征在于,所述主控单元获取待写入数据的步骤包括:在接收到数据写入指令时,获取所述写入指令对应的所述待写入数据。5.如权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹志忠,吴大畏,李晓强,
申请(专利权)人:广州致存科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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