用于监测制造过程的方法和系统技术方案

提供了用于监测制造过程的方法和系统。一种用于预测技术系统（300）的目标指标（TI）的计算机实现方法（100），包括至少以下步骤：提供（110）数据（D）集合，所述数据（D）集合包括至少第一类型的数据（D1）和至少第二类型的数据（D2）；将至少第一类型的数据（D1）变换（120a）成第一经处理的子集（D1

【技术实现步骤摘要】
用于监测制造过程的方法和系统


[0001]本公开涉及一种用于预测技术系统的目标指标的方法和系统。
[0002]本公开进一步涉及一种技术系统、以及用于操作该技术系统从而监测该技术系统、特别是监测该技术系统的制造过程的方法。

技术介绍

[0003]对制造设备或制造过程的监测例如用于质量管理或用于评估设备的健康状态。
[0004]对离散制造过程的基于机器学习的质量监测是复杂的过程，该过程需要机器学习方面的专门训练和对数据的深度理解、以及对领域和要解决的问题的必要理解。
[0005]本公开的一个目的是要提供一种用于对离散制造过程和/或用于离散制造过程的制造系统进行监测的一般模式。

技术实现思路

[0006]实施例涉及一种用于预测技术系统的目标指标的计算机实现方法，包括至少以下步骤：提供数据集合，所述数据集合包括至少第一类型的数据和至少第二类型的数据；将至少第一类型的数据变换成第一经处理的子集；将至少第二类型的数据变换成第二经处理的子集；将至少第一经处理的子集和第二经处理的子集变换成合并数据；以及基于合并数据来预测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于预测技术系统（300）的目标指标（TI）的计算机实现方法（100），包括至少以下步骤：提供（110）数据（D）集合，所述数据（D）集合包括至少第一类型的数据（D1）和至少第二类型的数据（D2），将至少第一类型的数据（D1）变换（120a）成第一经处理的子集（D1
‑
P），将至少第二类型的数据（D2）变换（120b）成第二经处理的子集（D2
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P），将至少第一经处理的子集（D1
‑
P）和第二经处理的子集（D2
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P）变换（130）成合并数据（D
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M），以及基于所述合并数据（D
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M）来预测（140）技术系统（300）的目标指标（TI）。2.根据权利要求1所述的方法（100），其中所述数据（D）包括关于技术系统（300）的特征的信息。3.根据权利要求1或2中任一项所述的方法（100），其中至少第一类型的数据（D1）和/或至少第二类型的数据（D2）包括以下格式之一：单值格式或时间序列格式或图像格式或视频格式或日志文件格式。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法（100），其中将至少第一类型的数据（D1）变换成第一经处理的子集（D1
‑
P）的步骤（120a）和/或将至少第二类型的数据（D2）变换成第二经处理的子集（D2
‑
P）的步骤（120b）包括特征工程。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法（100），其中将至少第一经处理的子集（D1
‑
P）和第二经处理的子集（D2
‑
P）变换（130）成所述合并数据（D
‑
M）的步骤包括：合并至少第一经处理的子集（D1
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P）和第二经处理的子集（D2
‑
P）。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法（100），其中所述方法包括进一步处理所述合并数据（D
‑
M）的至少一个步骤（120
‑
1，130
‑
1）。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法（100），其中进一步处理的至少一个步骤包括：特征工程的至少一个步骤（120
‑
1）和/或数据合并的步骤（130
‑
1）和/或特...

【专利技术属性】
技术研发人员：周柏帆，E，
申请(专利权)人：罗伯特，
类型：发明
国别省市：