一种测量西林瓶瓶口内径的标准块制造技术

本发明专利技术适用于检具技术领域，提供了一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，包括握持部，所述握持部的一端设置有上极限尺寸偏差塞规，所述上极限尺寸偏差塞规的外端设置有下极限尺寸偏差塞规，所述上极限尺寸偏差塞规和所述下极限尺寸偏差塞规均为圆柱形。该测量西林瓶瓶口内径的标准块，通过使用指定规格的塞规对瓶口的内径和椭圆度进行测量，不需要每次使用游标卡尺进行测量，工作人员只需要通过塞规进行比对，即可确定瓶口的内径和圆度是否处于公差范围内，即可快速分辨出产品是否合格，从而快速挑拣出不合格产品，在测量过程中，降低了对操作人员的专业度要求，不需要频繁调整游标卡尺和读数，步骤更加简单，工作效率更高，误差率更低。低。低。

【技术实现步骤摘要】
一种测量西林瓶瓶口内径的标准块


[0001]本专利技术属于检具
，尤其涉及一种测量西林瓶瓶口内径的标准块。

技术介绍

[0002]检具是工业生产企业用于控制产品各种尺寸(例如孔径、空间尺寸等)的简捷工具，提高生产效率和控制质量，适用于大批量生产的产品，如汽车零部件，以替代专业测量工具，如光滑塞规、螺纹塞规、外径卡规等。
[0003]西林瓶又称硼硅玻璃或钠钙玻璃管制(模制)注射剂瓶，是一种胶塞和铝塑组合盖封口的小瓶子，早期盘尼西林多用其盛装，故名西林瓶，西林瓶有棕色、透明等种类、硼硅材质的西林瓶为市场上的主流产品。
[0004]在西林瓶的生产过程中，需要对瓶口的内径和椭圆度进行测量，现有的一般是使用游标卡尺进行测量，在使用游标卡尺进行瓶口内径测量时，需考虑测量人员的专业技术性，这种方法存在着测量步骤繁琐、需时刻调整卡尺及工作效率低下的局限性，也存在着一定的误差，因此，需要寻找一种能够根据瓶口大小范围的标准块，进行快捷的测量。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，旨在解决使用游标卡尺测量西林瓶的瓶口内径时，需考虑测量人员的专业技术性，这种方法存在着测量步骤繁琐、需时刻调整卡尺及工作效率低下的局限性，也存在着一定的误差的问题。
[0006]本专利技术是这样实现的，一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，包括握持部，所述握持部的一端设置有上极限尺寸偏差塞规，所述上极限尺寸偏差塞规的外端设置有下极限尺寸偏差塞规，所述上极限尺寸偏差塞规和所述下极限尺寸偏差塞规均为圆柱形，所述下极限尺寸偏差塞规的直径小于所述上极限尺寸偏差塞规，所述握持部的另一端设置有椭圆度上极限偏差塞规，所述椭圆度上极限偏差塞规的外端设置有椭圆度下极限偏差塞规，所述椭圆度下极限偏差塞规与所述椭圆度上极限偏差塞规均为长方体，所述椭圆度下极限偏差塞规的宽度和厚度小于所述椭圆度上极限偏差塞规的宽度和厚度。
[0007]进一步的，所述握持部为圆柱形，直径大于所述上极限尺寸偏差塞规
[0008]进一步的，所述上极限尺寸偏差塞规和所述下极限尺寸偏差塞规与所述握持部的轴线为同一直线。
[0009]进一步的，所述椭圆度下极限偏差塞规与所述椭圆度上极限偏差塞规为同轴设置，且与所述握持部的轴心线为同一条直线。
[0010]进一步的，所述上极限尺寸偏差塞规、下极限尺寸偏差塞规、椭圆度上极限偏差塞规及椭圆度下极限偏差塞规的表面均经打磨抛光处理。
[0011]进一步的，所述握持部、上极限尺寸偏差塞规、下极限尺寸偏差塞规、椭圆度上极限偏差塞规及椭圆度下极限偏差塞规为碳钢材质，且为一体成型。
[0012]进一步的，所述上极限尺寸偏差塞规与所述握持部为可拆卸连接，所述下极限尺
寸偏差塞规与所述上极限尺寸偏差塞规为可拆卸连接。
[0013]进一步的，所述握持部一端的轴心处设置有第一螺纹孔，所述上极限尺寸偏差塞规的后端轴心处固定连接有与所述第一螺纹孔相适配的第一螺纹杆，所述上极限尺寸偏差塞规的前端面轴心处设置有第二螺纹孔，所述下极限尺寸偏差塞规的后端面轴心处固定连接有与所述第二螺纹孔相适配的第二螺纹杆。
[0014]进一步的，所述椭圆度上极限偏差塞规与所述握持部为可拆卸连接，所述椭圆度下极限偏差塞规与所述椭圆度上极限偏差塞规为可拆卸连接
[0015]进一步的，所述握持部另一端的轴心处设置有第三螺纹孔，所述椭圆度上极限偏差塞规的后端的轴心处设置有与所述第三螺纹孔相适配的第三螺纹杆，所述椭圆度上极限偏差塞规的前端的轴心处设置有第四螺纹孔，所述椭圆度下极限偏差塞规的后端的轴心处固定连接有与所述第四螺纹孔相适配的第四螺纹杆。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术的一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，通过使用指定规格的塞规对瓶口的内径和椭圆度进行测量，不需要每次使用游标卡尺进行测量，工作人员只需要通过塞规进行比对，即可确定瓶口的内径和圆度是否处于公差范围内，即可快速分辨出产品是否合格，从而快速挑拣出不合格产品，在测量过程中，降低了对操作人员的专业度要求，不需要频繁调整游标卡尺和读数，步骤更加简单，工作效率更高，误差率更低。
附图说明
[0017]图1为本专利技术提供的测量西林瓶瓶口内径的标准块的立体图；
[0018]图2为本专利技术的侧视图；
[0019]图3为本专利技术的实施例的剖视图。
[0020]图中：1
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握持部、2
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上极限尺寸偏差塞规、3
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下极限尺寸偏差塞规、4
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椭圆度上极限偏差塞规、5
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椭圆度下极限偏差塞规、6
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第一螺纹孔、7
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第一螺纹杆、8
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第二螺纹孔、9
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第二螺纹杆、10
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第三螺纹孔、11
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第三螺纹杆、12
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第四螺纹孔、13
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第四螺纹杆。附图说明
[0021][0022]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0023]请参阅图1
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2，本专利技术提供一种技术方案：一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，包括握持部1，握持部1的一端设置有上极限尺寸偏差塞规2，上极限尺寸偏差塞规2的外端设置有下极限尺寸偏差塞规3，上极限尺寸偏差塞规2和下极限尺寸偏差塞规3均为圆柱形，下极限尺寸偏差塞规3的直径小于上极限尺寸偏差塞规2。
[0024]上极限尺寸偏差塞规2的外径大小与瓶口的最大内径相同，下极限尺寸偏差塞规3的外径大小与瓶口的最小内径相同；将下极限尺寸偏差塞规3先塞入瓶口，如瓶口会对下极限尺寸偏差塞规3造成阻挡，故下极限偏差过小，尺寸不良，产品不合格，若能够有摩擦感的进入，从而使上极限尺寸偏差塞规2到达瓶口并产生阻挡，故在公差范围之内，产品合格，如上极限尺寸偏差塞规2也能进入瓶口，则上极限偏差过大，产品不合格。
[0025]握持部1的另一端设置有椭圆度上极限偏差塞规4，椭圆度上极限偏差塞规4的外端设置有椭圆度下极限偏差塞规5，椭圆度下极限偏差塞规5与椭圆度上极限偏差塞规4均为长方体，椭圆度下极限偏差塞规5的宽度和厚度小于椭圆度上极限偏差塞规4的宽度和厚度。
[0026]椭圆度上极限偏差塞规4的宽度大小与瓶口的最大内径相同，椭圆度下极限偏差塞规5的宽度大小与瓶口的最小内径相同，在使用时，先将椭圆度下极限偏差塞规5插入瓶口，直至瓶口挡住椭圆度上极限偏差塞规4，然后旋转装置90度，由于椭圆度下极限偏差塞规5旋转经过路径为圆柱形，若旋转过程稍带摩擦，则表面瓶口内壁与椭圆度下极限偏差塞规5接触较为紧密，且不会阻挡，则产品瓶口的圆度在公差范围内，产品合格，若旋转过程产生阻挡，则说明瓶口的圆度不在公差范围内，产品瓶口为椭圆，则本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于：包括握持部(1)，所述握持部(1)的一端设置有上极限尺寸偏差塞规(2)，所述上极限尺寸偏差塞规(2)的外端设置有下极限尺寸偏差塞规(3)，所述上极限尺寸偏差塞规(2)和所述下极限尺寸偏差塞规(3)均为圆柱形，所述下极限尺寸偏差塞规(3)的直径小于所述上极限尺寸偏差塞规(2)，所述握持部(1)的另一端设置有椭圆度上极限偏差塞规(4)，所述椭圆度上极限偏差塞规(4)的外端设置有椭圆度下极限偏差塞规(5)，所述椭圆度下极限偏差塞规(5)与所述椭圆度上极限偏差塞规(4)均为长方体，所述椭圆度下极限偏差塞规(5)的宽度和厚度小于所述椭圆度上极限偏差塞规(4)的宽度和厚度。2.根据权利要求1所述的测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于：所述握持部(1)为圆柱形，直径大于所述上极限尺寸偏差塞规(2)。3.根据权利要求2所述的测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于：所述上极限尺寸偏差塞规(2)和所述下极限尺寸偏差塞规(3)与所述握持部(1)的轴线为同一直线。4.根据权利要求1所述的测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于：所述椭圆度下极限偏差塞规(5)与所述椭圆度上极限偏差塞规(4)为同轴设置，且与所述握持部(1)的轴心线为同一条直线。5.根据权利要求1所述的测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于：所述上极限尺寸偏差塞规(2)、下极限尺寸偏差塞规(3)、椭圆度上极限偏差塞规(4)及椭圆度下极限偏差塞规(5)的表面均经打磨抛光处理。6.根据权利要求1所述的测量西林瓶瓶口内径的标准块，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：何斐，李青，李远，杨宗宝，任士芳，刘彬，崔文刚，万新，陈丽强，张飞，
申请(专利权)人：北京远大信达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：