发光光源光色检测系统及光色比对方法技术方案

本发明专利技术提供了一种发光光源光色检测系统及光色比对方法，其中，发光光源光色检测系统包括：测试平台；中空的支撑框架，置于测试平台上；光透射平面介质，水平放置于支撑框架上，用于对待检测发光光源出射的光进行漫透射，光透射平面介质由非透明的纯色物质制备而成；检测时待检测发光光源于支撑框架的中空部位置于光透射平面介质下方的同一高度；检测电源，置于测试平台上，与待检测发光光源连接，用于为待检测发光光源供电，有效解决现有光色比对方法准确性不高、对外界环境要求较高等技术问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
发光光源光色检测系统及光色比对方法


[0001]本专利技术涉及半导体
，尤其是一种发光光源光色检测系统及光色比对方法。

技术介绍

[0002]发光光源无论应用于商业照明、手机闪光灯、汽车前照大灯或是其他领域，终端客户在选用时都会对其光色(发光颜色)进行评估确点亮效果。此外，同一客户的供应商通常不会只有一家，一般会出现二供、三供等情况，必然需要对不同供应商提供的发光光源的光色进行比对。即便是同一供应商提供的发光光源，在一些特定情况下也需要对不同发光光源的光色进行比对。
[0003]对于发光光源光色的检测，如采用专用仪器进行检测，价格非常昂贵，所以在大多数要求不是特别高的场景中一般会采用简易的方法进行观测，具体过程为：在黑暗的环境中，采用相同的电流和电压同时点亮多个发光光源，并将光圈投射于墙壁上，通过肉眼的方式对发光颜色进行观察。这种方式虽然能够一定程度上实现目的，但是存在如下缺点：
[0004]1.投射在墙壁上光圈面积大，且边缘模糊，致使发光颜色饱和度不强，细微的光色区别易被忽略，观察久了容易造成视觉疲劳，如图1所示，其的(a)和(b)分别为发光光源从两个不同角度透射到墙壁上形成的光圈。
[0005]2.为了提高判断的准确性，需要保持外界环境尽量黑暗，对外界环境要求较高。
[0006]3.需要配置各种使其发光的工具，如灯具、发光筒，电源等，且需要一面常识可知且空间较大的墙壁，对空间要求较高。
[0007]4.光圈图在墙壁上一般没有固定形状，光线较为发散，因此对于发光光源之间光色的细微差异较难观测。即便将投射于墙壁上的光圈图拍摄下来对其各个位置的RGB值进行测算，由于手抖、透射角度、透射距离差异等因素会导致不同发光光源于墙壁上透射的光圈图有所差异，从而难以从不同发光光源的光圈图上确定用于光色比对的同一位置，进而无法对具体的RGB值进行比对。

技术实现思路

[0008]为了克服以上不足，本专利技术提供了一种发光光源光色检测系统及光色比对方法，有效解决现有光色比对方法准确性不高、对外界环境要求较高等技术问题。
[0009]本专利技术提供的技术方案为：
[0010]一方面，本专利技术提供了一种发光光源光色检测系统，包括：
[0011]测试平台；
[0012]中空的支撑框架，置于所述测试平台上；
[0013]光透射平面介质，水平放置于所述支撑框架上，用于对待检测发光光源出射的光进行漫透射，所述光透射平面介质由非透明的纯色物质制备而成；检测时待检测发光光源于所述支撑框架的中空部位置于所述光透射平面介质下方的同一高度；
[0014]检测电源，置于所述测试平台上，与待检测发光光源连接，用于为待检测发光光源供电。
[0015]另一方面，本专利技术提供一种发光光源光色比对方法，应用于上述发光光源光色检测系统，所述发光光源光色比对方法包括：
[0016]提供多个待对比发光光源；
[0017]将所述多个待对比发光光源与检测电源连接，并置于光透射平面介质下方；
[0018]点亮所述多个待对比发光光源；
[0019]于光透射平面介质上表面接收对发光光源的出射光进行漫透射后的透射光；
[0020]根据不同发光光源的透射光完成对多个发光光源的光色比对。
[0021]本专利技术提供的发光光源光色检测系统及光色比对方法，通过在一中空的支撑框架上方放置一光透射平面介质的方式，将发光光源发出的光漫投射出来，在光透射平面介质上表面即可直接观察到发光光源的光色，便于人眼观察，光圈颜色清晰且颜色纯度高。观察中，光透射平面介质为不同发光光源唯一相同的背景，在小范围的发光群内，明暗对比明显，发光光源颜色饱和度高，与传统的通过墙面等介质进行观察的方法来说对比度高，不需要将外界环境调节成尽量黑暗即可完成发光颜色的对比，能够大大提高检测效率且利用空间较小，操作简单。
附图说明
[0022]图1为现有技术中将光投射在墙壁上形成的光圈图；
[0023]图2为一实例中两个发光光源在非透明白色光透射平面介质下的光色比对结果图；
[0024]图3为一实例中两个发光光源在非透明蓝色光透射平面介质下的光色比对结果图；
[0025]图4为本专利技术发光光源光色比对方法一实施例流程示意图。
具体实施方式
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施案例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本专利技术的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
[0027]在本专利技术的一种实施例中，一种发光光源光色检测系统，包括：测试平台；中空的支撑框架，置于测试平台上；光透射平面介质，水平放置于支撑框架上，用于对待检测发光光源出射的光进行漫透射，光透射平面介质由非透明的纯色物质制备而成；检测时待检测发光光源于支撑框架的中空部位置于光透射平面介质下方的同一高度；检测电源，置于测试平台上，与待检测发光光源连接，用于为待检测发光光源供电。
[0028]在本实施例中，测试平台可以为任意平面，支撑框架可以为任意形式的框架，对于其具体结构、制备的材料这里均不做限定，只要能够保证光透射平面介质置于该测试平台和支撑框架表面时水平高度相同即可；另外，支撑框架内部中空的大小这里同样不做限定，只要确保能够容纳待检测的发光光源，且置于中空区域的发光光源出射的光能够直接射入
光透射平面介质即可。
[0029]光透射平面介质为一能够透光的非透明纯色的平面，如，一定厚度的纸张、一磨砂玻璃板、磨砂塑料板等，对于该平面的颜色，理论上来说，只要不是纯黑色或其他致使平面完全不透光的颜色即可，实验结果也表明除黑色外其他纯色均能起到明确辨别光色的效果，应用中具体颜色的选定根据实际情况进行选定即可，如一实例中，要对某一发光光源的光色进行检测，可以选定非透明白色的平面；另一实例中，需要对多个发光光源的光色进行比对，可以选定除黑色外的其他颜色的平面，为了便于观察，也可以选定非透明白色的平面。对于平面本身的厚度和材料这里均不做具体限定，只要该平面能够对下表面的入射光进行漫反射，并在上表面呈现出来即可。
[0030]为了进一步提高光色检测效果，在另一实施例中，发光光源光色检测系统还包括内部中空足以放置一待检测发光光源的光阻挡件，于光透射平面介质下方设置。该光阻挡件用于设置于发光光源四周，将发光光源朝向四周发射的光反射回来朝向光透射平面介质的方向出射，是以只要能够满足这一目的的结构均包括在本实施例的范围中，如，中空的圆柱筒、方形筒等。对于光阻挡件的材料，理论上来说可以使用任意能够成型的材料，如，金属材料、塑料材料等，对于光照强度要求高的应用场景，除了选用光反射率高的材料制备光阻挡件之外，还可以选用在其表面涂覆光反射材料的方式实现目的。
[0031]在另一实施例中，为了便于调节待检测发光光源与光透射平面介质之间的距离，进一步提升本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发光光源光色检测系统，其特征在于，包括：测试平台；中空的支撑框架，置于所述测试平台上；光透射平面介质，水平放置于所述支撑框架上，用于对待检测发光光源出射的光进行漫透射，所述光透射平面介质由非透明的纯色物质制备而成；检测时待检测发光光源于所述支撑框架的中空部位置于所述光透射平面介质下方的同一高度；检测电源，置于所述测试平台上，与待检测发光光源连接，用于为待检测发光光源供电。2.如权利要求1所述的发光光源光色检测系统，其特征在于，所述发光光源光色检测系统还包括内部中空足以放置一待检测发光光源的光阻挡件，于所述光透射平面介质下方设置。3.如权利要求1或2所述的发光光源光色检测系统，其特征在于，所述发光光源光色检测系统还包括一表面配置有一用于放置待检测发光光源台面的高度调节装置，设置于所述光透射平面介质下方，用于调节待检测发光光源与光透射平面介质之间的距离。4.如权利要求3所述的发光光源光色检测系统，其特征在于，所述待检测发光光源与光透射平面介质之间距离的范围为0～15cm。5.如权利要求1或2或4所述的发光光源光色检测系统，其特征在于，所述发光光源光色检测系统中还包括：拍摄装置，配置于所述光透射平面介质上方，且拍摄镜头平行于所述光透射平面介质设置，用于对发光光源投射于光透射平面介质上的光圈图进行拍摄；光色检测装置，用于对所述拍摄装置拍摄的光圈图上不同位置处的RGB值进行检测。6.一种发光光源光色比对方法，其特征在于，应用于如权利要求1
‑
5任意一项所述的发...

【专利技术属性】
技术研发人员：余泓颖，魏水林，邓干辉，
申请(专利权)人：江西省晶能半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：