一种芯片测试方法及系统技术方案

本申请提供一种芯片测试方法及系统，应用于高清多媒体接口HDMI芯片，HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，M和N中至少一个大于1，M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据，N个HDMI输出接口将接收到的HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果，校验结果能够反映HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作，采用与HDMI芯片输入接口数量相同的信号源以及与HDMI芯片输出接口数量相同的接收器，分别对HDMI芯片的每一输入接口和每一输出接口进行测试，测试效率较高，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。测试准确率较高。测试准确率较高。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及半导体领域，特别涉及一种芯片测试方法及系统。

技术介绍

[0002]当前在芯片出厂应用前，都会对芯片进行测试，以降低向用户提供性能不佳的芯片的概率。基于高清多媒体接口(High Definition Multimedia Interface，HDMI)的芯片作为一种重要的音视频数据传输接口芯片，已经广泛应用于电子设备中。
[0003]当前是利用现场可编程逻辑门阵列(Field
‑
Programmable Gate Array，FPGA)芯片对HDMI芯片进行测试，但是目前常用的FPGA芯片对HDMI芯片的测试效率较低，不能满足高效测试需求。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试方法及系统，能够满足HDMI芯片的高效测试需求，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。
[0005]本申请实施例提供了一种芯片测试方法，应用于高清多媒体接口HDMI芯片，所述HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，所述M和所述N中至少一个大于1，所述方法包括：
[0006]所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据；
[0007]所述HDMI芯片的N个HDMI输出接口将所述HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果，所述校验结果反映所述HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作。
[0008]可选地，所述接收器包括循环冗余校验模块，则所述HDMI芯片的N个HDMI输出接口将所述HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果包括：
[0009]所述循环冗余校验模块对所述HDMI信号测试数据进行循环冗余校验，得到校验结果。
[0010]可选地，所述信号源包括HDMI信号发生器；
[0011]所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据包括：
[0012]所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源中的HDMI信号发生器产生的HDMI信号测试数据。
[0013]可选地，所述接收器包括串并转换模块和解码器；所述信号源包括编码器和并串转换模块；
[0014]所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据之前，所述方法还包括：
[0015]所述编码器接收所述HDMI信号发生器产生的初始测试数据，并根据HDMI协议对所
述初始测试数据进行编码，得到并行的HDMI信号测试数据；
[0016]所述并串转换模块接收所述并行的HDMI信号测试数据，转换为串行的HDMI信号测试数据；
[0017]所述N个接收器进行数据校验，得到校验结果之前，所述方法还包括：
[0018]所述N个接收器接收所述HDMI芯片发送的串行的HDMI信号测试数据，利用所述串并转换模块转换为并行的HDMI信号测试数据；
[0019]所述解码器接收所述并行的HDMI信号测试数据，并根据HDMI协议对所述并行的HDMI信号测试数据进行解码，得到所述初始测试数据。
[0020]可选地，所述信号源包括摆幅调控模块；所述接收器包括均衡器；
[0021]所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据之前，所述方法还包括：
[0022]所述摆幅调控模块对所述HDMI信号测试数据进行幅度调整；
[0023]所述N个接收器进行数据校验，得到校验结果之前，所述方法还包括：
[0024]所述均衡器对接收的所述HDMI信号测试数据进行调整，以提高所述HDMI信号测试数据的信号质量。
[0025]可选地，所述HDMI芯片至少包括HDMI矩阵芯片、HDMI分配器和HDMI切换器。
[0026]本申请实施例提供了一种芯片测试系统，所述系统包括：高清多媒体接口HDMI芯片、信号源和接收器；
[0027]所述HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，所述M和所述N中至少一个大于1，所述信号源的数量为M个，所述接收器的数量为N个；
[0028]所述信号源，用于向所述HDMI芯片发送HDMI信号测试数据；
[0029]所述HDMI芯片，用于利用M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的所述HDMI信号测试数据以及利用N个HDMI输出接口将所述HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器；
[0030]所述接收器，用于接收所述HDMI芯片发送的所述HDMI信号测试数据，对所述HDMI信号测试数据进行数据校验，得到校验结果，所述校验结果反映所述HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作。
[0031]可选地，所述接收器包括循环冗余校验模块，用于对所述HDMI信号测试数据进行循环冗余校验，得到校验结果。
[0032]可选地，所述信号源包括HDMI信号发生器，用于产生所述HDMI信号测试数据。
[0033]可选地，所述系统还包括：控制器，用于控制所述高清多媒体接口HDMI芯片、信号源和接收器，以便利用所述信号源和所述接收器对所述HDMI芯片进行测试。
[0034]本申请实施例提供的芯片测试方法，应用于高清多媒体接口HDMI芯片，HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，M和N中至少一个大于1，即HDMI芯片可能具有多个数据输入接口或数据输出接口，HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据，而后HDMI芯片的N个HDMI输出接口将接收到的HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果，校验结果能够反映HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作，也就是说，本申请实施例中采用与HDMI芯片输入接口数量相同的信号源以及与HDMI芯片输出接口数量相同的接收器，分别对HDMI芯片的每一输入
接口和每一输出接口进行测试，即HDMI芯片的每一路数据传输通道都具有独立的信号源进行数据输入和独立的接收器进行数据接收，以此来全方位测试具有多个输入和输出接口的HDMI芯片的性能，相较于利用价格昂贵且测试效率较低的FPGA芯片对HDMI芯片进行测试，利用多个信号源和多个接收器同时对HDMI芯片进行测试，测试效率较高，并且成本低廉，测试难度较低，测试准确率较高。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0036]图1示出了本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程图；
[0037]图2示出了利用本申请实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于高清多媒体接口HDMI芯片，所述HDMI芯片至少包括M个HDMI输入接口和N个HDMI输出接口，所述M和所述N中至少一个大于1，所述方法包括：所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据；所述HDMI芯片的N个HDMI输出接口将所述HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果，所述校验结果反映所述HDMI芯片的数据接收和数据发送是否正常工作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收器包括循环冗余校验模块，则所述HDMI芯片的N个HDMI输出接口将所述HDMI信号测试数据分别发送至N个接收器进行数据校验，得到校验结果包括：所述循环冗余校验模块对所述HDMI信号测试数据进行循环冗余校验，得到校验结果。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述信号源包括HDMI信号发生器；所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据包括：所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源中的HDMI信号发生器产生的HDMI信号测试数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述接收器包括串并转换模块和解码器；所述信号源包括编码器和并串转换模块；所述HDMI芯片的M个HDMI输入接口分别接受来自M个信号源发送的HDMI信号测试数据之前，所述方法还包括：所述编码器接收所述HDMI信号发生器产生的初始测试数据，并根据HDMI协议对所述初始测试数据进行编码，得到并行的HDMI信号测试数据；所述并串转换模块接收所述并行的HDMI信号测试数据，转换为串行的HDMI信号测试数据；所述N个接收器进行数据校验，得到校验结果之前，所述方法还包括：所述N个接收器接收所述HDMI芯片发送的串行的HDMI信号测试数据，利用所述串并转换模块转换为并行的HDMI信号测试数据；所述解码器接收所述并行的HDMI信号测试数据，并根据HDMI协议对所述并行的HDMI信号测试数据进行解码，得到所述初始测试数据。5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛学亮，周大锋，夏洪锋，任殿升，程子翔，吕明，
申请(专利权)人：龙迅半导体合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：