一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统及方法，该测试系统，包括以下模块：上位机、内设有ADC芯片的待测模块、模拟信号源，所述模拟信号源、所述待测模块、所述上位机依次电相连。本发明专利技术解决了现有技术存在的自动化程度低、测试效率低、无法准确分析ADC的性能指标等问题。指标等问题。指标等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及集成电路电信号测试
，具体是一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统及方法。

技术介绍

[0002]随着数字处理技术的高速发展，模数转换器(ADC)作为模拟技术和数字技术的接口，广泛应用于工业控制、雷达、通信、消费电子等各个领域。采集处理类数字板卡上ADC器件的性能好坏直接影响整个系统指标的高低和功能好坏，这就需要高效、可靠的ADC测试方法对芯片进行性能测试保证芯片的稳定应用。
[0003]传统针对采集处理类板卡的ADC芯片测试有两种方案。一种是利用Xilinx FPGA自带的信号观测软件对AD原始信号进行采集和存储，再利用Matlab软件去调用分析。另外一种是针对板上同时含有DAC的板卡，可以将待测ADC输出的数字信号接至DAC器件转化为模拟信号，然后利用频谱分析仪对DAC的模拟输出信号进行频谱分析，得出信噪比等指标。第一种方法需要接入Xlinx仿真器观测信号并手动进行数据保存后再分析，自动化程度低导致测试效率极低，不适合大规模批量生产的模块测试。第二种方法简本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，包括以下模块：上位机(1)、内设有ADC芯片的待测模块(2)、模拟信号源(12)，所述模拟信号源(12)、所述待测模块(2)、所述上位机(1)依次电相连。2.根据权利要求1所述的一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，还包括时钟源(11)，所述时钟源(11)、所述待测模块(2)、所述上位机(1)依次电相连。3.根据权利要求2所述的一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，所述模拟信号源(12)、所述时钟源(11)分别与所述上位机(1)电相连。4.根据权利要求3所述的一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，所述待测模块(2)与所述上位机(1)通过CAN接口、RS232接口或以太网接口电相连。5.根据权利要求4所述的一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，还包括电源(10)，所述电源(10)与所述上位机(1)、所述待测模块(2)分别电相连。6.根据权利要求5所述的一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统，其特征在于，所述电源(10)、所述模拟信号源(12)、所述时钟源(11)均与所述上位机(1)通过GPIB总线电相连。7.一种针对含有ADC芯片的模块的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏敏，舒鹏飞，徐德凯，党谦谦，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：