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本发明公开了一种针对含有ADC芯片的模块的测试系统及方法，该测试系统，包括以下模块：上位机、内设有ADC芯片的待测模块、模拟信号源，所述模拟信号源、所述待测模块、所述上位机依次电相连。本发明解决了现有技术存在的自动化程度低、测试效率低、无法...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十九研究所授权不得商用。

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