自动校正的电涡流激光组合测厚仪制造技术

本申请公开自动校正的电涡流激光组合测厚仪。根据本发明专利技术的自动校正的电涡流激光组合测厚仪，包括：(1)在表面金属参考物未贴敷贴敷非金属材料时，利用激光传感器和电涡流传感器作校正测量并对校正测量数据处理得到校正基准值；(2)在表面金属参考物外表面部分贴敷有贴敷非金属材料时，在裸露处，利用激光传感器和电涡流传感器作对比测量并对对比测量数据处理得到对比值，以及在被贴敷处，利用激光传感器和电涡流传感器作测厚测量并对测厚测量数据处理得到测厚厚度值；(3)将对比值与校正基准值比较得到误差值；(4)根据误差值对待测厚厚度值校正。本发明专利技术的自动校正的电涡流激光组合测厚仪可自动校正补偿。组合测厚仪可自动校正补偿。组合测厚仪可自动校正补偿。

【技术实现步骤摘要】
自动校正的电涡流激光组合测厚仪


[0001]本专利技术涉及非金属卷材类测厚装置领域，尤其涉及自动校正的电涡流激光组合测厚仪。

技术介绍

[0002]目前，市面上常见的测厚仪的测厚模块通常是在线式由两个位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面和下表面的位置，进而通过计算得出被测体的厚度。此种类型的传感器在使用前通常需要通过额外的校正块进行校正，通过具有标准厚度的校正块校正后测厚仪才能使用。而在校正过程中，容易出现厚度不良的材料进入下一生产工序，引起质量事故的风险加大。

技术实现思路

[0003]本专利技术的一个优势在于提供自动校正的电涡流激光组合测厚仪，能够自动校正补偿，且校正时不需要额外的标准校正块。
[0004]为达到本专利技术以上至少一个优势，本专利技术的一个优势在于提供自动校正的电涡流激光组合测厚仪的测厚方法，用于测量被部分贴敷地一表面金属参考物外表面的一贴敷非金属材料的厚度，所述自动校正的电涡流激光组合测厚仪包括一主测厚组件，所述主测厚组件包括一激光传感器和一电涡流传感器，所述激光传感本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.自动校正的电涡流激光组合测厚仪的测厚方法，其特征在于，用于测量被部分贴敷地一表面金属参考物外表面的一贴敷非金属材料的厚度，所述自动校正的电涡流激光组合测厚仪包括一主测厚组件，所述主测厚组件包括一激光传感器和一电涡流传感器，所述激光传感器和所述电涡流传感器设置在所述表面金属参考物同一侧，所述测厚方法包括：在所述表面金属参考物外表面未贴敷所述贴敷非金属材料时，利用所述激光传感器和所述电涡流传感器进行校正测量，以测得所述激光传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即第一校正距离和所述电涡流传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即第二校正距离；多次进行所述校正测量，以得到多个所述第一校正距离和与多个第一校正距离一一对应的多个所述第二校正距离；计算多个所述第二校正距离和其对应的多个所述第一校正距离的差值的平均值作为校正基准值；在所述表面金属参考物外表面部分贴敷有所述贴敷非金属材料时，在所述表面金属参考物的裸露处，利用所述激光传感器和所述电涡流传感器进行多次对比测量，以测得所述激光传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即多个第一对比距离和所述电涡流传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即与多个第一对比距离一一对应的多个第二对比距离，以及，在所述表面金属参考物的被贴敷处利用所述激光传感器和所述电涡流传感器进行测厚测量，以测得所述激光传感器至所述贴敷非金属材料外表面的距离即第一测厚距离和所述电涡流传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即第二测厚距离；计算多个所述第二对比距离和多个所述第一对比距离的差值的平均值作为对比值；计算所述校正基准值和所述对比值的差值作为误差值；计算所述第二测厚距离和所述第一测厚距离的差值作为测厚厚度值；以及，计算所述测厚厚度值与所述误差值之和，以得到所述贴敷非金属材料的校正后厚度值。2.根据权利要求1所述的自动校正的电涡流激光组合测厚仪的测厚方法，其特征在于，所述自动校正的电涡流激光组合测厚仪包括一辅测厚组件，所述辅测厚组件包括一同步带、一同步轮和一编码器；所述测厚方法包括：通过所述同步轮转动带动所述同步带沿左右方向进行传送；通过所述编码器检测所述同步轮的角位移信息；根据所述角位移信息和所述同步轮的外径信息得到所述主测厚组件沿左右方向的直线位移信息；根据所述直线位移信息以及所述主测厚组件的初始位置信息得到所述主测厚组件的左右位置；以及，将所述左右位置与该位置处测得的所述校正后厚度值对应，以得到所述贴敷非金属材料在不同左右位置处的厚度。3.自动校正的电涡流激光组合测厚仪，其特征在于，所述自动校正的电涡流激光组合测厚仪包括：一主测厚组件，所述主测厚组件包括一激光传感器和一电涡流传感器，所述激光传感器和所述电涡流传感器设置在一表面金属参考物同一侧，在所述表面金属参考物外表面未
贴敷有一贴敷非金属材料时，所述激光传感器和所述电涡流传感器用于进行多次校正测量，以得到所述激光传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即多个第一校正距离，以及所述电涡流传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即与多个所述第一校正距离一一对应的多个第二校正距离；在所述表面金属参考物外表面部分贴敷有所述贴敷非金属材料时，所述电涡流传感器和所述激光传感器用于在所述表面金属参考物的裸露处进行多次对比测量，以测得所述激光传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即多个第一对比距离和所述电涡流传感器至所述表面金属参考物外表面的距离即与多个所述第一对比距离一一对应的多个第二对比距离，以及所述电涡流传感器和所述激光传感器用于在所述表面金属参考物的被贴敷处进行测厚测量，以得到所述激光传感器至所述贴敷非金属材料外表面的距离即第一测厚距离和所述电涡流传感器与所述表面金属参考物外表面的距离即第二测厚距离；以及，一处理器，所述处理器包括一校正处理模块、一对比处理模块和一测厚处理模块，所述校正处理模块用于在获取多个所述第一校正距离和与所述第一校正距离对应的多个所述第二校正距离后，计算多个所述第二校正距离和其对应的多个所述第一校正距离的差值的平均值作为校正基准值；所述对比处理模块用于在获取所述校正基准值、多个所述第一对比距离和多个所述第二对比距离后，计算多个所述第二对比距离和多个所述第一对比距离的差值的平均值作为对比值，并计算所述校正基准值和所述对比值的差值作为误差值；所述测厚处理模块用于在获取所述误差值、所述第一测厚距离和所述第二测厚距离后，计算所述第二测厚距离和所述第一测厚距离的差值作为测厚厚度值，并计算所述测厚厚度值和所述误差值之和作为所述贴敷非金属材料的校正后厚度值。4.根据权利要求3所述的自动校正的电涡流激光组合测厚仪，其特征在于，包括一辅测厚组件，所述辅测厚组件包括一同步带、一同步轮、一编码器...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨帆，周志辉，杨克中，
申请(专利权)人：凯多智能科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：