地坪检测方法及储存介质及电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种地坪检测方法及储存介质及电子装置。该地坪检测方法包括：S10：将待检测地坪划分为多个既定测量范围；S20：在第一既定测量范围和第二既定测量范围的边界处设置第一靶标；S30：获取第一既定测量范围的第一点云数据；S40：获取第二既定测量范围的第二点云数据；S50：根据第一标记信息和第二标记信息将第一点云数据和第二点云数据拼接在一起。应用本发明专利技术的技术方案，在第一既定测量范围和第二既定测量范围的边界处设置第一靶标，可以将获取到的相邻的局部点云数据拼接在一起，从而得到待测量地坪的全面数据，从而实现对于待测量地坪的整体评估，提高地坪数据获得的准确性，同时也可以提高地坪检测效率。同时也可以提高地坪检测效率。同时也可以提高地坪检测效率。

【技术实现步骤摘要】
地坪检测方法及储存介质及电子装置


[0001]本专利技术涉及地坪检测
，具体而言，涉及一种地坪检测方法及储存介质及电子装置。

技术介绍

[0002]地坪是所有建筑工程必备的组成部分，其表面质量直接影响使用功能和上层结构的后续施工。地坪的表面质量主要有水平度和平整度两个指标。水平度用来表征地坪宏观坡度，而平整度用来表征地坪局部与理想平面的偏离程度。目前国内对地坪质量通行的标准是GB50209
‑
2010《建筑地面工程施工质量验收规范》中的相关规定，以混凝土地面为例，平整度合格标准为2m靠尺最大偏差不超过5mm，而水平度检测仅进行目视观察和水平尺测量，或泼水法观察等较为粗糙的测量方法。此检测方法操作简单，工具价廉易用，对于住宅、商用建筑等地面是适用的，但对于仓库、厂房、跑道、广场等面积较大，表面质量要求较高的地坪，即使根据标准检测合格，也可能无法满足其功能要求。
[0003]目前较为通行的一种适用于高精度地坪的检测标准为F数值方法，最初作为美国混凝土协会(ACI)的行业标准，并逐步被各国广泛接受，成为一些国家的推荐标准(ASTME1155M等)。这种检测方法的基本原理，是在被测地坪上按照一定规则抽取若干直线，采用高精度测量设备，连续测量每条直线上点的标高，计算出各直线代表水平度和平整度的数值，再使用统计学方法，将所有直线的计算结果合成为整块地坪的测量结果Ff(平整度)和Fl(水平度)。
[0004]F数值方法常用的测量工具为美国Face公司出品的Dipstick。Dipstick内部安装有倾角传感器，下端有两个支脚，上部有一手柄。如图1所示，测量时，先将两个支脚放在被测直线起点处，使用者抓住手柄末端，保持一个支脚不动，抬起另一个支脚，使设备绕着固定支脚旋转180
°
，将另一支脚落在前方直线上，如此反复走完整条直线。在此过程中，倾角传感器记录下每次设备停稳时的水平角度，由于两支脚之间的距离固定不变，可以由此角度计算出每次停稳时前后支脚之间的相对高差。根据每段高差可计算直线的Ff(平整度)数值，根据连续若干段的高差可计算直线的Fl(水平度)数值。
[0005]其他的平整度测量设备，通常用大跨度钢梁搭建一个基准平面，在钢梁中部安装距离传感器。检测时，使设备沿路径方向运动，记录下距离传感器所测量的地面高度的波动，经过统计学方法计算之后，可表征局部地坪的平整度属性。此外，还有将距离传感器安装在汽车等移动底盘上，测量原理都是相似的。
[0006]上述的地坪测量标准和手段有如下缺陷：
[0007]1、使用靠尺检测地坪质量，受采样位置和人员主观因素的影响极大，检测结果几乎无法复现，以此结果作为验收标准，只能适用于毛坯住宅等小面积且没有特殊要求的地坪。
[0008]2、F数值的相关方法，虽然比以靠尺为准的现有国标能更准确表征地坪表面质量，但从本质上说，这种方法仍然是用低维(一维、直线)信息来推定高维(二维平面、三维曲面)
实体的某些属性。测量结果可以判断地坪是否合格，但并不能直接观察到地坪表面的真实形态，根据测量结果进行定点修补也较为困难，很多时候仍然需要依赖泼水法判断修补区域。
[0009]3、Dipstick等类似测量设备，在很多领域得到认同和应用，但其操作为纯人工，测量速度较慢，人工消耗量大，造成成本也较高。

技术实现思路

[0010]本专利技术的主要目的在于提供一种地坪检测方法及储存介质及电子装置，以解决现有技术中地坪检测效率低且不准确的技术问题。
[0011]为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种地坪检测方法，地坪检测方法包括：S10：将待检测地坪划分为多个既定测量范围，多个既定测量范围包括第一既定测量范围和第二既定测量范围；S20：在第一既定测量范围和第二既定测量范围的边界处设置第一靶标；S30：获取第一既定测量范围的第一点云数据，并将第一点云数据和第一靶标在第一既定测量范围的第一标记信息相结合；S40：获取第二既定测量范围的第二点云数据，并将第二点云数据和第一靶标在第二既定测量范围的第二标记信息相结合；S50：根据第一标记信息和第二标记信息将第一点云数据和第二点云数据拼接在一起。
[0012]在一个实施方式中，在S50中：通过将第一标记信息和第二标记信息重合的方式将第一点云数据和第二点云数据拼接在一起。
[0013]在一个实施方式中，在S10：多个既定测量范围包括第三既定测量范围，第三既定测量范围与第二既定测量范围相邻设置，并且与第一既定测量范围、第二既定测量范围和第三既定测量范围位于同一列；地坪检测方法还包括：S60：在第二既定测量范围和第三既定测量范围的边界处设置第二靶标；S70：将第二点云数据和第二靶标在第二既定测量范围的第三标记信息相结合；S80：获取第三既定测量范围的第三点云数据，并将第三点云数据和第二靶标在第三既定测量范围的第四标记信息相结合；S90：根据第三标记信息和第四标记信息将第二点云数据和第三点云数据拼接在一起。
[0014]在一个实施方式中，在S90中：通过将第三标记信息和第四标记信息重合的方式将第二点云数据和第三点云数据拼接在一起。
[0015]在一个实施方式中，在S10：多个既定测量范围包括第四既定测量范围，第四既定测量范围与第二既定测量范围相邻设置，第一既定测量范围和第二既定测量范围位于同一列，第四既定测量范围与第二既定测量范围位于同一行；地坪检测方法还包括：S100：在第二既定测量范围和第四既定测量范围的边界处设置第三靶标；S110：将第二点云数据和第三靶标在第二既定测量范围的第五标记信息相结合；S120：获取第四既定测量范围的第四点云数据，并将第四点云数据和第三靶标在第四既定测量范围的第六标记信息相结合；S130：根据第五标记信息和第六标记信息将第二点云数据和第四点云数据拼接在一起。
[0016]在一个实施方式中，在S10：多个既定测量范围包括第五既定测量范围，第五既定测量范围与第四既定测量范围相邻设置，第五既定测量范围和第四既定测量范围位于同一列，第五既定测量范围与第一既定测量范围位于同一行；地坪检测方法还包括：S140：在第四既定测量范围和第五既定测量范围的边界处设置第四靶标；S150：将第四点云数据和第四靶标在第四既定测量范围的第七标记信息相结合；S160：获取第五既定测量范围的第五
点云数据，并将第五点云数据和第四靶标在第五既定测量范围的第八标记信息相结合；S170：根据第七标记信息和第八标记信息将第四点云数据和第五点云数据拼接在一起。
[0017]在一个实施方式中，在S60中：第二靶标和第一靶标为同一靶标移动至不同位置。
[0018]在一个实施方式中，在S50中，将第一点云数据和第二点云数据拼接为待检测地坪的地坪点云数据。
[0019]为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，程序运行时执行上述的地坪检测方法。
[0020]为了实现上述目的，根据本专利技术的一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地坪检测方法，其特征在于，所述地坪检测方法包括：S10：将待检测地坪划分为多个既定测量范围，所述多个既定测量范围包括第一既定测量范围和第二既定测量范围；S20：在所述第一既定测量范围和所述第二既定测量范围的边界处设置第一靶标；S30：获取所述第一既定测量范围的第一点云数据，并将所述第一点云数据和第一靶标在所述第一既定测量范围的第一标记信息相结合；S40：获取所述第二既定测量范围的第二点云数据，并将所述第二点云数据和第一靶标在所述第二既定测量范围的第二标记信息相结合；S50：根据所述第一标记信息和所述第二标记信息将所述第一点云数据和所述第二点云数据拼接在一起。2.根据权利要求1所述的地坪检测方法，其特征在于，在所述S50中：通过将所述第一标记信息和所述第二标记信息重合的方式将所述第一点云数据和所述第二点云数据拼接在一起。3.根据权利要求1所述的地坪检测方法，其特征在于，在S10：所述多个既定测量范围包括第三既定测量范围，所述第三既定测量范围与所述第二既定测量范围相邻设置，并且与所述第一既定测量范围、所述第二既定测量范围和所述第三既定测量范围位于同一列；所述地坪检测方法还包括：S60：在所述第二既定测量范围和所述第三既定测量范围的边界处设置第二靶标；S70：将所述第二点云数据和第二靶标在所述第二既定测量范围的第三标记信息相结合；S80：获取所述第三既定测量范围的第三点云数据，并将所述第三点云数据和第二靶标在所述第三既定测量范围的第四标记信息相结合；S90：根据所述第三标记信息和所述第四标记信息将所述第二点云数据和所述第三点云数据拼接在一起。4.根据权利要求3所述的地坪检测方法，其特征在于，在所述S90中：通过将所述第三标记信息和所述第四标记信息重合的方式将所述第二点云数据和所述第三点云数据拼接在一起。5.根据权利要求1所述的地坪检测方法，其特征在于，在S10：所述多个既定测量范围包括第四既定测量范围，所述第四既定测量范围与所述第二既定测量范围相邻设置，所述第一既定测量范围和所述第二既定测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵乔，王堃，周浩，王杰，胡伟，
申请(专利权)人：苏州方石科技有限公司，
类型：发明
国别省市：