边缘堆积测量制造技术

技术编号:33019074 阅读:49 留言:0更新日期:2022-04-15 08:51
本发明专利技术涉及一种用于针对正被缠绕的金属涂覆线圈控制涂层厚度均匀性的方法,所述方法包括以下步骤:A)测量第一参考点与线圈表面上的第一点之间的第一距离,B)测量第二参考点与线圈表面上的第二点之间的第二距离,

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】边缘堆积测量
[0001]本专利技术涉及一种方法和设备,用于针对正被缠绕的金属涂覆线圈控制沿着其宽度方向的涂层厚度均匀性。
[0002]如今,钢带通常被各种涂层涂覆以提高其表面特性。通常通过使钢带穿过涂液来完成这些涂层,该涂液附着/粘附至带表面。在离开所述涂液时,使用擦拭装置调整涂层厚度。之后,通常对带进行热处理,并且然后在卷绕站处对带进行卷绕。
[0003]如图1所示,所述擦拭装置1通常包括位于带S的两个面上的气刀2和位于带的侧面上的挡板3。此外,挡板位置极大地影响带边缘上的涂层质量,即边缘上的涂层厚度和均匀性。当未正确设置所述挡板位置时,在带上特别是在边缘上易于形成涂层堆积。在卷绕时,带边缘上的涂层堆积叠加并最终导致线圈4,该线圈4围绕其边缘5的周长比围绕其中心6的周长大,这样的线圈在图2中示出。这对产品质量不利,因为带边缘将被拉伸并且在展开期间将导致波状边缘。在工业上,仅能够接受确定的堆积量,例如仅能够接受沿着线圈宽度的确定的变化周长。超过这个量,波状边缘可能必须被去除并且线圈必须被降级,这在经济上是不好的。
[0004]取决于各种参数例如带宽度、所需涂层厚度、涂层成分、擦拭装置磨损、所用气体的性质和带速度;必须调整诸如挡板位置和擦拭装置位置的擦拭参数以抑制边缘堆积。因此,挡板位置不能被一次性设置而必须定期调整。
[0005]在卷绕站处,沿着宽度方向的涂层厚度均匀性通常由操作员手动控制,这存在若干缺点。第一,存在安全问题,因为操作员在带卷绕处理期间必须靠近移动的带。第二,测量不精确并且取决于操作员。第三,在堆积测量与挡板可以被调整的时间之间存在滞后,因为测量是耗时的并且数据传送不是即时的。
[0006]本专利技术的目的是提供一种解决方案,该解决方案允许优化正被缠绕的线圈的堆积测量并且解决上述问题。
[0007]该目的通过提供根据权利要求1所述的方法来实现。该方法还可以包括权利要求2至12的任何特征。该目的还通过提供根据权利要求13至15所述的设备来实现。
[0008]根据以下对本专利技术的详细描述,其他特征和优点将变得明显。
[0009]为了说明本专利技术,将具体参照以下附图来描述各种实施方式。
[0010]图1示出了正被包括气刀和挡板的擦拭装置擦拭的带。
[0011]图2示出了在其边缘上具有边缘堆积的线圈。
[0012]图3示出了线圈、线圈表面上的三个点以及所述三个点到线圈旋转轴的距离。
[0013]图4示出了包括两个测量距离装置和线圈的本专利技术的实施方式。
[0014]图5示出了线圈表面上的第一点相对于线圈表面上的第二点的四种不同情况。
[0015]图6示出了说明什么是Δ12true的三种不同的情况。
[0016]图7示出了更容易经受涂层堆积的线圈部分的实施方式。
[0017]图8示出了1层线圈(A)与100层线圈(B)之间的堆积差异。
[0018]图9示出了测量装置和线圈的示意图(A)以及沿着线圈宽度的差Δ12true的曲线图(B)。
[0019]图10示出了测量装置和线圈的示意图(A)以及沿着线圈宽度的差Δ12true之和的曲线图(B)。
[0020]图11示出了激光位移传感器的实施方式。
[0021]图12示出了线圈、线圈的旋转轴和线圈的表面上的两个点(A)以及由线圈的表面上的点和线圈的旋转轴形成的角度的投影(B)。
[0022]图13示出了卷绕站的实施方式的两个视图。
[0023]本专利技术涉及一种用于针对正被缠绕的金属涂覆线圈控制涂层厚度均匀性的方法,所述方法包括以下步骤:
[0024]A)测量第一参考点R1与线圈表面上的第一点C1之间的第一距离D1,B)测量第二参考点R2与线圈表面上的第二点C2之间的第二距离D2,

线圈上的所述第一点和所述第二点位于沿着线圈宽度的不同点处,
[0025]C)计算所述第一距离D1与所述第二距离D2之间的差,所述差被标记为Δ12true,
[0026]D)保存所述差Δ12true,
[0027]E)在沿着整个线圈宽度的至少十分之一移动线圈表面上的第一点或第二点中的至少一个时,重复所述步骤A、B、C和D,
[0028]F)限定阈值M,
[0029]G)将每个保存的差Δ12true与所述阈值M进行比较或将差Δ12true之和与所述阈值M进行比较,
[0030]H)当所述差Δ12或所述差Δ12true之和高于所述阈值M时,发出警报。
[0031]对沿着线圈宽度的涂层厚度的控制基于沿着线圈宽度的不同点处的线圈厚度的比较。假设对于针对沿着线圈宽度的确定点的线圈周围任意点,线圈厚度是相同的。这在图3中示出,其中线圈表面上的三个点(7a,7b,7c)及它们到线圈的旋转轴9的距离(8a,8b,8c)被示出并且被假设为在缠绕期间相等。线圈厚度取决于若干参数例如线圈的层数、带厚度和涂层厚度。前两个参数对沿着线圈宽度的线圈厚度的影响被认为是可忽略的。因此,沿着线圈宽度的线圈厚度变化主要取决于沿着线圈宽度的涂层厚度变化。因此,如先前说明的,当擦拭装置未被正确设置时,在钢带的边缘上可能存在比在钢带的中心上更多的涂层,并且在缠绕时形成边缘堆积,导致类似于图2所示的线圈的线圈。例如如果气刀有缺陷,则也可能在沿着带宽度的另一部分处存在更多涂层。
[0032]金属涂覆的线圈可以由具有锌基涂层的钢制成并且可以在卷绕站处被缠绕。
[0033]如图4所示,在第一步骤A中,测量第一参考点R1与线圈表面上的第一点C1之间的距离D1。参考点R1可以近似为测量所述距离D1的第一测量装置M1的末端。因此,距离D1是第一测量装置M1与线圈表面上的点C1之间的距离。
[0034]如图4所示,在第二步骤B中,测量第二参考点R2与线圈表面上的第二点C2之间的距离D2。第二参考点R2可以近似为测量所述距离D2的第二测量装置M2的末端。因此,距离D2是第二测量装置M2与线圈表面上的第二点C2之间的距离。
[0035]第一距离D1和第二距离D2两者优先为它们的参考点与所述线圈之间的最短距离。这样的布置简化了D1和D2的确定以及因此简化了Δ12true的确定。
[0036]线圈上的第一点C1和第二点C2位于沿着线圈宽度的不同点处。在图5中针对四种不同情况示出了线圈、线圈的旋转轴以及第一距离和第二距离,其中,线圈表面可以由宽度
和高度限定,所述高度对应于周长:
[0037]A)C1和C2在沿着线圈高度的相同点上,但在沿着线圈宽度的不同点处
[0038]B)C1和C2在沿着线圈高度的不同点上,但在沿着线圈宽度的不同点处
[0039]C)C1和C2在沿着线圈高度的不同点上,但在沿着线圈宽度的相同点处
[0040]D)C1和C2在沿着线圈高度的相同点上并且在沿着线圈宽度的相同点处,因此它们位于相同的部位上。
[0041]因此,在图5中,只有情况A和情况B对应于所要求保护的方法,因本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于针对正被缠绕的金属涂覆线圈控制涂层厚度均匀性的方法,所述方法包括以下步骤:A)测量第一参考点R1与线圈表面上的第一点C1之间的第一距离D1,B)测量第二参考点R2与所述线圈表面上的第二点C2之间的第二距离D2,

所述线圈上的所述第一点和所述第二点位于沿着线圈宽度的不同部位处,C)计算所述第一距离D1与所述第二距离D2之间的差,所述差被标记为Δ12true,D)保存所述差Δ12true,E)在沿着整个线圈宽度的至少十分之一移动所述线圈表面上的所述第一点或所述第二点中的至少一个时,重复所述步骤A、所述步骤B、所述步骤C和所述步骤D,

限定阈值M,

将每个保存的差Δ12true与所述阈值M进行比较或将差Δ12true之和与所述阈值M进行比较,

当所述差Δ12true或所述差Δ12true之和高于所述阈值M时,发出警报。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一距离D1和所述第二距离D2在0.15m与2.00m之间。3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述步骤A和所述步骤B同时进行。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,使用激光位移传感器完成对所述第一距离D1和所述第二距离D2的所述测量。5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述激光位移传感器发射具有被包括在380nm与500nm之间的波长的光。6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,所述参考点R1和所述参考点R2在距线圈旋转轴相同的距离处。7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其中,所述线圈表面上的所述第一点C1和所述第二点C2沿着线圈宽度W间隔开距离D
C12
:0<D
C12
<0.50W。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其中,所述线圈表面上的所述第一点C1和所述第二点C2在平行于所述线圈旋转轴的轴线上。9.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:大卫
申请(专利权)人:安赛乐米塔尔公司
类型:发明
国别省市:

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