一种双栅π型薄膜晶体管光学感应器及电子设备制造技术

技术编号:33016887 阅读:30 留言:0更新日期:2022-04-15 08:49
本实用新型专利技术公开了一种双栅π型薄膜晶体管光学感应器及电子设备,其中,双栅π型薄膜晶体管光学感应器包括源极、漏极和非晶硅,所述源极和所述漏极间隔设置,所述非晶硅设置在所述源极和所述漏极之间,所述非晶硅的一端与所述源极和漏极之间形成沟道,另一端超出所述源极和所述漏极的端部。本实用新型专利技术设置第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽和第四凹槽,获得纯粹的π结构,并且在凹槽处使用黑色矩阵做避空设计,取得较大的开关比,从而使感应器有较大的对比度,提高了双栅π结构薄膜晶体管光学感应器的电学稳定性。器的电学稳定性。器的电学稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种双栅
π
型薄膜晶体管光学感应器及电子设备


[0001]本技术涉及光学感应器
,尤其涉及一种双栅π型薄膜晶体管光学感应器及电子设备

技术介绍

[0002]光学感应器在工业自动化、工业无损检测、人工智能、医学诊断、消费电子等领域中应用广泛。以薄膜晶体管为基础的光学感应器具有成本低、易于大面积成像的优点。一个薄膜晶体管和一个光敏元件构成一个基本像素单元。为了增大感光面积、提高像素填充比,将薄膜晶体管与光敏元件集成,做成了双栅π型非晶硅薄膜晶体管结构,如图1和图2所示,薄膜晶体管的非晶硅沟道既作为电子通道,同时也用作感光,因此非晶硅10

中间位置较厚,达到数千埃两端只作为电子通道,厚度较薄。
[0003]在2017年已公开的文章(3

D Dual

Gate Photosensitive Thin

Film Transistor ArchitecturesBased on Amorphous Silicon)中,研究者对普通薄膜晶体管结构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双栅π型薄膜晶体管光学感应器,其特征在于,包括源极、漏极和非晶硅,所述源极和所述漏极间隔设置,所述非晶硅设置在所述源极和所述漏极之间,所述非晶硅的一端与所述源极和漏极之间形成沟道,另一端超出所述源极和所述漏极的端部;所述源极与所述非晶硅的连接处设有第一凹槽,所述第一凹槽设置在所述非晶硅的边角处;所述漏极与所述非晶硅的连接处设有第二凹槽,所述第二凹槽设置在所述非晶硅的端部。2.根据权利要求1所述的双栅π型薄膜晶体管光学感应器,其特征在于,所述第二凹槽设置在所述漏极的两侧。3.根据权利要求2所述的双栅π型薄膜晶体管光学感应器,其特征在于,所述第一凹槽内设有第一黑色矩阵,所述第二凹槽内设有第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗志猛李源谢雄才
申请(专利权)人:信利半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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