一种集成式光谱测量与成像探测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成式光谱测量与成像探测装置，其包括成像单元，包括第一镜头和光学传感器，第一镜头在物面区具有第一视域；单点测量单元，包括第二镜头和单点测量探头，第二镜头在物面区具有第二视域；第一视域与第二视域相交形成相交视域，所述单点测量单元的测量位置位于相交视域内。本实用新型专利技术不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度。具有良好的测量精度。具有良好的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种集成式光谱测量与成像探测装置


[0001]本技术公开了一种显示面板成像探测装置，属于显示面板检测
，具体公开了一种集成式光谱测量与成像探测装置。

技术介绍

[0002]随着技术发展，显示面板或发光体的特性评估对产品的特性越来越重要。常见的发光体包括LED、MicroLED、MiniLED、LD等不同类型的显示面板，其组成的产品包括但不限于消费电子产品、手机屏幕、电视显示器等。
[0003]对于这些显示产品，其发光特性的评估对于其产品的质量评价格外重要，而这些质量评价指标中最重要的参数包括发光光谱，以及该显示产品在显示区内，是否存在瑕疵和缺陷。
[0004]当对显示产品进行光谱和缺陷检测时，现有技术中一般采用分立的光谱仪和工业相机成像，该技术方案需要至少两个工位，通过移动机构实现显示面板在两个工位切换，完成分时进行工作。比如，第一时刻在第一工位进行光谱测量，测量完毕后，将产品移动到相机下，基于相机在第二时刻和第二工位对产品进行成像检测；上述技术方案存在以下技术问题：1. 检测系统的复杂度高，即需要两个检测工位完成光谱测量和缺陷检测；2. 检测耗时时间长，特别是当同一个产品需要进行多个不同显示画面的光谱测量和缺陷检测时，需要两倍的时间。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的技术问题，本技术提供了一种集成式光谱测量与成像探测装置，其不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度。
[0006]本技术公开了一种集成式光谱测量与成像探测装置，其包括成像单元，包括第一镜头和光学传感器，第一镜头在物面区具有第一视域；单点测量单元，包括第二镜头和单点测量探头，第二镜头在物面区具有第二视域；第一视域与第二视域相交形成相交视域，所述单点测量单元的测量位置位于相交视域内。
[0007]在本技术的一种优选实施方案中，包括壳体；所述壳体上设置有第一镜头，所述壳体内设置有与所述第一镜头对应的光学传感器；所述壳体上还设置有第二镜头，所述壳体内设置有与所述第二镜头对应的单点测量探头。
[0008]在本技术的一种优选实施方案中，所述单点测量探头在所述第二镜头的像面上偏离所述第二镜头的光轴且远离所述光学传感器设置。
[0009]在本技术的一种优选实施方案中，所述相交视域至少包括所述第一视域的中心点。
[0010]在本技术的一种优选实施方案中，所述单点测量探头位于所述第一视域的中心点相对第二镜头的共轭像点位置。
[0011]在本技术的一种优选实施方案中，待测产品位于所述第一视域内，且部分位于所述相交视域；所述单点测量探头偏离所述第二镜头的光轴，且设置于所述待测产品的中心相对第二镜头的共轭像点位置。
[0012]在本技术的一种优选实施方案中，所述第一镜头的中心轴、所述光学传感器感光面的中心轴和所述待测产品的中心轴三者同轴布置。
[0013]在本技术的一种优选实施方案中，所述第一镜头的焦距与所述第二镜头的焦距相等。
[0014]在本技术的一种优选实施方案中，所述第一镜头的中心轴与所述第二镜头中心轴两者之间的间距可调。
[0015]在本技术的一种优选实施方案中，所述单点测量探头为光谱仪探头或flicker探头或单点标准亮度色度测量部件或高速光电探头。
[0016]本技术的有益效果是：本技术具有结构简单、测量耗时短、光能量利用率高、检测精度好的优点，其通过将成像单元和光谱测量单元集成化，从而能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，同时，本技术通过保证第一镜头的第一视域和第二镜头的第二视域相交形成相交视域，相交视域包括待测产品上的待测点，从而能够有效地保证待测产品的光能源互不干涉的分别透过第一镜头和第二镜头传输至光学传感器和光谱仪，从而避免了低亮度场景下测量精度无法满足的缺陷；
[0017]进一步的，本技术是基于工业相机的改进，其在原有的工业相机上增加光谱测量单元即可，具有成本低、便于制造的优点；
[0018]进一步的，本技术通过保证第一镜头的中心轴、光学传感器的中心轴和待测产品的中心轴三者同轴布置，更利于成像单元成像；
[0019]进一步的，本技术可以根据需要在工业相机上配置多组光谱测量单元，每组多组光谱测量单元包括一个第二镜头和一个光谱仪，使得本技术具有良好的兼容性，适合各种类型显示面板的检测；
[0020]进一步的，本技术可以选用焦距相等或不相等第一镜头和第二镜头，从而使得本技术可以根据不同的环境合理选择不同长度的镜头，避免检测过程中发生本技术与其它装置干涉；
[0021]进一步的，本技术的光谱仪的探头包括光谱仪传感器探头或者高速光电探头或者光强探测器或者强度探测器，提高了本技术的通用性；
[0022]进一步的，本技术的第一镜头的中心轴与第二镜头中心轴两者之间的间距可调，更利于在产品装配阶段的调试。
附图说明
[0023]图1是本技术一种集成式光谱测量与成像探测装置的第一视域示意图；
[0024]图2是本技术一种集成式光谱测量与成像探测装置的第二视域示意图；
[0025]图3是本技术一种集成式光谱测量与成像探测装置的相交视域示意图；
[0026]图中：1
‑
壳体，2
‑
第一镜头，3
‑
光学传感器，4
‑
第二镜头，5
‑
待测产品，6
‑
单点测量探头，7
‑
第一视域，8
‑
第二视域，9
‑
相交视域。
具体实施方式
[0027]下面通过附图以及列举本技术的一些可选实施例的方式，对本技术的技术方案（包括优选技术方案）做进一步的详细描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]如图1
‑
3所示，本技术公开了一种集成式光谱测量与成像探测装置，包括成像单元，成像单元包括第一镜头2和光学传感器3，第一镜头2在物面区具有第一视域7；单点测量单元，单点测量单元包括第二镜头4和单点测量探头6，第二镜头4在物面区具有第二视域8；第一视域7与第二视域8相交形成相交视域9，单点测量单元的测量位置位于相交视域9内。
[0029]优选地，本技术为基于工业相机的改进，其包括壳体1，壳体1上设置有1个第一镜头2，壳体1内设置有1个光学传感器3，1个第一镜头2的布置位置与1个光学传感器3的布置位置相对应；壳体1上设置有1个第二镜头4，壳体1内设置有1个单点测量探头6，1个第二镜头4的布置位置与1个单点测量探头6的布置位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成式光谱测量与成像探测装置，其特征在于：包括成像单元，包括第一镜头（2）和光学传感器（3），第一镜头（2）在物面区具有第一视域（7）；单点测量单元，包括第二镜头（4）和单点测量探头（6），第二镜头（4）在物面区具有第二视域（8）；第一视域（7）与第二视域（8）相交形成相交视域（9），所述单点测量单元的测量位置位于相交视域（9）内。2.根据权利要求1所述的集成式光谱测量与成像探测装置，其特征在于：包括壳体（1）；所述壳体（1）上设置有第一镜头（2），所述壳体（1）内设置有与所述第一镜头（2）对应的光学传感器（3）；所述壳体（1）上还设置有第二镜头（4），所述壳体（1）内设置有与所述第二镜头（4）对应的单点测量探头（6）。3.根据权利要求1或2所述的集成式光谱测量与成像探测装置，其特征在于：所述单点测量探头（6）在所述第二镜头（4）的像面上偏离所述第二镜头（4）的光轴且远离所述光学传感器（3）设置。4.根据权利要求1或2所述的集成式光谱测量与成像探测装置，其特征在于：所述相交视域（9）至少包括所述第一视域（7）的中心点。5.根据权利要求3所述的集成式光...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪志坤，欧昌东，郑增强，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：